PCB離(li)子(zi)(zi)(zi)遷移絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試是一項重要的(de)(de)(de)測試方法，用(yong)于評估PCB板(ban)(ban)的(de)(de)(de)絕(jue)緣性(xing)能(neng)(neng)。在(zai)電(dian)子(zi)(zi)(zi)產品制(zhi)造(zao)過程中(zhong)，PCB板(ban)(ban)的(de)(de)(de)絕(jue)緣性(xing)能(neng)(neng)是至關重要的(de)(de)(de)，它(ta)直(zhi)接影響著產品的(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)和安(an)全性(xing)。因此，進行PCB離(li)子(zi)(zi)(zi)遷移絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試是必不可(ke)少的(de)(de)(de)。PCB離(li)子(zi)(zi)(zi)遷移是指在(zai)電(dian)場作用(yong)下，PCB板(ban)(ban)表面的(de)(de)(de)離(li)子(zi)(zi)(zi)會遷移到其他位置，導致(zhi)(zhi)電(dian)路(lu)(lu)短路(lu)(lu)或(huo)絕(jue)緣性(xing)能(neng)(neng)下降(jiang)。這(zhe)種現象(xiang)主要是由于PCB板(ban)(ban)表面的(de)(de)(de)污(wu)(wu)染(ran)物引起的(de)(de)(de)，例(li)如(ru)油污(wu)(wu)、灰塵、水(shui)分等。當這(zhe)些污(wu)(wu)染(ran)物存在(zai)時，它(ta)們會在(zai)電(dian)場的(de)(de)(de)作用(yong)下形成(cheng)離(li)子(zi)(zi)(zi)，進而(er)遷移到其他位置，導致(zhi)(zhi)電(dian)路(lu)(lu)短路(lu)(lu)或(huo)絕(jue)緣性(xing)能(neng)(neng)下降(jiang)。在(zai)電(dian)子(zi)(zi)(zi)設(she)備(bei)制(zhi)造(zao)和維(wei)修過程中(zhong)，電(dian)阻(zu)測試是非常重要的(de)(de)(de)一環。廣東(dong)多功能(neng)(neng)電(dian)阻(zu)測試發展

智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)具(ju)有(you)更高的(de)(de)(de)(de)(de)可追(zhui)(zhui)溯性。在(zai)電(dian)(dian)(dian)子(zi)行(xing)(xing)(xing)業中，產(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)質量追(zhui)(zhui)溯是非常重要(yao)(yao)的(de)(de)(de)(de)(de)。傳統的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)試往(wang)(wang)往(wang)(wang)無(wu)法(fa)提供完整的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試記(ji)(ji)錄和(he)數(shu)據(ju)，難以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)進行(xing)(xing)(xing)產(chan)(chan)品(pin)質量的(de)(de)(de)(de)(de)追(zhui)(zhui)溯。而(er)智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)通過內置的(de)(de)(de)(de)(de)存(cun)儲器和(he)通信模塊，可以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)實時記(ji)(ji)錄測(ce)(ce)(ce)試數(shu)據(ju)，并將數(shu)據(ju)上傳到(dao)云端進行(xing)(xing)(xing)存(cun)儲和(he)管理。這(zhe)樣(yang)，不僅可以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)方便地查(cha)看和(he)分析測(ce)(ce)(ce)試數(shu)據(ju)，還可以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)追(zhui)(zhui)溯產(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)質量問題，及時采取措施進行(xing)(xing)(xing)改進和(he)優化(hua)。智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)有(you)望推動電(dian)(dian)(dian)子(zi)行(xing)(xing)(xing)業的(de)(de)(de)(de)(de)智(zhi)(zhi)(zhi)能化(hua)發展(zhan)。隨著物聯網和(he)人(ren)工智(zhi)(zhi)(zhi)能技(ji)術的(de)(de)(de)(de)(de)不斷進步，智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)可以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)與其(qi)他智(zhi)(zhi)(zhi)能設備(bei)進行(xing)(xing)(xing)連接和(he)交互，實現更高級的(de)(de)(de)(de)(de)功能。例如，智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)可以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)與智(zhi)(zhi)(zhi)能手機(ji)(ji)或智(zhi)(zhi)(zhi)能家居設備(bei)連接，實現遠程控制(zhi)和(he)監測(ce)(ce)(ce)。這(zhe)將為電(dian)(dian)(dian)子(zi)行(xing)(xing)(xing)業帶來更多的(de)(de)(de)(de)(de)商機(ji)(ji)和(he)發展(zhan)空間。湖南(nan)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)試系統解決方案選擇智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)時，用戶需要(yao)(yao)根據(ju)具(ju)體需求考慮(lv)精度、穩定性、接口等因(yin)素，以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)便選擇適(shi)合的(de)(de)(de)(de)(de)智(zhi)(zhi)(zhi)能電(dian)(dian)(dian)阻(zu)產(chan)(chan)品(pin)。

