ICT測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)原(yuan)理：1)電(dian)(dian)感測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)：電(dian)(dian)感的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法和電(dian)(dian)容的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類似，只用交流(liu)(liu)(liu)信號(hao)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。2)二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)：二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)正(zheng)向(xiang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)時(shi)，加(jia)一正(zheng)向(xiang)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)在(zai)(zai)二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)上(shang)(shang)，二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)的(de)正(zheng)向(xiang)壓(ya)(ya)(ya)降(jiang)為0.7V(硅材(cai)料(liao)管(guan)(guan)(guan))，加(jia)一反(fan)向(xiang)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)在(zai)(zai)二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)上(shang)(shang)，二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)壓(ya)(ya)(ya)降(jiang)會很(hen)大。3)三(san)(san)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)：三(san)(san)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)分(fen)(fen)三(san)(san)步測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)：先測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)bc極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)和be極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)之間(jian)的(de)正(zheng)向(xiang)壓(ya)(ya)(ya)降(jiang)，這和二(er)(er)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法相同(tong)。再測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)三(san)(san)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)的(de)放大作(zuo)用：在(zai)(zai)be極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)加(jia)一基極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)ce極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)之間(jian)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)。例如：b、e極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)加(jia)1mA電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)時(shi)，c、e之間(jian)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)由(you)原(yuan)來(lai)2V降(jiang)到0.5V，則三(san)(san)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)(guan)處于正(zheng)常的(de)放大工作(zuo)狀態。PCBA制作(zuo)ICT治具(ju)的(de)注意(yi)事(shi)項(xiang)：被測(ce)(ce)(ce)點應平均(jun)分(fen)(fen)布于PCB表(biao)面，避免局(ju)部密度過高。濟南壓(ya)(ya)(ya)床式治具(ju)

關(guan)于(yu)PCBA制作ICT治具(ju)的注意事(shi)項(xiang)，測試(shi)點：1、被(bei)(bei)測點應離(li)板邊或(huo)折(zhe)邊至少0.100＂。2、盡(jin)量避免(mian)將被(bei)(bei)測點置(zhi)于(yu)SMT零件(jian)上(shang)，因為(wei)可接觸(chu)錫面太小，而且(qie)容易壓傷零件(jian)。3、盡(jin)量避免(mian)使(shi)用過(guo)長(chang)零件(jian)腳(大于(yu)0.170＂(4.3mm))或(huo)過(guo)大的孔(kong)(kong)徑(jing)(大于(yu)1.5mm)為(wei)被(bei)(bei)測點，需特殊處理。定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)：1、待測PCB須有2個或(huo)以上(shang)的定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)，且(qie)孔(kong)(kong)內不能沾錫，其位(wei)置(zhi)較(jiao)好在(zai)PCB之對角(jiao)。2、定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)選(xuan)擇以對角(jiao)線，距(ju)離(li)較(jiao)遠(yuan)之2孔(kong)(kong)為(wei)定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)。3、被(bei)(bei)測點至定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)位(wei)置(zhi)公差應為(wei)+/-0.002＂。4、定(ding)位(wei)孔(kong)(kong)(ToolingHole)直徑(jing)較(jiao)好為(wei)0.125＂(3.175mm)，公差在(zai)＂+0.002＂/-0.001＂。濟南在(zai)線測試(shi)儀器生產(chan)批發自動化程度較(jiao)高(gao)或(huo)者(zhe)(zhe)要求較(jiao)高(gao)的生產(chan)線會通過(guo)圖像識別或(huo)者(zhe)(zhe)ICT進行檢測電容是(shi)否插反。

測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)的(de)使用(yong)(yong)(yong)注意：當治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)出現損壞無法(fa)修復使用(yong)(yong)(yong)和客戶變更(geng)不再使用(yong)(yong)(yong)的(de)，可(ke)申請報廢重新(xin)制作(zuo)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)制作(zuo)好后存放治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)制作(zuo)房，且放置(zhi)在治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)的(de)鐵(tie)架上(shang)，并(bing)作(zuo)好型號標識(shi)。治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)領用(yong)(yong)(yong)由(you)電測(ce)(ce)房負責人登記領用(yong)(yong)(yong)，用(yong)(yong)(yong)完后歸還于治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)房并(bing)做好交接。當治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)出現斷針和老化時可(ke)換針維護繼續(xu)使用(yong)(yong)(yong)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)屬于治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)下面的(de)一個類別，專門(men)對產品的(de)功(gong)能(neng)、功(gong)率校準(zhun)、壽命、性能(neng)等進(jin)行(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、試(shi)(shi)驗的(de)一種治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)。因其(qi)主要在生產線上(shang)用(yong)(yong)(yong)于產品的(de)各(ge)項(xiang)指標的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，所(suo)以叫測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)。

ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)治(zhi)具，包括(kuo)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機構(gou)(gou)，所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機構(gou)(gou)上設(she)有用(yong)于(yu)適配安裝(zhuang)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)的(de)(de)容置區(qu)間以及與(yu)(yu)(yu)所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)相對應的(de)(de)若(ruo)干(gan)探(tan)針(zhen)，通過(guo)若(ruo)干(gan)所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)探(tan)針(zhen)與(yu)(yu)(yu)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)接(jie)觸以進行(xing)在線(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，還包括(kuo)驅(qu)動(dong)連接(jie)于(yu)所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機構(gou)(gou)上的(de)(de)蓋章裝(zhuang)置，所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)蓋章裝(zhuang)置包括(kuo)雕刻(ke)(ke)工(gong)具以及與(yu)(yu)(yu)所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)雕刻(ke)(ke)工(gong)具連接(jie)的(de)(de)浮(fu)動(dong)機構(gou)(gou)，所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)雕刻(ke)(ke)工(gong)具能借助所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)浮(fu)動(dong)機構(gou)(gou)在設(she)定位置區(qu)間內(nei)軸(zhou)向(xiang)浮(fu)動(dong)地抵壓在待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)上，以對測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)后的(de)(de)相應電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)進行(xing)標記作業。需要說明的(de)(de)是，該(gai)ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)治(zhi)具在使用(yong)時，所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機構(gou)(gou)的(de)(de)若(ruo)干(gan)探(tan)針(zhen)是與(yu)(yu)(yu)現有的(de)(de)ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi)相連接(jie)的(de)(de)，從而在探(tan)針(zhen)與(yu)(yu)(yu)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)接(jie)觸后利(li)用(yong)所述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi)在線(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)是否合(he)格。ICT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)治(zhi)具有單面雙面之分，通用(yong)天(tian)板(ban)方便(bian)交換(huan)機種，使用(yong)可調培(pei)林(lin)座(zuo)，容易保養(yang)。

ict測試(shi)治具(ju)的(de)(de)制(zhi)作原(yuan)理：根據(ju)電(dian)路(lu)(lu)板(ban)的(de)(de)機械(xie)尺寸圖，把(ba)(ba)電(dian)路(lu)(lu)板(ban)上面的(de)(de)DIP腳(jiao)，測試(shi)點的(de)(de)位置打孔，然后插(cha)針(zhen)(zhen)，把(ba)(ba)電(dian)路(lu)(lu)板(ban)中(zhong)(zhong)的(de)(de)網絡(NET)就是(shi)(shi)PCB走(zou)線(xian)，全部引出來，達到外(wai)部來用儀器測試(shi)其內部是(shi)(shi)電(dian)路(lu)(lu)結構即(ji)可。ict測試(shi)治具(ju)的(de)(de)工(gong)作原(yuan)理：主要是(shi)(shi)靠測試(shi)探針(zhen)(zhen)接觸PCB出來的(de)(de)測試(shi)點來檢測PCB的(de)(de)線(xian)路(lu)(lu)。ict測試(shi)治具(ju)通常是(shi)(shi)生產(chan)中(zhong)(zhong)首先(xian)道測試(shi)工(gong)序，能及時(shi)反應生產(chan)制(zhi)造狀(zhuang)況，利于工(gong)藝改進和提升,因其測試(shi)項目具(ju)體，是(shi)(shi)現代化大生產(chan)品質保(bao)證的(de)(de)重要測試(shi)手(shou)段之(zhi)一。ICT測試(shi)治具(ju)檢驗標準：探針(zhen)(zhen)上下(xia)活動是(shi)(shi)否順暢,無歪(wai)斜,摩(mo)擦情形(xing)。北京壓床(chuang)式治具(ju)報價

ICT可以測量到(dao)電路版上(shang)所有的線路及零件，可以提(ti)升產品(pin)品(pin)質。濟南壓床式治(zhi)具(ju)

如果(guo)(guo)重復定(ding)位會(hui)造(zao)成的(de)(de)(de)(de)(de)結(jie)果(guo)(guo)：1、阻礙工(gong)件的(de)(de)(de)(de)(de)裝置或定(ding)位不穩定(ding)，使(shi)其得不到斷(duan)定(ding)方位。2、導致定(ding)位就會(hui)容易產生變形或工(gong)件變形。專業治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)加(jia)工(gong)：治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)的(de)(de)(de)(de)(de)選(xuan)材專業治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)加(jia)工(gong)：治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)的(de)(de)(de)(de)(de)選(xuan)材:治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)要(yao)(yao)根據實(shi)踐的(de)(de)(de)(de)(de)情況(kuang)選(xuan)用恰(qia)當的(de)(de)(de)(de)(de)資(zi)料(liao)，這樣(yang)可大起伏的(de)(de)(de)(de)(de)降低(di)本錢，一起通(tong)用可重復使(shi)用的(de)(de)(de)(de)(de)底座也可大起伏的(de)(de)(de)(de)(de)降低(di)本錢，而且使(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)制(zhi)造(zao)標準化方便制(zhi)造(zao)，進(jin)步治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)質量。測驗架中測驗針及相(xiang)關資(zi)料(liao)的(de)(de)(de)(de)(de)選(xuan)用對測驗治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)好壞及本錢是非常(chang)重要(yao)(yao)的(de)(de)(de)(de)(de)。濟南壓床式治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)(ju)(ju)

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