ICT測(ce)(ce)(ce)試原理：1）電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試：電(dian)阻是(shi)(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試其(qi)阻值。其(qi)工作原理很(hen)簡(jian)單，就是(shi)(shi)(shi)(shi)在(zai)電(dian)阻的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試針上加一個電(dian)流(liu)，然后測(ce)(ce)(ce)試這個電(dian)阻兩(liang)端的(de)(de)電(dian)壓(ya)，利用(yong)歐姆定(ding)律(lv)：R=U/I算出(chu)該電(dian)阻的(de)(de)阻值。2)電(dian)容(rong)測(ce)(ce)(ce)試：測(ce)(ce)(ce)試電(dian)容(rong)是(shi)(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)量其(qi)容(rong)量。小電(dian)容(rong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法與電(dian)阻類似，不(bu)過是(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)交流(liu)信(xin)號，利用(yong)XC=U/I同時(shi)，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是(shi)(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試頻率，U、I是(shi)(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試信(xin)號的(de)(de)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流(liu)有效值。大容(rong)量的(de)(de)電(dian)容(rong)測(ce)(ce)(ce)試用(yong)DC方(fang)法，即用(yong)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)加在(zai)電(dian)容(rong)兩(liang)端，充電(dian)流(liu)隨時(shi)間(jian)(jian)或指(zhi)數減少的(de)(de)規律(lv)，在(zai)測(ce)(ce)(ce)試時(shi)加一定(ding)的(de)(de)延(yan)時(shi)時(shi)間(jian)(jian)就可測(ce)(ce)(ce)出(chu)其(qi)容(rong)量。ICT能夠先期找出(chu)制程不(bu)良(liang)所在(zai)如線(xian)路短路、斷路、組件(jian)(jian)漏件(jian)(jian)、反向、錯件(jian)(jian)、空焊(han)等不(bu)良(liang)問題。金華在(zai)線(xian)ICT測(ce)(ce)(ce)試治(zhi)具哪家(jia)好(hao)

導(dao)致檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)值偏差的(de)原因有哪(na)些(xie)？1、首先產生比(bi)較大(da)的(de)偏差情(qing)況，我們首先要(yao)檢查一下測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)器(qi)(qi)件，很有可能(neng)是測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)器(qi)(qi)件壞掉(diao)了。2、還有可能(neng)是測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)針壞掉(diao)，主要(yao)是看與該針相連的(de)器(qi)(qi)件是否都(dou)超差比(bi)較大(da)。3、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)點上有松香等絕(jue)緣(yuan)物品(pin)，這些(xie)物品(pin)的(de)存(cun)在也(ye)會(hui)導(dao)致檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)結(jie)果(guo)出現偏差。4、PCB上銅箔斷裂，治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)值偏差超差比(bi)較大(da)，或ViaHol與銅箔之間Open。5、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)上有錯件、漏件、反(fan)裝等現象也(ye)會(hui)導(dao)致檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結(jie)果(guo)出現偏差。6、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)上器(qi)(qi)件焊接觸不(bu)良的(de)情(qing)況會(hui)有可能(neng)使得檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結(jie)果(guo)有偏差。無錫ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀器(qi)(qi)品(pin)牌在ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)使用時也(ye)能(neng)方便的(de)進行相應調整，提高了操作的(de)便利性。

關于(yu)(yu)(yu)(yu)PCBA制作ICT治(zhi)具的(de)(de)注意事項，附A、測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)置考(kao)慮順序(xu)（每(mei)一(yi)銅箔不(bu)論(lun)形狀如，至(zhi)少(shao)需要一(yi)個可測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)）：1、ACI插(cha)件(jian)零件(jian)腳優先考(kao)慮為測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。2、銅箔露銅部份(測(ce)(ce)試(shi)(shi)PAD)，較(jiao)(jiao)好(hao)能上(shang)錫。3、立式零件(jian)插(cha)件(jian)腳。4、ThroughHole不(bu)可有Mask。附B、測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)直徑(jing)：1、1mm以(yi)(yi)上(shang)，以(yi)(yi)一(yi)般(ban)探針(zhen)(zhen)可達(da)到較(jiao)(jiao)佳測(ce)(ce)試(shi)(shi)效(xiao)果。2、1mm以(yi)(yi)下，則須(xu)(xu)用較(jiao)(jiao)精密探針(zhen)(zhen)增(zeng)加制造成本。3、點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)與點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)間的(de)(de)間距較(jiao)(jiao)好(hao)大于(yu)(yu)(yu)(yu)2mm(中心(xin)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)對中心(xin)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian))。附C、雙面(mian)PCB的(de)(de)要求（以(yi)(yi)能做(zuo)成單面(mian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)為考(kao)慮重(zhong)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)）：1、SMD面(mian)走線較(jiao)(jiao)少(shao)須(xu)(xu)有1throughhole貫穿至(zhi)dip面(mian)作為測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，由dip面(mian)進(jin)行測(ce)(ce)試(shi)(shi)。2、若throughhole須(xu)(xu)mask時，則須(xu)(xu)考(kao)慮于(yu)(yu)(yu)(yu)throughhole旁lay測(ce)(ce)試(shi)(shi)pad。3、若無法做(zuo)成單面(mian)，則以(yi)(yi)雙面(mian)治(zhi)具方(fang)式制作。4、空腳在可允許的(de)(de)范圍內，應考(kao)慮可測(ce)(ce)試(shi)(shi)性，無測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)時，則須(xu)(xu)拉點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。5、BackUpBattery較(jiao)(jiao)好(hao)有Jumper，于(yu)(yu)(yu)(yu)ICT測(ce)(ce)試(shi)(shi)時，能有效(xiao)隔離電路(lu)。

ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治具(ju)(ju)的(de)(de)(de)應(ying)用：從(cong)目前(qian)(qian)應(ying)用情況(kuang)來(lai)看(kan)，采用兩種或以(yi)(yi)上技(ji)(ji)術(shu)相結(jie)合(he)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)策略正成(cheng)為發(fa)展(zhan)趨(qu)勢。因為每一(yi)(yi)種技(ji)(ji)術(shu)都補償另一(yi)(yi)技(ji)(ji)術(shu)的(de)(de)(de)缺(que)點(dian)：從(cong)將AXI技(ji)(ji)術(shu)和(he)ICT技(ji)(ji)術(shu)結(jie)合(he)起來(lai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)情況(kuang)來(lai)看(kan)，一(yi)(yi)方(fang)(fang)面(mian)，X射線(xian)主要集中在焊點(dian)的(de)(de)(de)質量(liang)(liang)。它可(ke)確(que)認元(yuan)件(jian)是否(fou)存(cun)在，但(dan)不(bu)能(neng)(neng)確(que)認元(yuan)件(jian)是否(fou)正確(que)，方(fang)(fang)向和(he)數(shu)值是否(fou)正確(que)。另一(yi)(yi)方(fang)(fang)面(mian)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治具(ju)(ju)可(ke)決(jue)定(ding)元(yuan)件(jian)的(de)(de)(de)方(fang)(fang)向和(he)數(shu)值但(dan)不(bu)能(neng)(neng)決(jue)定(ding)焊接(jie)點(dian)是否(fou)可(ke)接(jie)受，特別是焊點(dian)在封裝(zhuang)體底部的(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)，如BGA、CSP等。隨著AXI技(ji)(ji)術(shu)的(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)，目前(qian)(qian)AXI系統和(he)ICT系統可(ke)以(yi)(yi)“互相對話”，這(zhe)種被稱(cheng)為“AwareTest”的(de)(de)(de)技(ji)(ji)術(shu)能(neng)(neng)消除兩者(zhe)之間(jian)(jian)的(de)(de)(de)重(zhong)復測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)部分。通過減(jian)(jian)小(xiao)ICT/AXI多余的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)覆(fu)蓋面(mian)可(ke)有效減(jian)(jian)小(xiao)ICT的(de)(de)(de)接(jie)點(dian)數(shu)量(liang)(liang)。這(zhe)種簡化(hua)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治具(ju)(ju)只需(xu)原來(lai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)接(jie)點(dian)數(shu)的(de)(de)(de)30%就可(ke)以(yi)(yi)保持目前(qian)(qian)的(de)(de)(de)高測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)覆(fu)蓋范(fan)圍，而減(jian)(jian)少ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)接(jie)點(dian)數(shu)可(ke)縮短(duan)ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時間(jian)(jian)、加(jia)快ICT編程并(bing)降低ICT夾具(ju)(ju)和(he)編程費(fei)用。ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治具(ju)(ju)在使(shi)用時，所述測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)機構(gou)的(de)(de)(de)若干探針是與(yu)現(xian)有的(de)(de)(de)ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀相連接(jie)的(de)(de)(de)。

