自(zi)動(dong)光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)（AOI）是一種利用光(guang)(guang)學(xue)技術對(dui)(dui)(dui)電子元件(jian)進(jin)行(xing)非接(jie)觸式檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)。AOI設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)可(ke)以(yi)自(zi)動(dong)地檢(jian)(jian)(jian)查印刷電路板（PCB）或(huo)電子組(zu)件(jian)上(shang)的(de)(de)(de)(de)焊(han)接(jie)、組(zu)裝和(he)表(biao)面缺(que)(que)陷，以(yi)確(que)(que)保產品(pin)的(de)(de)(de)(de)質(zhi)量和(he)一致性(xing)。AOI檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)通(tong)(tong)常(chang)(chang)包括以(yi)下主要組(zu)件(jian)：光(guang)(guang)源：AOI設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)使用適(shi)當的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)源，如LED或(huo)激光(guang)(guang)，來照亮待(dai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)(dui)(dui)象(xiang)的(de)(de)(de)(de)表(biao)面。光(guang)(guang)源的(de)(de)(de)(de)選(xuan)擇(ze)將根據(ju)被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)(dui)(dui)象(xiang)和(he)待(dai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)性(xing)質(zhi)而定。攝(she)像(xiang)頭：AOI設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)配備(bei)(bei)(bei)了高(gao)分(fen)辨率的(de)(de)(de)(de)攝(she)像(xiang)頭，用于捕捉(zhuo)待(dai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)(dui)(dui)象(xiang)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)。這(zhe)些攝(she)像(xiang)頭通(tong)(tong)常(chang)(chang)具(ju)有(you)高(gao)速捕捉(zhuo)能(neng)力，以(yi)獲取清晰的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)。圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)處理(li)和(he)分(fen)析算法(fa)：AOI設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)使用圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)處理(li)和(he)分(fen)析算法(fa)對(dui)(dui)(dui)攝(she)像(xiang)頭捕捉(zhuo)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)進(jin)行(xing)處理(li)和(he)分(fen)析，從而檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)出(chu)可(ke)能(neng)的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷或(huo)異(yi)常(chang)(chang)。這(zhe)些算法(fa)可(ke)以(yi)識別(bie)焊(han)接(jie)缺(que)(que)陷、元件(jian)偏(pian)移、異(yi)常(chang)(chang)連接(jie)等(deng)。數(shu)據(ju)庫和(he)比對(dui)(dui)(dui)：AOI設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)通(tong)(tong)常(chang)(chang)具(ju)備(bei)(bei)(bei)數(shu)據(ju)庫功能(neng)，其(qi)中包含了已知的(de)(de)(de)(de)良(liang)品(pin)和(he)次(ci)品(pin)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)數(shu)據(ju)。設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)可(ke)以(yi)將待(dai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)(dui)(dui)象(xiang)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)與(yu)數(shu)據(ju)庫中的(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)進(jin)行(xing)比對(dui)(dui)(dui)，以(yi)確(que)(que)定是否存在缺(que)(que)陷或(huo)異(yi)常(chang)(chang)。AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)技術在輕量化(hua)零(ling)件(jian)制造領域有(you)著普遍應(ying)用，提升了輕量化(hua)材(cai)料的(de)(de)(de)(de)應(ying)用優勢。山東自(zi)動(dong)化(hua)AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)(bei)性(xing)能(neng)

