AOI雖然具有比人工檢(jian)測(ce)(ce)(ce)更高(gao)的(de)(de)效率，但畢竟是通過圖(tu)(tu)像采集和(he)(he)分(fen)析處(chu)(chu)理來得出結果(guo)，而(er)圖(tu)(tu)像分(fen)析處(chu)(chu)理的(de)(de)相(xiang)關軟件(jian)(jian)技術目前還沒達到人腦的(de)(de)級別，因此，在(zai)實際使(shi)用(yong)中(zhong)的(de)(de)一些特殊情況，AOI的(de)(de)誤(wu)判(pan)、漏(lou)判(pan)在(zai)所難(nan)免。目前AOI使(shi)用(yong)中(zhong)存(cun)(cun)在(zai)的(de)(de)問題有：（1）多錫(xi)、少錫(xi)、偏移、歪斜的(de)(de)工藝要求標(biao)準界定(ding)不(bu)同，容(rong)(rong)易(yi)導(dao)致(zhi)誤(wu)判(pan)。（2）電容(rong)(rong)容(rong)(rong)值(zhi)不(bu)同而(er)規格大小和(he)(he)顏色相(xiang)同，容(rong)(rong)易(yi)引(yin)起(qi)漏(lou)判(pan)。（3）字符處(chu)(chu)理方式不(bu)同，引(yin)起(qi)的(de)(de)極性(xing)判(pan)斷準確性(xing)差異(yi)較(jiao)大。（4）大部分(fen)AOI對虛(xu)焊(han)的(de)(de)理解發生歧(qi)義，造成漏(lou)判(pan)推(tui)諉。（5）存(cun)(cun)在(zai)屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)問題。（6）BGA、FC等倒裝元件(jian)(jian)的(de)(de)焊(han)接質量難(nan)以檢(jian)測(ce)(ce)(ce)。（7）多數AOI編程復(fu)雜、繁瑣且調整時(shi)間長，不(bu)適合科研單(dan)位、小型OEM廠、多規格小批量產品的(de)(de)生產單(dan)位。（8）多數AOI產品檢(jian)測(ce)(ce)(ce)速(su)度較(jiao)慢，有少數采用(yong)掃描方法的(de)(de)AOI速(su)度較(jiao)快，但誤(wu)判(pan)、漏(lou)判(pan)率更高(gao)。AOI在(zai)SMT各工序的(de)(de)應用(yong)在(zai)SMT中(zhong)，AOI主要應用(yong)于焊(han)膏印刷檢(jian)測(ce)(ce)(ce)、元件(jian)(jian)檢(jian)驗、焊(han)后組(zu)件(jian)(jian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)。河源直銷(xiao)SPI檢(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)備價格行(xing)情

2.2解決相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤差(cha)(cha)的(de)(de)新技術(shu)(shu)PMP技術(shu)(shu)中(zhong)另(ling)一個主要的(de)(de)基礎條件(jian)就(jiu)是對(dui)于相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤差(cha)(cha)的(de)(de)控制(zhi)。相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)法(fa)通(tong)過對(dui)投影光柵(zha)(zha)相(xiang)(xiang)(xiang)位場進行移(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)(xiang)來增加若干(gan)常量(liang)相(xiang)(xiang)(xiang)位而得(de)到(dao)多(duo)幅(fu)光柵(zha)(zha)圖來求解相(xiang)(xiang)(xiang)位場。由于多(duo)幅(fu)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖比單幅(fu)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖提供了(le)更(geng)多(duo)的(de)(de)信(xin)息，所以(yi)可以(yi)得(de)到(dao)更(geng)高(gao)精度(du)的(de)(de)結(jie)果(guo)。傳統的(de)(de)方(fang)式都(dou)(dou)依靠機(ji)械(xie)移(yi)(yi)(yi)動來實(shi)現(xian)(xian)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)。為達(da)到(dao)精確的(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)，都(dou)(dou)使(shi)用了(le)比較高(gao)精度(du)的(de)(de)馬達(da)，如通(tong)過陶瓷壓電馬達(da)（PZT），線性(xing)馬達(da)加光柵(zha)(zha)尺等方(fang)式。并通(tong)過大量(liang)的(de)(de)算(suan)法(fa)來減(jian)少相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)的(de)(de)誤差(cha)(cha)。可編程(cheng)結(jie)構光柵(zha)(zha)因(yin)為其正弦光柵(zha)(zha)是通(tong)過軟(ruan)件(jian)編程(cheng)實(shi)現(xian)(xian)的(de)(de)，所以(yi)其在相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)時也是通(tong)過軟(ruan)件(jian)來實(shi)現(xian)(xian)，通(tong)過此種技術(shu)(shu)可以(yi)使(shi)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤差(cha)(cha)趨向于“0”，提高(gao)了(le)量(liang)測(ce)精度(du)。并且(qie)此技術(shu)(shu)不需(xu)要機(ji)械(xie)部件(jian)，減(jian)少了(le)設(she)備(bei)的(de)(de)故障(zhang)幾(ji)率，降低機(ji)械(xie)成本(ben)與維修成本(ben)。廣(guang)東(dong)全自動SPI檢測(ce)設(she)備(bei)技術(shu)(shu)參數(shu)檢測(ce)誤判(pan)的(de)(de)定(ding)義及存(cun)在原困誤判(pan)，歡(huan)迎(ying)了(le)解詳細情(qing)況。

