隨(sui)著工業快速的(de)發展，對(dui)精(jing)(jing)(jing)密測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)技(ji)術的(de)要(yao)求越來越高(gao)，位(wei)移(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)技(ji)術作為幾何量(liang)(liang)精(jing)(jing)(jing)密測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)基礎，不(bu)僅需要(yao)超高(gao)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)精(jing)(jing)(jing)度(du)(du)(du)，而且需要(yao)對(dui)環境和(he)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)大量(liang)(liang)適(shi)(shi)應(ying)性(xing)(xing)，并且逐(zhu)步(bu)趨于(yu)(yu)(yu)實時(shi)、無損(sun)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)。與傳統接觸式(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方法相比，光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)位(wei)移(yi)(yi)傳感(gan)器(qi)(qi)具(ju)有(you)高(gao)速度(du)(du)(du)，高(gao)精(jing)(jing)(jing)度(du)(du)(du)，高(gao)適(shi)(shi)應(ying)性(xing)(xing)等明顯(xian)優勢。本文(wen)通(tong)過對(dui)光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)(qi)應(ying)用(yong)(yong)場景的(de)分析，有(you)助于(yu)(yu)(yu)廣大讀者進(jin)一(yi)步(bu)加深(shen)對(dui)光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)(qi)技(ji)術的(de)理解。得益于(yu)(yu)(yu)納米級精(jing)(jing)(jing)度(du)(du)(du)及超好的(de)角度(du)(du)(du)特(te)性(xing)(xing)，光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)位(wei)移(yi)(yi)傳感(gan)器(qi)(qi)可用(yong)(yong)于(yu)(yu)(yu)對(dui)表面(mian)粗(cu)(cu)糙度(du)(du)(du)進(jin)行(xing)高(gao)精(jing)(jing)(jing)度(du)(du)(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。相對(dui)于(yu)(yu)(yu)傳統的(de)接觸式(shi)(shi)粗(cu)(cu)糙度(du)(du)(du)儀，光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)位(wei)移(yi)(yi)傳感(gan)器(qi)(qi)以更(geng)高(gao)的(de)速度(du)(du)(du)采(cai)集粗(cu)(cu)糙度(du)(du)(du)輪廓(kuo)，并且對(dui)產品表面(mian)無任何損(sun)傷。光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)技(ji)術在材(cai)(cai)料(liao)(liao)科學領域可以用(yong)(yong)于(yu)(yu)(yu)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表面(mian)和(he)內(nei)部的(de)成(cheng)像和(he)分析。宿州光(guang)譜(pu)共焦(jiao)(jiao)的(de)用(yong)(yong)途(tu)和(he)特(te)點

精密幾何量(liang)計量(liang)測(ce)(ce)試中光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)應用十分(fen)重(zhong)要，其(qi)(qi)能(neng)夠(gou)讓(rang)光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)應用效率得到(dao)提(ti)升。在進(jin)行(xing)應用的(de)(de)(de)(de)過(guo)程中，其(qi)(qi)首(shou)先需要對(dui)光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)原理進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)，然后對(dui)其(qi)(qi)計量(liang)的(de)(de)(de)(de)傳感(gan)器進(jin)行(xing)綜合性的(de)(de)(de)(de)應用。從(cong)而獲(huo)取較(jiao)為準確的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)數據。讓(rang)光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)應用效果發(fa)(fa)揮出(chu)來(lai)。光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)位移傳感(gan)器的(de)(de)(de)(de)工作原理就是使(shi)用寬(kuan)譜(pu)(pu)光(guang)源照射(she)到(dao)被測(ce)(ce)物(wu)體的(de)(de)(de)(de)表(biao)面，再通(tong)過(guo)光(guang)譜(pu)(pu)儀(yi)探(tan)測(ce)(ce)反(fan)射(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)光(guang)譜(pu)(pu)，光(guang)源發(fa)(fa)出(chu)的(de)(de)(de)(de)具有(you)寬(kuan)光(guang)諾(nuo)的(de)(de)(de)(de)復(fu)色光(guang) 近似為點光(guang)源。在未來(lai)，光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)將繼續發(fa)(fa)展，為更多(duo)(duo)領域帶(dai)來(lai)創新(xin)和改善(shan)。通(tong)過(guo)不斷的(de)(de)(de)(de)研究和應用，我們可以(yi)期待看到(dao)更多(duo)(duo)令人(ren)振奮的(de)(de)(de)(de)成(cheng)果，使(shi)光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)成(cheng)為科(ke)學和工程領域的(de)(de)(de)(de)不可或缺(que)的(de)(de)(de)(de)一部分(fen)，為測(ce)(ce)量(liang)和測(ce)(ce)試提(ti)供(gong)更多(duo)(duo)可能(neng)性。昌平區有(you)哪些光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)光(guang)譜(pu)(pu)共(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)(shu)具有(you)軸向按(an)層分(fen)析(xi)功能(neng)，精度可以(yi)達(da)到(dao)納米(mi)級別。

