石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)化(hua)(hua)(hua)度(du)分析引言石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)及其(qi)(qi)復合材料具有高溫下不熔(rong)融、導(dao)電導(dao)熱性能(neng)好以及化(hua)(hua)(hua)學穩(wen)定性優(you)異等特點，應(ying)用于冶金、化(hua)(hua)(hua)工(gong)、航(hang)空航(hang)天等行業(ye)。特別(bie)是(shi)近年(nian)來鋰電池的(de)快(kuai)速(su)發展，進一(yi)步加大了(le)石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)材料的(de)需(xu)求。工(gong)業(ye)上常(chang)將碳原(yuan)料經過(guo)煅燒破(po)碎、焙燒、高溫石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)化(hua)(hua)(hua)處理來獲取高性能(neng)人(ren)造石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)材料。石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)的(de)質(zhi)量對電池的(de)性能(neng)有很(hen)大影響，石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)化(hua)(hua)(hua)度(du)是(shi)一(yi)種從結構(gou)上表(biao)征石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)質(zhi)量的(de)方(fang)法之一(yi)。石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)化(hua)(hua)(hua)度(du)碳原(yuan)子形成密(mi)排六(liu)方(fang)石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)晶體結構(gou)的(de)程度(du),其(qi)(qi)晶格(ge)尺寸愈接近理想石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)的(de)點陣參數,石(shi)(shi)(shi)墨(mo)(mo)(mo)化(hua)(hua)(hua)度(du)就(jiu)愈高。LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和(he)2D數據采集，具有始終有效的(de)出(chu)色能(neng)量鑒別(bie)能(neng)力，同時不會損失二級單(dan)色器(qi)信號。珠海購買XRD衍射(she)儀(yi)推薦咨詢

粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)中(zhong)晶態(tai)(tai)礦相(xiang)及非(fei)晶相(xiang)定(ding)(ding)量(liang)(liang)(liang)分(fen)(fen)析引言粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)，是(shi)從煤(mei)燃(ran)燒后的(de)(de)(de)(de)煙氣(qi)中(zhong)收(shou)捕下來(lai)的(de)(de)(de)(de)細灰(hui)，粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)是(shi)燃(ran)煤(mei)電廠排(pai)出的(de)(de)(de)(de)主(zhu)要(yao)固體廢物(wu)。粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)是(shi)我國當(dang)前(qian)排(pai)量(liang)(liang)(liang)較大(da)的(de)(de)(de)(de)工業(ye)廢渣之一(yi)。大(da)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)不加處理，就會產生(sheng)揚塵，污(wu)染大(da)氣(qi)；若排(pai)入水系(xi)會造成(cheng)(cheng)河流淤(yu)塞，而其(qi)中(zhong)的(de)(de)(de)(de)有毒化學(xue)物(wu)質(zhi)還會對(dui)人(ren)體和生(sheng)物(wu)造成(cheng)(cheng)危害。所以(yi)，粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)的(de)(de)(de)(de)再利用(yong)(yong)(yong)(yong)一(yi)直都是(shi)關注的(de)(de)(de)(de)熱(re)點。比如，已(yi)用(yong)(yong)(yong)(yong)于制水泥及制各種(zhong)輕質(zhi)建材等。要(yao)合(he)理高效(xiao)的(de)(de)(de)(de)利用(yong)(yong)(yong)(yong)粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)，則需(xu)要(yao)對(dui)其(qi)元素和礦相(xiang)組成(cheng)(cheng)有詳(xiang)細的(de)(de)(de)(de)了解(jie)。粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)的(de)(de)(de)(de)礦相(xiang)主(zhu)要(yao)莫來(lai)石、石英(ying)以(yi)及大(da)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)非(fei)晶態(tai)(tai)。利用(yong)(yong)(yong)(yong)XRD測(ce)定(ding)(ding)非(fei)晶態(tai)(tai)通(tong)常采用(yong)(yong)(yong)(yong)加入特定(ding)(ding)含(han)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)標(biao)準(zhun)物(wu)質(zhi)以(yi)精(jing)確的(de)(de)(de)(de)計算非(fei)晶相(xiang)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)含(han)量(liang)(liang)(liang)。在(zai)實驗(yan)室(shi)中(zhong)這個方(fang)法是(shi)可行的(de)(de)(de)(de)，但在(zai)實際生(sheng)產和快速檢(jian)測(ce)過程中(zhong)，這個方(fang)法就現(xian)實。目前(qian)一(yi)種(zhong)全新(xin)的(de)(de)(de)(de)PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方(fang)法*，解(jie)決了這一(yi)難題，實現(xian)了粉(fen)(fen)煤(mei)灰(hui)樣品(pin)的(de)(de)(de)(de)無(wu)(wu)標(biao)樣定(ding)(ding)量(liang)(liang)(liang)分(fen)(fen)析。深圳進口(kou)XRD衍(yan)射儀哪里好(hao)更換(huan)光(guang)學(xue)期間時，無(wu)(wu)需(xu)工具，亦無(wu)(wu)需(xu)對(dui)光(guang)，因此您可輕松快速地更改配置。