AF與ECM/SIR都(dou)是一個(ge)電化學過程(cheng)；從產生的(de)條(tiao)(tiao)件(jian)來看（都(dou)需要(yao)符合(he)下面(mian)3個(ge)條(tiao)(tiao)件(jian)）：電解液環(huan)境，即(ji)濕(shi)度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加(jia)偏壓(ya)（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存(cun)在離子遷移(yi)的(de)通道意味著玻纖與樹脂(zhi)的(de)結合(he)間存(cun)在缺陷，或線與線間存(cun)在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）；加(jia)劇其產生的(de)條(tiao)(tiao)件(jian)類似(si)：高(gao)濕(shi)環(huan)境（Highhumidityrate）；高(gao)電壓(ya)（HigherVoltagelevels）；高(gao)溫環(huan)境（Highertemperature）；

導電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化(hua)學(xue)遷(qian)移的(de)(de)(de)(de)(de)(de)其(qi)中(zhong)一種表現(xian)形式。它與表面(mian)樹(shu)(shu)狀(zhuang)生(sheng)長(chang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)區別(bie)：1.產生(sheng)遷(qian)移的(de)(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)(jin)屬(shu)是銅，而不是鉛(qian)或者錫；2.金(jin)(jin)屬(shu)絲是從(cong)陽極往陰(yin)極生(sheng)長(chang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)；3.金(jin)(jin)屬(shu)絲是由(you)金(jin)(jin)屬(shu)鹽組(zu)成(cheng)，而不是中(zhong)性的(de)(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)(jin)屬(shu)原(yuan)子(zi)組(zu)成(cheng)。焊盤中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)銅金(jin)(jin)屬(shu)是金(jin)(jin)屬(shu)離子(zi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)主要來(lai)源(yuan)，在(zai)陽極電化(hua)學(xue)生(sheng)成(cheng)，并沿(yan)著(zhu)(zhu)樹(shu)(shu)脂和玻璃增強(qiang)纖維之間(jian)界面(mian)移動。隨著(zhu)(zhu)時代發展和技術(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)革新，PCB板(ban)(ban)上(shang)出現(xian)CAF的(de)(de)(de)(de)(de)(de)現(xian)象卻越來(lai)越嚴重，究其(qi)原(yuan)因(yin)，是因(yin)為現(xian)在(zai)電子(zi)設備上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)PCB板(ban)(ban)上(shang)需要焊接的(de)(de)(de)(de)(de)(de)電子(zi)元件越來(lai)越多，這(zhe)樣(yang)也就(jiu)造成(cheng)了PCB板(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)(jin)屬(shu)電極之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)距(ju)離越來(lai)越短，這(zhe)樣(yang)就(jiu)更加(jia)容易(yi)在(zai)兩個金(jin)(jin)屬(shu)電極之間(jian)產生(sheng)CAF現(xian)象。測試控制軟件管(guan)(guan)(guan)理模塊：用(yong)戶(hu)管(guan)(guan)(guan)理、工況管(guan)(guan)(guan)理、配置管(guan)(guan)(guan)理、設備管(guan)(guan)(guan)理。