在(zai)塑(su)料薄(bo)膜(mo)及(ji)透(tou)明(ming)材料薄(bo)厚(hou)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)層(ceng)面(mian)，朱萬彬等(deng)(deng)闡述(shu)了(le)(le)光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)在(zai)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)全(quan)透(tou)明(ming)平(ping)(ping)板電腦的(de)平(ping)(ping)整(zheng)度(du)時，由(you)全(quan)透(tou)明(ming)平(ping)(ping)板電腦的(de)折光(guang)(guang)率不(bu)同(tong)而(er)引進(jin)(jin)的(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)誤(wu)(wu)差并(bing)進(jin)(jin)行(xing)補償；曹太(tai)騰(teng)等(deng)(deng)基千(qian)三維數據(ju) 測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)機器(qi)視(shi)覺技術，利用(yong)光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)對透(tou)明(ming)材料薄(bo)厚(hou)及(ji)弧形玻(bo)璃曲面(mian)薄(bo)厚(hou)進(jin)(jin)行(xing)檢測(ce)。在(zai)外(wai)表(biao)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)(cao)度(du)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)層(ceng)面(mian)，沈(shen)雪琴等(deng)(deng)闡述(shu)了(le)(le)不(bu)一樣 方(fang)式測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)外(wai)表(biao)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)(cao)度(du)時優缺點(dian) ，選(xuan)擇(ze)了(le)(le)根據(ju)光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)的(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)式并(bing)進(jin)(jin)行(xing)了(le)(le)有(you)關試(shi)驗，為外(wai)表(biao)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)(cao)度(du)的(de)高精密(mi)測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)提供了(le)(le)一種新方(fang)法；林杰(jie)俊等(deng)(deng)利用(yong)光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)法測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)外(wai)表(biao)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)(cao)度(du)樣塊的(de)表(biao)面(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)(cao)度(du)，并(bing)闡述(shu)了(le)(le)其 測(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)不(bu)確(que)定度(du)。文中(zhong)利用(yong)小二乘(cheng)法測(ce)算(suan)(suan)校(xiao)準(zhun)(zhun)誤(wu)(wu)差并(bing)進(jin)(jin)行(xing)了(le)(le)離散系統誤(wu)(wu)差測(ce)算(suan)(suan)，減(jian)少光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)校(xiao)準(zhun)(zhun)后的(de)誤(wu)(wu)差，并(bing)在(zai)不(bu)同(tong)精密(mi)度(du)標準(zhun)(zhun)器(qi)下，探(tan)尋光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)的(de)校(xiao)準(zhun)(zhun)誤(wu)(wu)差的(de)變化(hua)情況，對今后對光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)(gong)(gong)(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)傳感(gan)器(qi)的(de)應用(yong)及(ji)科學研究擁有(you)重要意義。