介孔(kong)(kong)分(fen)(fen)子篩SBA-15結構分(fen)(fen)析引(yin)言介孔(kong)(kong)分(fen)(fen)子篩SBA-15具有(you)大晶胞的(de)(de)二維六方孔(kong)(kong)狀結構，具有(you)更(geng)(geng)大的(de)(de)孔(kong)(kong)徑、更(geng)(geng)厚(hou)的(de)(de)孔(kong)(kong)壁(bi)和(he)更(geng)(geng)高(gao)的(de)(de)孔(kong)(kong)容(rong)，而且具有(you)更(geng)(geng)好的(de)(de)水熱穩定性，有(you)利于(yu)它(ta)在溫(wen)度較(jiao)(jiao)高(gao)、體系(xi)中(zhong)(zhong)有(you)水的(de)(de)反應中(zhong)(zhong)應用，因此(ci)在催化、分(fen)(fen)離、生物及納米材料等領域有(you)應用前(qian)景。SBA-15結構特穩定性和(he)其孔(kong)(kong)徑大小與性能有(you)較(jiao)(jiao)大關聯，而XRD是表征其結構的(de)(de)有(you)效(xiao)方法之(zhi)一。由于(yu)SBA-15的(de)(de)晶胞較(jiao)(jiao)大，其衍射峰往往出現在非常(chang)低的(de)(de)角度，這(zhe)導致(zhi)很(hen)(hen)難從(cong)直射光和(he)空氣散(san)射中(zhong)(zhong)區分(fen)(fen)其衍射信(xin)號。目(mu)前(qian)，隨著(zhu)衍射儀的(de)(de)發展，動態光路對的(de)(de)設(she)計很(hen)(hen)好的(de)(de)解決了這(zhe)類(lei)問題。實例SBA-15小角度XRD圖譜，五個衍射峰分(fen)(fen)別對應(100)、(110)、(200)、(300)、(220)。根(gen)據圖2示意圖，計算得到平(ping)均孔(kong)(kong)距

薄(bo)(bo)(bo)(bo)膜和(he)涂層(ceng)分(fen)(fen)析(xi)采用的(de)(de)(de)(de)原理(li)與(yu)XRPD相同(tong)，不過進(jin)(jin)一步提供了(le)光束調節(jie)和(he)角度控制功能。典型(xing)示例(li)包括但不限于相鑒定(ding)、晶體質量、殘(can)余應(ying)力、織(zhi)構分(fen)(fen)析(xi)、厚度測定(ding)以及組(zu)分(fen)(fen)與(yu)應(ying)變分(fen)(fen)析(xi)。在對(dui)(dui)薄(bo)(bo)(bo)(bo)膜和(he)涂層(ceng)進(jin)(jin)行分(fen)(fen)析(xi)時(shi)，著重對(dui)(dui)厚度在nm和(he)μm之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)層(ceng)狀材(cai)料進(jin)(jin)行特性分(fen)(fen)析(xi)（從非晶和(he)多(duo)晶涂層(ceng)到外延生長薄(bo)(bo)(bo)(bo)膜）。D8ADVANCE和(he)DIFFRAC.SUITE軟件可進(jin)(jin)行以下高(gao)(gao)質量的(de)(de)(de)(de)薄(bo)(bo)(bo)(bo)膜分(fen)(fen)析(xi)：掠入(ru)射(she)衍(yan)射(she)X射(she)線反射(she)法高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率X射(she)線衍(yan)射(she)倒(dao)易(yi)空(kong)間(jian)掃描。由于具有(you)(you)出色的(de)(de)(de)(de)適應(ying)能力，使用D8ADVANCE，您就(jiu)可對(dui)(dui)所有(you)(you)類型(xing)的(de)(de)(de)(de)樣品進(jin)(jin)行測量：從液體到粉末、從薄(bo)(bo)(bo)(bo)膜到固(gu)體塊狀物(wu)。無論是(shi)(shi)新手用戶還是(shi)(shi)**用戶，都可簡(jian)單快捷、不出錯地(di)對(dui)(dui)配(pei)置進(jin)(jin)行更(geng)改。這都是(shi)(shi)通過布魯克(ke)獨特的(de)(de)(de)(de)DAVINCI設計實現的(de)(de)(de)(de)：配(pei)置儀器時(shi)，免(mian)工(gong)具、免(mian)準(zhun)(zhun)直(zhi)，同(tong)時(shi)還受到自動化的(de)(de)(de)(de)實時(shi)組(zu)件識別與(yu)驗證的(de)(de)(de)(de)支持。該X射(she)線源有(you)(you)6kW的(de)(de)(de)(de)功率，其強度是(shi)(shi)標準(zhun)(zhun)陶瓷射(she)線管(guan)5倍，在線焦點(dian)和(he)點(dian)焦點(dian)應(ying)用中均(jun)具有(you)(you)出色的(de)(de)(de)(de)性能。

