zeta電位(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)，它(ta)的(de)優(you)點(dian)是在(zai)探測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)數量有限的(de)情況下提高(gao)分辨率(lv)，缺點(dian)是容易(yi)產生(sheng)(sheng)歧義（同(tong)一(yi)(yi)個樣品在(zai)不同(tong)檔的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)結果不一(yi)(yi)致(zhi)），調整過(guo)程容易(yi)產生(sheng)(sheng)誤差，是早期激光(guang)粒(li)(li)(li)度(du)儀(yi)采(cai)用的(de)技(ji)(ji)術(shu)(shu)。激光(guang)粒(li)(li)(li)度(du)儀(yi)：采(cai)用折疊光(guang)路設計，結構(gou)緊湊美觀，并采(cai)用高(gao)精(jing)度(du)全鋁合(he)金光(guang)學平臺，確保(bao)光(guang)路穩固可靠。zeta電位(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi).激光(guang)粒(li)(li)(li)度(du)儀(yi)是一(yi)(yi)種(zhong)根據光(guang)的(de)散(san)射原(yuan)理來(lai)測(ce)(ce)(ce)(ce)量粉體顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)大(da)小(xiao)的(de)精(jing)密(mi)儀(yi)器(qi)，集成(cheng)了激光(guang)技(ji)(ji)術(shu)(shu)、現(xian)代(dai)光(guang)電技(ji)(ji)術(shu)(shu)、電子技(ji)(ji)術(shu)(shu)、精(jing)密(mi)機械和計算機技(ji)(ji)術(shu)(shu)，具(ju)有測(ce)(ce)(ce)(ce)量速度(du)快、動態范圍大(da)、操作(zuo)簡便、重復性好等優(you)點(dian)，現(xian)已成(cheng)為流行的(de)粒(li)(li)(li)度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)，尤其適合(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)量粒(li)(li)(li)度(du)分布范圍寬的(de)粉體和液體霧滴(di)。zeta電位(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)，米氏散(san)射理論表(biao)明(ming)，當(dang)光(guang)束(shu)遇(yu)到顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)阻(zu)擋時(shi)，一(yi)(yi)部分光(guang)將發生(sheng)(sheng)散(san)射現(xian)象，散(san)射光(guang)的(de)傳(chuan)播方(fang)(fang)向將與(yu)主(zhu)光(guang)束(shu)的(de)傳(chuan)播方(fang)(fang)向形成(cheng)一(yi)(yi)個夾角(jiao)θ，θ角(jiao)的(de)大(da)小(xiao)與(yu)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)的(de)大(da)小(xiao)有關(guan)，顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)越大(da)，產生(sheng)(sheng)的(de)散(san)射光(guang)的(de)θ角(jiao)就越小(xiao)；zeta納(na)米粒(li)(li)(li)度(du)及zeta電位(wei)儀(yi)情況分析(xi)。上海鈦(tai)白粉zeta電位(wei)儀(yi)使用方(fang)(fang)法

當粒(li)子(zi)(zi)運(yun)動(dong)(dong)的(de)時(shi)候，在(zai)此(ci)邊(bian)(bian)界(jie)(jie)內的(de)離子(zi)(zi)隨著粒(li)子(zi)(zi)運(yun)動(dong)(dong)，但此(ci)邊(bian)(bian)界(jie)(jie)外的(de)離子(zi)(zi)不隨著粒(li)子(zi)(zi)運(yun)動(dong)(dong)。這(zhe)個邊(bian)(bian)界(jie)(jie)稱為(wei)流(liu)體(ti)力(li)學(xue)剪切層或(huo)滑動(dong)(dong)面（slippingplane）。在(zai)這(zhe)個邊(bian)(bian)界(jie)(jie)上存在(zai)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)即稱為(wei)Zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)。2.常(chang)見的(de)測試zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)方法(fa)(fa)有幾種？1）電(dian)(dian)(dian)(dian)泳光(guang)散(san)射法(fa)(fa)市(shi)面上常(chang)見的(de)測試zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)的(de)方法(fa)(fa)是(shi)利(li)用光(guang)學(xue)法(fa)(fa)，也就是(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)泳光(guang)散(san)射法(fa)(fa)。由于此(ci)方法(fa)(fa)可(ke)以和動(dong)(dong)態光(guang)散(san)射法(fa)(fa)相結合，隨著納米粒(li)度及zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)儀的(de)市(shi)場擴大，這(zhe)種方法(fa)(fa)也被(bei)廣大客戶接受，執行ISO-13099-2標準。上海國產zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)儀適用范圍上海 zeta電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)(wei)儀品質(zhi)售后哪家靠譜？