PCBA工(gong)(gong)藝(yi)常(chang)見檢(jian)測(ce)(ce)(ce)設備(bei)ATE檢(jian)測(ce)(ce)(ce)：AutomaticTestEquipment集(ji)成電(dian)(dian)路(lu)(IC)自動測(ce)(ce)(ce)試(shi)機，用于(yu)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)集(ji)成電(dian)(dian)路(lu)功能之完整性，為集(ji)成電(dian)(dian)路(lu)生(sheng)產制造之終流(liu)程(cheng)，以確(que)保集(ji)成電(dian)(dian)路(lu)生(sheng)產制造之品(pin)質。在(zai)(zai)所(suo)有的(de)(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)(qi)件(Device)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制造工(gong)(gong)藝(yi)里(li)面，存在(zai)(zai)著去偽存真的(de)(de)(de)(de)(de)(de)需(xu)要，這(zhe)種(zhong)需(xu)要實際上是(shi)一(yi)個(ge)試(shi)驗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)過程(cheng)。為了實現這(zhe)種(zhong)過程(cheng)，就(jiu)(jiu)(jiu)需(xu)要各(ge)種(zhong)試(shi)驗設備(bei)，這(zhe)類(lei)設備(bei)就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)所(suo)謂的(de)(de)(de)(de)(de)(de)ATE(AutomaticTestEquipment)。這(zhe)里(li)所(suo)說的(de)(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)(qi)件DUT(DeviceUnderTest)，當然(ran)包括IC類(lei)別，此外(wai)，還(huan)包括分立的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)件，器(qi)(qi)件。ATE存在(zai)(zai)于(yu)前道(dao)工(gong)(gong)序(FrontEnd)和后道(dao)工(gong)(gong)序(BackEnd)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)個(ge)環(huan)節(jie)，具體的(de)(de)(de)(de)(de)(de)取決于(yu)工(gong)(gong)藝(yi)(Process)設計(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)要求。在(zai)(zai)元(yuan)器(qi)(qi)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)藝(yi)流(liu)程(cheng)中，根(gen)據工(gong)(gong)藝(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)需(xu)要，存在(zai)(zai)著各(ge)種(zhong)需(xu)要測(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)環(huan)節(jie)。目的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)為了篩選(xuan)殘次(ci)品(pin)，防止進(jin)入下一(yi)道(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)序，減少下一(yi)道(dao)工(gong)(gong)序中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)冗余的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制造費用。這(zhe)些(xie)環(huan)節(jie)需(xu)要通過各(ge)種(zhong)物理(li)(li)(li)參數(shu)來把(ba)握，這(zhe)些(xie)參數(shu)可以是(shi)現實物理(li)(li)(li)世界中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光，電(dian)(dian)，波，力學等各(ge)種(zhong)參量，但是(shi)，目前大多(duo)數(shu)常(chang)見的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)電(dian)(dian)子(zi)信號的(de)(de)(de)(de)(de)(de)居多(duo)。ATE設計(ji)工(gong)(gong)程(cheng)師(shi)們要考慮的(de)(de)(de)(de)(de)(de)較多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，還(huan)是(shi)電(dian)(dian)子(zi)部分的(de)(de)(de)(de)(de)(de)參數(shu)比如，時間，相(xiang)位，電(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)流(liu)，等等基(ji)本的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物理(li)(li)(li)參數(shu)。就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)電(dian)(dian)子(zi)學所(suo)說的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，信號處(chu)理(li)(li)(li)。