LYNXEYEXE-T具有(you)優于380eV的(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量分(fen)(fen)辨率，著實出色，是市面上(shang)性(xing)能(neng)(neng)的(de)(de)(de)(de)熒(ying)光過濾器(qi)(qi)(qi)探(tan)(tan)測器(qi)(qi)(qi)系(xi)(xi)統(tong)。借助它，您可在零(ling)強度(du)損(sun)失(shi)下對(dui)由銅輻射(she)(she)(she)(she)激發的(de)(de)(de)(de)鐵熒(ying)光進(jin)(jin)行100％過濾，而(er)且(qie)無需金屬(shu)濾波(bo)片，因此(ci)數據也不會存在偽影(ying)，如殘余(yu)K?和(he)吸收邊(bian)。同樣，也無需用(yong)到(dao)會消除強度(du)的(de)(de)(de)(de)二級單色器(qi)(qi)(qi)。布(bu)魯克(ke)提(ti)供獨(du)有(you)的(de)(de)(de)(de)LYNXEYEXE-T探(tan)(tan)測器(qi)(qi)(qi)保(bao)證：交(jiao)貨(huo)時(shi)保(bao)證無壞道！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系(xi)(xi)列探(tan)(tan)測器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)旗艦產品。它是目前市面上(shang)一款可采集0D、1D和(he)2D數據的(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量色散探(tan)(tan)測器(qi)(qi)(qi)，適用(yong)于所(suo)有(you)波(bo)長（從Cr到(dao)Ag），具有(you)準確的(de)(de)(de)(de)計數率和(he)角分(fen)(fen)辨率，是所(suo)有(you)X射(she)(she)(she)(she)線衍(yan)射(she)(she)(she)(she)和(he)散射(she)(she)(she)(she)應用(yong)的(de)(de)(de)(de)理(li)想選擇。支持(chi)全新技術進(jin)(jin)行定(ding)制，包括高性(xing)能(neng)(neng)X射(she)(she)(she)(she)線源、定(ding)制版(ban)光學器(qi)(qi)(qi)件、定(ding)制版(ban)樣品臺和(he)多模式探(tan)(tan)測器(qi)(qi)(qi)。深圳進(jin)(jin)口XRD衍(yan)射(she)(she)(she)(she)儀哪里好

XRD可研究材料(liao)的結構和物理特性，是(shi) 重要的材料(liao)研究工具之一。珠海(hai)購買XRD衍射儀推薦(jian)咨(zi)詢

殘余應(ying)力分(fen)(fen)析(xi)(xi)：：在DIFFRAC.LEPTOS中(zhong)，使用(yong)(yong)(yong)sin2psi法，用(yong)(yong)(yong)Cr輻射(she)進行(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，對(dui)鋼構(gou)件的殘余應(ying)力進行(xing)(xing)(xing)分(fen)(fen)析(xi)(xi)。使用(yong)(yong)(yong)了2D檢測(ce)(ce)器的μXRD：使用(yong)(yong)(yong)DIFFRAC.EVA,測(ce)(ce)定(ding)(ding)小(xiao)區域(yu)結(jie)(jie)(jie)構(gou)特(te)性。通過積(ji)分(fen)(fen)2D圖像，進行(xing)(xing)(xing)1D掃描(miao)，來進行(xing)(xing)(xing)定(ding)(ding)性相分(fen)(fen)析(xi)(xi)和微(wei)觀結(jie)(jie)(jie)構(gou)分(fen)(fen)析(xi)(xi)。定(ding)(ding)性相分(fen)(fen)析(xi)(xi)：候選(xuan)材料鑒別(bie)（PMI）為常見，這是因(yin)為其(qi)對(dui)原子結(jie)(jie)(jie)構(gou)十分(fen)(fen)靈敏，而(er)這無(wu)法通過元素分(fen)(fen)析(xi)(xi)技術實(shi)現(xian)(xian)。高通量(liang)(liang)篩選(xuan)（HTS）:在DIFFRAC.EVA中(zhong)，進行(xing)(xing)(xing)半定(ding)(ding)量(liang)(liang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)，以現(xian)(xian)實(shi)孔板上不(bu)同相的濃度(du)。非環境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中(zhong)配置溫度(du)曲線(xian)(xian)并(bing)將其(qi)與測(ce)(ce)量(liang)(liang)同步(bu)，然后可(ke)以在DIFFRAC.EVR中(zhong)顯示結(jie)(jie)(jie)果。小(xiao)角X射(she)線(xian)(xian)散射(she)（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中(zhong)，對(dui)EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行(xing)(xing)(xing)粒度(du)分(fen)(fen)析(xi)(xi)。珠海購買XRD衍射(she)儀推薦咨詢(xun)

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