分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)原理：靜的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)散(san)(san)射(she)(she)法(fa)（光(guang)(guang)(guang)子(zi)(zi)相(xiang)關法(fa)）靜的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)散(san)(san)射(she)(she)法(fa)作(zuo)為(wei)(wei)簡便的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)手法(fa)而被(bei)人們熟(shu)知。測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)原理指的(de)(de)(de)(de)是用光(guang)(guang)(guang)照射(she)(she)溶(rong)液(ye)中分(fen)子(zi)(zi)，根(gen)據(ju)所(suo)得(de)的(de)(de)(de)(de)散(san)(san)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)值(zhi)求出(chu)分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)。即(ji)，利用了大(da)分(fen)子(zi)(zi)所(suo)得(de)散(san)(san)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)強(qiang)，小分(fen)子(zi)(zi)所(suo)得(de)散(san)(san)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)弱的(de)(de)(de)(de)現象進(jin)行測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。實際上，濃(nong)度(du)(du)不(bu)(bu)同(tong)(tong)，所(suo)得(de)的(de)(de)(de)(de)散(san)(san)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)強(qiang)度(du)(du)也不(bu)(bu)同(tong)(tong)。因此，要實測(ce)(ce)(ce)數(shu)點(dian)的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)同(tong)(tong)濃(nong)度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)溶(rong)液(ye)散(san)(san)射(she)(she)強(qiang)度(du)(du)，并(bing)根(gen)據(ju)以下公式，橫(heng)軸設(she)為(wei)(wei)濃(nong)度(du)(du)，縱軸設(she)為(wei)(wei)散(san)(san)射(she)(she)強(qiang)度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)倒(dao)數(shu)，Kc／R（θ）為(wei)(wei)plot。這被(bei)稱作(zuo)Debyeplot。濃(nong)度(du)(du)為(wei)(wei)零(ling)，外插切(qie)片（c=0）的(de)(de)(de)(de)倒(dao)數(shu)，并(bing)求出(chu)分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)Mw，根(gen)據(ju)初期斜面求出(chu)第二維里(li)系數(shu)A2。分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)為(wei)(wei)大(da)分(fen)子(zi)(zi)時(shi)，散(san)(san)射(she)(she)強(qiang)度(du)(du)出(chu)現角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)依(yi)存性(xing)(xing)(xing)，通過測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)不(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)散(san)(san)射(she)(she)角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)（θ）的(de)(de)(de)(de)散(san)(san)射(she)(she)強(qiang)度(du)(du)，可(ke)知出(chu)分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)精(jing)度(du)(du)提高，及(ji)分(fen)子(zi)(zi)大(da)范(fan)圍的(de)(de)(de)(de)指標的(de)(de)(de)(de)慣(guan)性(xing)(xing)(xing)半徑。角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)固(gu)定測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)時(shi)，輸入推算的(de)(de)(de)(de)慣(guan)性(xing)(xing)(xing)半徑，并(bing)對角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)依(yi)存測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)進(jin)行相(xiang)應的(de)(de)(de)(de)補正，便可(ke)提高分(fen)子(zi)(zi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)精(jing)度(du)(du)。

激光粒度(du)(du)儀(yi)是一種根據光的散(san)射(she)原理來測量(liang)(liang)粉(fen)體顆(ke)粒大小(xiao)(xiao)的精(jing)(jing)密(mi)儀(yi)器(qi)，集成了激光技(ji)術、現(xian)代光電(dian)技(ji)術、電(dian)子技(ji)術、精(jing)(jing)密(mi)機械和計算機技(ji)術，具有(you)測量(liang)(liang)速度(du)(du)快、動態范圍(wei)大、操作(zuo)簡便、重復性(xing)好等(deng)優(you)點，現(xian)已(yi)成為流(liu)行的粒度(du)(du)測試(shi)儀(yi)器(qi)，尤其(qi)適合測量(liang)(liang)粒度(du)(du)分布范圍(wei)寬的粉(fen)體和液體霧滴。zeta電(dian)位測試(shi)儀(yi)，米氏(shi)散(san)射(she)理論表明，當光束遇到顆(ke)粒阻擋時，一部分光將(jiang)發生散(san)射(she)現(xian)象，散(san)射(she)光的傳(chuan)播方向(xiang)將(jiang)與主光束的傳(chuan)播方向(xiang)形成一個夾(jia)角θ，θ角的大小(xiao)(xiao)與顆(ke)粒的大小(xiao)(xiao)有(you)關，顆(ke)粒越大，產生的散(san)射(she)光的θ角就越小(xiao)(xiao)；上海艾飛思告訴您zeta電(dian)位儀(yi)的價(jia)格。