結構光柵(zha)型(xing)SPIPMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技(ji)術(shu)是一(yi)(yi)種基于(yu)正弦條紋(wen)投(tou)影和位相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測量(liang)的(de)(de)(de)光學三維面(mian)形測量(liang)技(ji)術(shu)。通過(guo)獲取全場(chang)條紋(wen)的(de)(de)(de)空間信息與(yu)一(yi)(yi)個條紋(wen)周期內相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移條紋(wen)的(de)(de)(de)時序信息，來(lai)完成物體三維信息的(de)(de)(de)重(zhong)建。由(you)于(yu)其具(ju)有全場(chang)性、速度(du)快(kuai)、高(gao)精(jing)度(du)、自(zi)動化程度(du)高(gao)等特點，這種技(ji)術(shu)已(yi)在(zai)(zai)工業檢測、機(ji)器視(shi)覺、逆向(xiang)工程等領域獲得廣(guang)泛應用。目前大部分的(de)(de)(de)在(zai)(zai)線SPI設備(bei)(bei)都已(yi)經升級(ji)到此種技(ji)術(shu)。但是它(ta)采用的(de)(de)(de)離散(san)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移技(ji)術(shu)要(yao)求有精(jing)確的(de)(de)(de)正弦結構光柵(zha)與(yu)精(jing)確的(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移，在(zai)(zai)實際系統中(zhong)(zhong)不可避免(mian)地存在(zai)(zai)著光柵(zha)圖像的(de)(de)(de)非正弦化，相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移誤(wu)差與(yu)隨機(ji)誤(wu)差，它(ta)將導致(zhi)計算位相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和重(zhong)建面(mian)形的(de)(de)(de)誤(wu)差。雖然已(yi)經出現了不少算法能降低線性相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移誤(wu)差，但要(yao)解決(jue)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移過(guo)程中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)隨機(ji)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移誤(wu)差問題，還存在(zai)(zai)一(yi)(yi)定的(de)(de)(de)困難。AOI檢測設備(bei)(bei)的(de)(de)(de)作用有哪些呢(ni)？

AOI的(de)(de)(de)發展需(xu)求(qiu)(qiu)集成(cheng)電(dian)路(lu)（IC）當然是現今(jin)人(ren)類工(gong)業制(zhi)(zhi)造出來結構(gou)較為(wei)(wei)精(jing)(jing)細的(de)(de)(de)人(ren)造物(wu)之一(yi)，而除了以IC為(wei)(wei)主的(de)(de)(de)半導(dao)體制(zhi)(zhi)造業，AOI亦在其他領域有很重要的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)需(xu)求(qiu)(qiu)。①微型(xing)(xing)元件(jian)或結構(gou)的(de)(de)(de)形(xing)貌以及關鍵尺寸(cun)量測(ce)，典(dian)型(xing)(xing)應用(yong)就(jiu)是集成(cheng)電(dian)路(lu)、芯片(pian)的(de)(de)(de)制(zhi)(zhi)造、封裝等，既需(xu)要高(gao)精(jing)(jing)度(du)(du)又(you)需(xu)要高(gao)效率(lv)的(de)(de)(de)大量檢(jian)測(ce)②精(jing)(jing)密零(ling)件(jian)與制(zhi)(zhi)程(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)精(jing)(jing)密加工(gong)與檢(jian)測(ce)，典(dian)型(xing)(xing)應用(yong)就(jiu)是針對工(gong)具機、航(hang)空航(hang)天器(qi)等高(gao)精(jing)(jing)度(du)(du)機械零(ling)件(jian)進(jin)行相關的(de)(de)(de)粗糙度(du)(du)、表面形(xing)狀(zhuang)等的(de)(de)(de)量測(ce)，具有高(gao)精(jing)(jing)度(du)(du)、量測(ce)條件(jian)多(duo)(duo)變等特(te)點③生(sheng)物(wu)醫學(xue)檢(jian)測(ce)應用(yong)，典(dian)型(xing)(xing)應用(yong)就(jiu)是各式光(guang)學(xue)顯(xian)微鏡(jing)，結合相關程(cheng)(cheng)序(xu)編程(cheng)(cheng)、AI即可輔(fu)助(zhu)判(pan)斷相關的(de)(de)(de)生(sheng)物(wu)、醫學(xue)信息判(pan)斷。④光(guang)學(xue)鏡(jing)頭(tou)或其他光(guang)學(xue)元件(jian)的(de)(de)(de)像差檢(jian)測(ce)解決相移誤(wu)差的(de)(de)(de)新(xin)技術——PMP技術介(jie)紹。茂名多(duo)(duo)功能SPI檢(jian)測(ce)設(she)備維保