光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)由(you)于其(qi)具有(you)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)精度高(gao)、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)速度快(kuai)(kuai)、可以實現非(fei)接觸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)獨特優勢而被大(da)(da)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)應(ying)用于工(gong)業級測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)。讓(rang)我們先來(lai)(lai)(lai)看一下光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)起源和光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)在精密幾(ji)何量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)計(ji)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試中的(de)(de)(de)成(cheng)熟典型(xing)應(ying)用。共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)術(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)概(gai)念首(shou)先是(shi)由(you)美國(guo)的(de)(de)(de) Minsky 于 1955年(nian)(nian)(nian)提出, 其(qi)利用共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)原理搭建臺共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)鏡, 并于1957年(nian)(nian)(nian)申請了專(zhuan)利。自20世紀90年(nian)(nian)(nian)代, 隨著計(ji)算機技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)飛速發展(zhan), 共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)術(shu)(shu)(shu)成(cheng)了研究(jiu)的(de)(de)(de)熱(re)(re)點，得到快(kuai)(kuai)速的(de)(de)(de)發展(zhan)。光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)是(shi)在共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)術(shu)(shu)(shu)基礎上發展(zhan)而來(lai)(lai)(lai),其(qi)無需(xu)軸向掃描, 直接由(you)波長對(dui)應(ying)軸向距離信(xin)息, 從而大(da)(da)幅提高(gao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)速度。 而基于光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)傳(chuan)感(gan)(gan)器是(shi)近年(nian)(nian)(nian)來(lai)(lai)(lai)出現的(de)(de)(de)一種(zhong)高(gao)精度、 非(fei)接觸式的(de)(de)(de)新型(xing)傳(chuan)感(gan)(gan)器, 目前(qian)精度上可達(da)nm量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)級。 共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)術(shu)(shu)(shu)由(you)于其(qi)高(gao)精度、允許被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)表面(mian)有(you)更大(da)(da)的(de)(de)(de)傾斜角、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)速度快(kuai)(kuai)、實時(shi)性高(gao)、對(dui)被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)表面(mian)狀況(kuang)要(yao)求(qiu)低(di)、以及高(gao)分辨率的(de)(de)(de)獨特優勢，迅速成(cheng)為工(gong)業測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)熱(re)(re)門傳(chuan)感(gan)(gan)器，在生物醫學(xue)(xue)、材料科學(xue)(xue)、半導(dao)體制造、 表面(mian)工(gong)程研究(jiu)、 精密測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)等領域得到大(da)(da)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)應(ying)用。光(guang)譜(pu)共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)技(ji)(ji)(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)主(zhu)要(yao)來(lai)(lai)(lai)自共(gong)焦(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)術(shu)(shu)(shu)，早期(qi)由(you)美國(guo)學(xue)(xue)者Minsky提出。