Zeta電(dian)位(wei)儀是華(hua)東(dong)師范(fan)大學與上(shang)海(hai)中晨(chen)數(shu)(shu)字技術(shu)設(she)備有(you)限公司(si)合作在94年推(tui)出(chu)的(de)(de)(de)(de)新(xin)一(yi)代測(ce)(ce)試(shi)儀器的(de)(de)(de)(de)改進型(xing)，新(xin)產品(pin)由新(xin)型(xing)的(de)(de)(de)(de)光(guang)學系統、電(dian)泳(yong)池、數(shu)(shu)據(ju)采樣和數(shu)(shu)據(ju)處理等(deng)(deng)部(bu)分組成(cheng)，實現了(le)由PC個人微機對采樣模塊的(de)(de)(de)(de)控制及后期數(shu)(shu)據(ju)處理的(de)(de)(de)(de)一(yi)體(ti)(ti)(ti)化設(she)計，與其它(ta)同類產品(pin)相比，它(ta)具(ju)有(you)更多的(de)(de)(de)(de)優異性能。Zeta電(dian)位(wei)儀可用(yong)于測(ce)(ce)定(ding)分散體(ti)(ti)(ti)系顆粒物(wu)的(de)(de)(de)(de)固-液界(jie)(jie)面(mian)電(dian)性(ζ電(dian)位(wei))，也可用(yong)于測(ce)(ce)量乳(ru)狀液液滴的(de)(de)(de)(de)界(jie)(jie)面(mian)電(dian)性，也可用(yong)于測(ce)(ce)定(ding)等(deng)(deng)電(dian)點、研究(jiu)界(jie)(jie)面(mian)反應(ying)過(guo)程的(de)(de)(de)(de)機理。通過(guo)測(ce)(ce)定(ding)粉(fen)(fen)體(ti)(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)Zeta電(dian)位(wei)，從pH-Zeta電(dian)位(wei)關系圖上(shang)求出(chu)等(deng)(deng)電(dian)點，是認(ren)識粉(fen)(fen)體(ti)(ti)(ti)表面(mian)電(dian)性的(de)(de)(de)(de)重(zhong)(zhong)要方法，在粉(fen)(fen)體(ti)(ti)(ti)表面(mian)處理中也是重(zhong)(zhong)要的(de)(de)(de)(de)手段(duan)。zeta電(dian)位(wei)儀常見的(de)(de)(de)(de)用(yong)途有(you)哪些？上(shang)海(hai)艾飛思告訴您。寧波污水zeta電(dian)位(wei)儀原(yuan)理

zeta電位儀的應用范(fan)圍十(shi)分廣闊。上海鈦白粉zeta電位儀使用方法

醫藥(yao)和(he)(he)(he)食品(pin)(pin)(pin)(pin)行業乳(ru)劑(ji)的(de)(de)分散(san)和(he)(he)(he)凝聚的(de)(de)模(mo)擬控(kong)制研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)（如食品(pin)(pin)(pin)(pin)、香(xiang)水、藥(yao)品(pin)(pin)(pin)(pin)和(he)(he)(he)化妝品(pin)(pin)(pin)(pin)），蛋白質功(gong)能(neng)研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，核糖體分散(san)和(he)(he)(he)凝聚控(kong)制研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，表面(mian)活(huo)性劑(ji)功(gong)能(neng)研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)（微囊）。陶瓷(ci)和(he)(he)(he)顏料工(gong)業表面(mian)重整控(kong)制研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)、分散(san)和(he)(he)(he)凝聚陶瓷(ci)（矽土、氧(yang)化鋁、二氧(yang)化鈦(tai)(tai)等）和(he)(he)(he)無機溶膠的(de)(de)研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，顏料的(de)(de)分散(san)和(he)(he)(he)凝聚的(de)(de)控(kong)制研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，浮礦收(shou)集器的(de)(de)吸附研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)。聚合物(wu)和(he)(he)(he)化工(gong)領(ling)域乳(ru)劑(ji)(涂料和(he)(he)(he)粘合劑(ji))的(de)(de)分散(san)和(he)(he)(he)凝聚控(kong)制研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，乳(ru)膠表面(mian)重整控(kong)制（藥(yao)品(pin)(pin)(pin)(pin)和(he)(he)(he)工(gong)業用途）。電解聚合物(wu)（聚苯乙烯磺酸(suan)鈉(na)、多(duo)羧酸(suan)等）功(gong)能(neng)研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，控(kong)制造紙和(he)(he)(he)生產紙漿過程研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)，紙漿添加劑(ji)研(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)究(jiu)(jiu)(jiu)。上海鈦(tai)(tai)白粉zeta電位儀使(shi)用方法

本文(wen)來自四川精碳偉業環(huan)保科(ke)技有限責任公司：//wasul.cn/Article/81d23499684.html