當(dang)測(ce)試(shi)(shi)員把ICT治(zhi)(zhi)具裝好后,發現測(ce)試(shi)(shi)不良(liang)(liang)連(lian)續(xu)2PCS以上(shang)應該(gai)怎么做(zuo)？線路(lu)不良(liang)(liang)：1、ICT治(zhi)(zhi)具護板(ban)上(shang)以及(ji)(ji)各(ge)探針(zhen)(zhen)(zhen)之間是否(fou)有(you)錫渣，銅絲等。應及(ji)(ji)時(shi)(shi)清理(li)好；2、ICT治(zhi)(zhi)具底部針(zhen)(zhen)(zhen)套(tao)是否(fou)有(you)被壓斷（出現開(kai)路(lu)不良(liang)(liang)）壓彎倒一(yi)起(qi)（出現短路(lu)不良(liang)(liang)）；3、若是相(xiang)鄰(lin)兩點(dian)短路(lu)不良(liang)(liang)，檢查針(zhen)(zhen)(zhen)點(dian)是否(fou)變(bian)形(xing)或靠在一(yi)起(qi)，見意(yi)換(huan)(huan)成小(xiao)尖針(zhen)(zhen)(zhen)。開(kai)路(lu)不良(liang)(liang)：1、算出相(xiang)應針(zhen)(zhen)(zhen)點(dian)的排插序號（用(yong)開(kai)路(lu)針(zhen)(zhen)(zhen)點(dian)號除以32，有(you)小(xiao)數點(dian)都進(jin)(jin)1位，如100/32=3。125就是第四號排線。）重新插好。多次插拔仍開(kai)路(lu)，則(ze)用(yong)ICT探針(zhen)(zhen)(zhen)筆測(ce)試(shi)(shi)其排插是否(fou)為(wei)良(liang)(liang)品(pin),如不良(liang)(liang)排線進(jin)(jin)行更換(huan)(huan)；2、檢查其針(zhen)(zhen)(zhen)點(dian)表(biao)面(mian)是否(fou)有(you)異(yi)物，探針(zhen)(zhen)(zhen)是否(fou)完全陷下去，已失去彈性(xing)等，應及(ji)(ji)時(shi)(shi)更換(huan)(huan)探針(zhen)(zhen)(zhen)。PS：如果以上(shang)問(wen)題沒有(you)能(neng)夠及(ji)(ji)時(shi)(shi)解決，請盡快找(zhao)ICT工程師(shi)進(jin)(jin)行處理(li)。測(ce)試(shi)(shi)員不能(neng)擅自改動ICT測(ce)試(shi)(shi)程式。ICT治(zhi)(zhi)具的優點(dian)：ICT可以準確檢查，因而質量及(ji)(ji)穩定性(xing)也很大提高(gao)。合肥ICT治(zhi)(zhi)具哪家好

ICT測試(shi)治具檢驗標(biao)準：綜合檢查外觀,包裝及標(biao)示是否到位,是否正(zheng)確,明顯。金華(hua)在線ICT測試(shi)治具哪家(jia)好

ICT測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)(ju)能(neng)(neng)夠(gou)全(quan)檢(jian)出的零(ling)(ling)件(jian)有(you)哪(na)些?ICT測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)(ju)能(neng)(neng)夠(gou)在短短的數(shu)秒鐘內，全(quan)檢(jian)出組(zu)裝電(dian)路(lu)板上零(ling)(ling)件(jian)：電(dian)阻、電(dian)容、電(dian)感、電(dian)晶體(ti)、FET、LED普通二(er)極體(ti)、穩壓二(er)極體(ti)、光藕器、IC等零(ling)(ling)件(jian)，是否在我們設(she)計的規格內運作(zuo)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)(ju)能(neng)(neng)夠(gou)在短時(shi)間內測(ce)(ce)試(shi)(shi)出產(chan)品的不(bu)(bu)良(liang)(liang)，如組(zu)件(jian)漏件(jian)、反向、錯件(jian)、空焊、短路(lu)等問(wen)(wen)題，將(jiang)(jiang)這些問(wen)(wen)題以(yi)印(yin)表機(ji)印(yin)出測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果，包括故障(zhang)位置、零(ling)(ling)件(jian)標準值(zhi)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)值(zhi)，以(yi)供維修人員(yuan)參(can)考。ICT測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)(ju)對技術(shu)要求較低，即(ji)使對產(chan)品不(bu)(bu)太解，也可(ke)以(yi)將(jiang)(jiang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)不(bu)(bu)良(liang)(liang)的消息進行統計，生(sheng)產(chan)管理(li)人員(yuan)加以(yi)分(fen)析，可(ke)以(yi)找出各(ge)種(zhong)不(bu)(bu)良(liang)(liang)的產(chan)生(sheng)原(yuan)因(yin)，包括人為(wei)的因(yin)素在內，使之各(ge)個解決(jue)、完(wan)善、指正，藉以(yi)提(ti)升(sheng)電(dian)路(lu)板制造(zao)及品質能(neng)(neng)力。金華(hua)在線(xian)ICT測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)(ju)哪(na)家好

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