AOI自動(dong)(dong)光(guang)(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)是一(yi)種基于(yu)(yu)光(guang)(guang)學(xue)(xue)原理的(de)自動(dong)(dong)化(hua)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術，普遍應(ying)用(yong)于(yu)(yu)電(dian)子(zi)制造(zao)(zao)、半(ban)導體(ti)、光(guang)(guang)電(dian)子(zi)、汽(qi)車(che)(che)制造(zao)(zao)等(deng)行業(ye)。以(yi)(yi)下(xia)是一(yi)些常見的(de)AOI光(guang)(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備應(ying)用(yong)場景：電(dian)子(zi)制造(zao)(zao)：AOI常用(yong)于(yu)(yu)電(dian)子(zi)印(yin)(yin)刷電(dian)路板（PCB）的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)焊(han)(han)盤、元件(jian)(jian)(jian)、引腳等(deng)的(de)缺(que)陷(xian)(xian)、偏移、錯誤安(an)裝(zhuang)等(deng)問題。半(ban)導體(ti)制造(zao)(zao)：在半(ban)導體(ti)芯(xin)片(pian)制造(zao)(zao)過程中，AOI可(ke)(ke)以(yi)(yi)用(yong)于(yu)(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)芯(xin)片(pian)外觀、連(lian)(lian)線、缺(que)陷(xian)(xian)等(deng)問題，確(que)保芯(xin)片(pian)質量符合要求。光(guang)(guang)電(dian)子(zi)制造(zao)(zao)：AOI可(ke)(ke)用(yong)于(yu)(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)光(guang)(guang)學(xue)(xue)元件(jian)(jian)(jian)、光(guang)(guang)纖連(lian)(lian)接(jie)器、激光(guang)(guang)器等(deng)光(guang)(guang)學(xue)(xue)設(she)(she)備的(de)裝(zhuang)配質量，包括表(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)、偏移、尺寸不良(liang)等(deng)。汽(qi)車(che)(che)制造(zao)(zao)：在汽(qi)車(che)(che)制造(zao)(zao)過程中，AOI可(ke)(ke)以(yi)(yi)用(yong)于(yu)(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)子(zi)元件(jian)(jian)(jian)的(de)安(an)裝(zhuang)、焊(han)(han)接(jie)質量、電(dian)子(zi)線束連(lian)(lian)接(jie)等(deng)，確(que)保汽(qi)車(che)(che)電(dian)子(zi)系統的(de)正常運行。醫(yi)(yi)療(liao)器械制造(zao)(zao)：AOI可(ke)(ke)應(ying)用(yong)于(yu)(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)醫(yi)(yi)療(liao)器械組(zu)裝(zhuang)過程中的(de)問題，如微型元件(jian)(jian)(jian)安(an)裝(zhuang)、精(jing)密(mi)連(lian)(lian)接(jie)等(deng)，確(que)保產品質量和(he)性能。遼寧自動(dong)(dong)AOI光(guang)(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備批發AOI光(guang)(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)器可(ke)(ke)以(yi)(yi)對多層(ceng)印(yin)(yin)制電(dian)路板進行快(kuai)速、準確(que)地檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，提高制造(zao)(zao)效率。

AOI技術在(zai)汽(qi)車(che)(che)電子制(zhi)(zhi)造(zao)(zao)業中(zhong)扮演(yan)著重要的(de)(de)(de)(de)角色。以(yi)下(xia)是(shi)AOI技術在(zai)該(gai)行(xing)(xing)業中(zhong)的(de)(de)(de)(de)幾個(ge)關鍵作用：缺陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)：AOI技術可(ke)以(yi)在(zai)汽(qi)車(che)(che)電子組裝(zhuang)過程中(zhong)對電路板和(he)元器件(jian)進行(xing)(xing)快速(su)而(er)準確的(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)。它(ta)能(neng)夠檢(jian)測(ce)(ce)和(he)識別焊(han)接缺陷(xian)(xian)、缺失元件(jian)、元件(jian)偏移、短(duan)路、開路和(he)其他(ta)質量(liang)問題(ti)。通(tong)過自動化的(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)，可(ke)以(yi)提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)一致性(xing)和(he)質量(liang)。自動化檢(jian)驗：AOI系統(tong)能(neng)夠針對汽(qi)車(che)(che)電子組裝(zhuang)線上的(de)(de)(de)(de)大批量(liang)生產(chan)進行(xing)(xing)自動化檢(jian)驗。它(ta)可(ke)以(yi)快速(su)掃(sao)描電路板的(de)(de)(de)(de)各(ge)個(ge)區域，對大量(liang)元器件(jian)進行(xing)(xing)檢(jian)測(ce)(ce)，從(cong)而(er)加快生產(chan)速(su)度并減少人工成(cheng)本(ben)。數據分析(xi)和(he)質量(liang)控(kong)制(zhi)(zhi)：AOI系統(tong)能(neng)夠收集和(he)分析(xi)大量(liang)關于(yu)電子組件(jian)和(he)產(chan)品(pin)質量(liang)的(de)(de)(de)(de)數據。通(tong)過對這些數據的(de)(de)(de)(de)分析(xi)，制(zhi)(zhi)造(zao)(zao)商(shang)可(ke)以(yi)了解制(zhi)(zhi)造(zao)(zao)過程中(zhong)的(de)(de)(de)(de)趨勢和(he)異常，并采取相應的(de)(de)(de)(de)措(cuo)施來改進質量(liang)控(kong)制(zhi)(zhi)流程，提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)和(he)一致性(xing)。

AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)設(she)備(bei)可(ke)以采取以下(xia)方法來應(ying)對(dui)微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)：高(gao)分(fen)(fen)(fen)辨率：微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)通常具(ju)有非常小的(de)(de)(de)尺寸和(he)(he)高(gao)密(mi)度(du)(du)的(de)(de)(de)器件(jian)，因此，AOI設(she)備(bei)需要具(ju)備(bei)高(gao)分(fen)(fen)(fen)辨率的(de)(de)(de)成像能(neng)力(li)，才(cai)能(neng)準(zhun)確地檢(jian)(jian)測(ce)和(he)(he)分(fen)(fen)(fen)析(xi)這些細小的(de)(de)(de)結構。現(xian)代的(de)(de)(de)AOI設(she)備(bei)通常具(ju)有高(gao)分(fen)(fen)(fen)辨率的(de)(de)(de)圖(tu)像傳感器和(he)(he)先進的(de)(de)(de)光(guang)學(xue)(xue)系(xi)統，可(ke)以實(shi)現(xian)對(dui)微(wei)(wei)小尺寸器件(jian)的(de)(de)(de)清晰(xi)(xi)成像。多(duo)角(jiao)(jiao)度(du)(du)檢(jian)(jian)測(ce)：一些微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)的(de)(de)(de)特征可(ke)能(neng)只能(neng)在特定角(jiao)(jiao)度(du)(du)下(xia)才(cai)能(neng)被正(zheng)確檢(jian)(jian)測(ce)到。因此，AOI設(she)備(bei)可(ke)能(neng)具(ju)備(bei)多(duo)個角(jiao)(jiao)度(du)(du)的(de)(de)(de)觀(guan)察能(neng)力(li)，通過分(fen)(fen)(fen)析(xi)不同(tong)角(jiao)(jiao)度(du)(du)的(de)(de)(de)圖(tu)像來獲取更多(duo)方面的(de)(de)(de)信息。這樣(yang)(yang)可(ke)以提(ti)高(gao)對(dui)微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)準(zhun)確性(xing)(xing)。自(zi)動(dong)聚(ju)(ju)焦和(he)(he)自(zi)動(dong)對(dui)焦：微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)通常具(ju)有不同(tong)的(de)(de)(de)高(gao)度(du)(du)和(he)(he)復雜的(de)(de)(de)三維結構。為了在整個表面范圍內進行準(zhun)確的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)，AOI設(she)備(bei)通常配備(bei)自(zi)動(dong)聚(ju)(ju)焦和(he)(he)自(zi)動(dong)對(dui)焦功能(neng)，以確保不同(tong)區(qu)域都能(neng)夠得到清晰(xi)(xi)的(de)(de)(de)圖(tu)像。這樣(yang)(yang)可(ke)以在不損(sun)失精度(du)(du)的(de)(de)(de)情況下(xia)適應(ying)不同(tong)尺寸和(he)(he)高(gao)度(du)(du)的(de)(de)(de)微(wei)(wei)型(xing)(xing)化(hua)(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)。AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)技術在PCB板生產(chan)中也有著普遍的(de)(de)(de)應(ying)用，提(ti)高(gao)了制(zhi)造(zao)水平和(he)(he)品(pin)質(zhi)穩定性(xing)(xing)。

要確(que)(que)保(bao)AOI系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)和(he)(he)(he)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確(que)(que)性(xing)，可(ke)以(yi)(yi)采取(qu)以(yi)(yi)下措施：設(she)(she)備(bei)選擇(ze)：選擇(ze)可(ke)靠、經(jing)過(guo)驗(yan)證的(de)(de)(de)AOI設(she)(she)備(bei)供應商，確(que)(que)保(bao)其(qi)產品質量(liang)和(he)(he)(he)性(xing)能。校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)驗(yan)證：對AOI系(xi)統(tong)(tong)進行定期校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)驗(yan)證，以(yi)(yi)確(que)(que)保(bao)其(qi)測量(liang)結(jie)果(guo)的(de)(de)(de)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確(que)(que)性(xing)。校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)過(guo)程可(ke)以(yi)(yi)包(bao)括參(can)考樣本(ben)的(de)(de)(de)測量(liang)和(he)(he)(he)對系(xi)統(tong)(tong)參(can)數(shu)的(de)(de)(de)調整。合(he)(he)適參(can)數(shu)設(she)(she)置(zhi)(zhi)：根據(ju)制造過(guo)程的(de)(de)(de)要求，正確(que)(que)設(she)(she)置(zhi)(zhi)AOI系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)參(can)數(shu)，如光(guang)照(zhao)強度(du)、曝光(guang)時間(jian)、顏色濾(lv)波等(deng)，以(yi)(yi)確(que)(que)保(bao)可(ke)以(yi)(yi)有(you)效地檢(jian)測到相關(guan)缺(que)陷(xian)和(he)(he)(he)瑕疵。