隨著機械(xie)加工水(shui)平的(de)(de)不斷(duan)發(fa)展(zhan)，各種(zhong)的(de)(de)微小的(de)(de)復雜工件都需(xu)要進(jin)行(xing)(xing)(xing)精(jing)(jing)(jing)密(mi)尺寸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)與輪(lun)(lun)廓(kuo)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，例如：小工件內(nei)壁溝(gou)槽尺寸、小圓倒(dao)角(jiao)等的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，對(dui)(dui)于某些(xie)精(jing)(jing)(jing)密(mi)光(guang)(guang)學元件可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)(xing)(xing)非接(jie)(jie)觸的(de)(de)輪(lun)(lun)廓(kuo)形貌測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，避免(mian)在(zai)(zai)接(jie)(jie)觸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)劃(hua)傷(shang)光(guang)(guang)學表面，解決了傳(chuan)統傳(chuan)感器很難解決的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)難題(ti)。一些(xie)精(jing)(jing)(jing)密(mi)光(guang)(guang)學元件也需(xu)要進(jin)行(xing)(xing)(xing)非接(jie)(jie)觸的(de)(de)輪(lun)(lun)廓(kuo)形貌測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，以(yi)避免(mian)接(jie)(jie)觸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)劃(hua)傷(shang)光(guang)(guang)學表面。這些(xie)用傳(chuan)統傳(chuan)感器難以(yi)解決的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)難題(ti)，均可(ke)用光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)焦傳(chuan)感器搭建測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)系統以(yi)解決。通過(guo)(guo)自行(xing)(xing)(xing)塔建的(de)(de)二(er)維納米測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)定位裝置，選用光(guang)(guang)譜(pu)其焦傳(chuan)感器作為測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭，實(shi)現(xian)(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)超精(jing)(jing)(jing)密(mi)零件的(de)(de)二(er)維尺寸，滾(gun)針對(dui)(dui)渦輪(lun)(lun)盤輪(lun)(lun)廓(kuo)度檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)問題(ti)，利用光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)焦式(shi)位移(yi)(yi)傳(chuan)感器使得渦輪(lun)(lun)盤輪(lun)(lun)廓(kuo)度在(zai)(zai)線(xian)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系統的(de)(de)設(she)計能夠得以(yi)實(shi)現(xian)(xian)。與此同時(shi)(shi)，在(zai)(zai)進(jin)行(xing)(xing)(xing)幾(ji)(ji)何量(liang)(liang)的(de)(de)整體(ti)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)過(guo)(guo)程中，還需(xu)要采(cai)取多(duo)種(zhong)不同的(de)(de)方式(shi)對(dui)(dui)其結(jie)構體(ti)系進(jin)行(xing)(xing)(xing)優化。從而(er)讓(rang)幾(ji)(ji)何尺寸的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)更(geng)為準(zhun)確。光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)焦位移(yi)(yi)傳(chuan)感器可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)(xian)非接(jie)(jie)觸式(shi)位移(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。豐臺(tai)區光(guang)(guang)譜(pu)共(gong)(gong)焦廠家

光譜共焦技術可以對生物和(he)(he)材料的(de)物理(li)、化學、生物學等多個方面進行(xing)分析(xi)。宿州光譜共焦的(de)用(yong)途(tu)和(he)(he)特(te)點

共(gong)焦(jiao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法由于(yu)具(ju)有高精(jing)(jing)度(du)(du)的(de)(de)(de)三維(wei)成像(xiang)能力，已經大量(liang)(liang)(liang)(liang)用于(yu)表(biao)面(mian)(mian)輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)與三維(wei)精(jing)(jing)細結(jie)構的(de)(de)(de)精(jing)(jing)密(mi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。本文通過分析(xi)白(bai)光(guang)共(gong)焦(jiao)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)的(de)(de)(de)基(ji)本原理，建立了透明靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)內表(biao)面(mian)(mian)圓(yuan)周輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)校準(zhun)模型(xing);同時，基(ji)于(yu)白(bai)光(guang)共(gong)焦(jiao)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)并(bing)結(jie)合精(jing)(jing)密(mi)旋轉軸(zhou)系(xi)，建立了靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)內表(biao)面(mian)(mian)圓(yuan)周輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)精(jing)(jing)密(mi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)系(xi)統(tong)和(he)靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)圓(yuan)心(xin)精(jing)(jing)密(mi)定位(wei)方(fang)法，實(shi)現了透明靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)內、外表(biao)面(mian)(mian)圓(yuan)周輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)的(de)(de)(de)納(na)米(mi)級精(jing)(jing)度(du)(du)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。用白(bai)光(guang)共(gong)焦(jiao)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)殼(ke)層內表(biao)面(mian)(mian)輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)數(shu)據時，其測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)結(jie)果(guo)與白(bai)光(guang)共(gong)焦(jiao)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)傳(chuan)感器光(guang)線的(de)(de)(de)入射角、靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)殼(ke)層厚(hou)度(du)(du)、殼(ke)層材料折射率(lv)、靶(ba)丸(wan)(wan)(wan)內外表(biao)面(mian)(mian)輪(lun)(lun)廓(kuo)(kuo)的(de)(de)(de)直接測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)數(shu)據等(deng)因素緊密(mi)相(xiang)關。宿州光(guang)譜(pu)(pu)(pu)共(gong)焦(jiao)的(de)(de)(de)用途(tu)和(he)特點(dian)

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