素材查(cha)看 SMT錫膏的(de)印刷是SMT制(zhi)程(cheng)中首道工序也是SMT生產工藝(yi)的(de)重要環節(jie)，錫膏印刷質(zhi)量直(zhi)接影響焊接質(zhi)量。河源直(zhi)銷SPI檢測設備價(jia)格行情

在(zai)(zai)線(xian)SPI設備(bei)在(zai)(zai)實(shi)際應(ying)用(yong)中(zhong)出(chu)現的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)(yi)些問題目前(qian)(qian)大(da)部(bu)分(fen)的(de)(de)(de)(de)(de)SMT工(gong)(gong)廠都(dou)已經(jing)開始(shi)導入(ru)在(zai)(zai)線(xian)SPI設備(bei)，但是(shi)在(zai)(zai)實(shi)際使用(yong)過(guo)(guo)程中(zhong)，效果也(ye)因(yin)各(ge)廠對其重視(shi)程度而(er)大(da)不(bu)(bu)一(yi)(yi)樣。究(jiu)其原因(yin)主要有幾下幾點：品(pin)質重視(shi)不(bu)(bu)夠(gou)目前(qian)(qian)大(da)部(bu)分(fen)的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)廠（特(te)別是(shi)代工(gong)(gong)廠）在(zai)(zai)產(chan)(chan)能的(de)(de)(de)(de)(de)管控(kong)上(shang)都(dou)非常的(de)(de)(de)(de)(de)嚴格(ge)。但是(shi)往(wang)往(wang)對品(pin)質方面重視(shi)不(bu)(bu)夠(gou)。當錫(xi)膏不(bu)(bu)能達到(dao)(dao)SPI設備(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)管控(kong)范(fan)圍(wei)(wei)時(shi)(shi)，SPI一(yi)(yi)直會(hui)報(bao)警，沒有及(ji)時(shi)(shi)處理的(de)(de)(de)(de)(de)話會(hui)嚴重影響(xiang)產(chan)(chan)能。所以只要產(chan)(chan)線(xian)不(bu)(bu)出(chu)什(shen)么大(da)問題。都(dou)會(hui)把(ba)SPI的(de)(de)(de)(de)(de)管控(kong)參數(shu)范(fan)圍(wei)(wei)設大(da)，提(ti)高一(yi)(yi)次(ci)通(tong)過(guo)(guo)率(lv)，但是(shi)這樣往(wang)往(wang)也(ye)會(hui)把(ba)真實(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)流(liu)到(dao)(dao)下一(yi)(yi)制程，提(ti)高維修成本。目前(qian)(qian)有的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)廠已經(jing)在(zai)(zai)SPI后端接(jie)一(yi)(yi)個(ge)收板(ban)箱，當SPI測試OK的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)候(hou)直接(jie)流(liu)入(ru)下一(yi)(yi)工(gong)(gong)序，Fail的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)候(hou)會(hui)停(ting)留(liu)在(zai)(zai)收板(ban)箱里面。等(deng)(deng)作業人員(yuan)來確認當前(qian)(qian)電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)點位(wei)是(shi)否OK。一(yi)(yi)般SPI可以查詢十片電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)信息，如不(bu)(bu)良(liang)(liang)點位(wei)，不(bu)(bu)良(liang)(liang)圖片等(deng)(deng)。也(ye)有的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)廠已經(jing)開始(shi)把(ba)SPI與AOI相連接(jie)，通(tong)過(guo)(guo)AOI測試到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)反饋給SPI來合理的(de)(de)(de)(de)(de)設定(ding)測試范(fan)圍(wei)(wei)與參數(shu)，來提(ti)高一(yi)(yi)次(ci)通(tong)過(guo)(guo)率(lv)，減少不(bu)(bu)良(liang)(liang)流(liu)入(ru)下一(yi)(yi)工(gong)(gong)序。河源直銷(xiao)SPI檢測設備(bei)價格(ge)行情(qing)

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