5.1.硬件(jian)連接(jie)與操作步驟1)事先準備(bei)好(hao)要(yao)求(qiu)測(ce)試(shi)的(de)PCB樣品，接(jie)好(hao)測(ce)試(shi)線(xian)，插入(ru)相對應的(de)航空座(zuo)。2)把納(na)伏表和可(ke)編程電(dian)(dian)源安裝(zhuang)好(hao)，連接(jie)儀器與計(ji)算(suan)機(ji)通(tong)信(xin)線(xian)。3)接(jie)好(hao)機(ji)柜(ju)電(dian)(dian)源，并檢查儀器是否(fou)有(you)錯(cuo)誤(wu)提(ti)(ti)示，如有(you)提(ti)(ti)示需先按照儀器說明把錯(cuo)誤(wu)提(ti)(ti)示排除。4)根據(ju)軟件(jian)操作設(she)置開始測(ce)試(shi)流程。注意(yi)：※在測(ce)試(shi)的(de)過程禁止觸摸被(bei)測(ce)物品。※禁止帶電(dian)(dian)拔插測(ce)試(shi)線(xian)的(de)航空頭。※如需設(she)備(bei)檢修必須把電(dian)(dian)斷開。本系(xi)統只(zhi)提(ti)(ti)供自有(you)版(ban)權的(de)導通(tong)電(dian)(dian)阻實(shi)時監控測(ce)試(shi)操作軟件(jian)，Windows操作系(xi)統、MS-office軟件(jian)及(ji)相關數據(ju)庫由(you)客戶自行購(gou)買(mai)*該(gai)系(xi)統可(ke)根據(ju)客戶的(de)不同(tong)需求(qiu)，定(ding)制特殊要(yao)求(qiu)以實(shi)現更多功能測(ce)試(shi)配置靈活:每塊(kuai)模塊(kuai)可(ke)設(she)置不同(tong)的(de)測(ce)試(shi)電(dian)(dian)壓(ya)，可(ke)同(tong)時完成多工況測(ce)試(shi)。湖(hu)北(bei)智能電(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)系(xi)統

智能(neng)(neng)電阻(zu)具有更加豐(feng)富的功(gong)能(neng)(neng)和應用場(chang)景。廣東多功(gong)能(neng)(neng)電阻(zu)測試(shi)發展

4、在初始的(de)(de)(de)(de)絕緣電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻測(ce)(ce)量后(hou)(hou)(hou)關閉測(ce)(ce)試(shi)(shi)系統(tong)，使樣品在65±2℃或85±2℃、相對(dui)濕度為(wei)87+3/-2%RH、無偏(pian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)環境下靜置(zhi)(zhi)(zhi)96個小(xiao)時(shi)(shi)（±30分(fen)(fen)鐘(zhong)）。96個小(xiao)時(shi)(shi)（±30分(fen)(fen)鐘(zhong)）的(de)(de)(de)(de)靜置(zhi)(zhi)(zhi)期后(hou)(hou)(hou)，在每個菊花鏈網絡和(he)地之間(jian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)絕緣電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻。5、確認(ren)所有的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣品的(de)(de)(de)(de)連接是(shi)有效的(de)(de)(de)(de)，每個測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)對(dui)應(ying)適(shi)當的(de)(de)(de)(de)限流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻。然后(hou)(hou)(hou)將測(ce)(ce)試(shi)(shi)板與(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源相連開始進行T/H/B部(bu)分(fen)(fen)的(de)(de)(de)(de)CAF測(ce)(ce)試(shi)(shi)。6、確認(ren)適(shi)當的(de)(de)(de)(de)偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)已經被(bei)(bei)加載在樣品上(shang)進行周期性測(ce)(ce)試(shi)(shi)。為(wei)了比較(jiao)不同內層材(cai)料和(he)制程的(de)(de)(de)(de)耐(nai)CAF性能，使用(yong)100V直流偏(pian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)標準CAF測(ce)(ce)試(shi)(shi)條(tiao)件(jian)(jian)。為(wei)了確認(ren)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果與(yu)實(shi)際壽命之間(jian)的(de)(de)(de)(de)關系，第二個偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)條(tiao)件(jian)(jian)需要選擇(ze)給定的(de)(de)(de)(de)最(zui)高工作電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)兩(liang)倍。當一個較(jiao)小(xiao)的(de)(de)(de)(de)偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)不能有效地區別更多不同的(de)(de)(de)(de)耐(nai)CAF材(cai)料和(he)制程時(shi)(shi)，更高的(de)(de)(de)(de)偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)由(you)于(yu)會線性地影響失效時(shi)(shi)間(jian)，應(ying)該被(bei)(bei)避免采用(yong)。這是(shi)因為(wei)過高的(de)(de)(de)(de)偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)會抵消掉相對(dui)濕度的(de)(de)(de)(de)影響，而相對(dui)濕度由(you)于(yu)局部(bu)加熱的(de)(de)(de)(de)原(yuan)因是(shi)非常重要的(de)(de)(de)(de)失效機制部(bu)分(fen)(fen)。7、在96個小(xiao)時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)靜置(zhi)(zhi)(zhi)時(shi)(shi)間(jian)后(hou)(hou)(hou)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)和(he)偏(pian)置(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)極性必須(xu)是(shi)始終一致(zhi)的(de)(de)(de)(de)。廣東多功能電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻測(ce)(ce)試(shi)(shi)發展

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