檢(jian)測算法改進：繼續改進和(he)(he)(he)優化AOI系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)檢(jian)測算法，以(yi)(yi)提高檢(jian)測的(de)(de)(de)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確(que)(que)性(xing)和(he)(he)(he)穩定性(xing)。可(ke)以(yi)(yi)結(jie)合(he)(he)機器學(xue)(xue)習(xi)和(he)(he)(he)深(shen)度(du)學(xue)(xue)習(xi)技術，訓(xun)練(lian)模型以(yi)(yi)識別和(he)(he)(he)分類(lei)各種缺(que)陷(xian)類(lei)型。AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測設(she)(she)備(bei)可(ke)以(yi)(yi)自(zi)動記錄(lu)檢(jian)測過(guo)程和(he)(he)(he)結(jie)果(guo)，便(bian)于后續分析和(he)(he)(he)跟蹤。武漢AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測設(she)(she)備(bei)方案

AOI光(guang)學檢(jian)測技術不(bu)需(xu)要停頓生(sheng)產(chan)(chan)線或人工提交樣本到實驗室，可快速檢(jian)測大批(pi)量產(chan)(chan)品。山東自動化AOI光(guang)學檢(jian)測設(she)備性能

AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)(bei)主要用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)PCB的焊(han)接(jie)、組(zu)裝(zhuang)和(he)(he)表(biao)面(mian)缺(que)陷，而(er)不(bu)是(shi)進行(xing)電(dian)(dian)氣(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)或功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。這些(xie)設(she)備(bei)(bei)(bei)使用(yong)光(guang)源、攝像頭和(he)(he)圖像處理(li)算法等組(zu)件來(lai)檢(jian)(jian)(jian)(jian)查PCB上(shang)的元件、焊(han)點和(he)(he)印(yin)刷電(dian)(dian)路(lu)(lu)的正確性和(he)(he)質量(liang)。與電(dian)(dian)氣(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)和(he)(he)功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)不(bu)同(tong)，AOI檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)側重于(yu)外觀和(he)(he)物理(li)特(te)征(zheng)。它可以(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)焊(han)點是(shi)否存在(zai)缺(que)陷（例(li)如錫短路(lu)(lu)、開焊(han)等）、組(zu)件是(shi)否正確安(an)裝(zhuang)（方(fang)向、位置等）、印(yin)刷電(dian)(dian)路(lu)(lu)是(shi)否存在(zai)缺(que)陷（開路(lu)(lu)、短路(lu)(lu)等）以(yi)及表(biao)面(mian)缺(que)陷（劃(hua)痕、污染等）。電(dian)(dian)氣(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)通常使用(yong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀器來(lai)檢(jian)(jian)(jian)(jian)查PCB上(shang)的電(dian)(dian)氣(qi)連接(jie)和(he)(he)功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)。這些(xie)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)可以(yi)驗證電(dian)(dian)路(lu)(lu)的電(dian)(dian)氣(qi)特(te)性，例(li)如電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)容(rong)和(he)(he)電(dian)(dian)感等。功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)則涉及模擬實際使用(yong)情(qing)況(kuang)下的功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)操作，以(yi)確保PCB按預期運行(xing)。因(yin)此，AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)(bei)和(he)(he)電(dian)(dian)氣(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)/功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)在(zai)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)原理(li)和(he)(he)目標(biao)上(shang)存在(zai)差異。AOI設(she)備(bei)(bei)(bei)主要用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)外觀和(he)(he)物理(li)特(te)征(zheng)，而(er)電(dian)(dian)氣(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)和(he)(he)功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)主要用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)(jian)(jian)驗電(dian)(dian)氣(qi)連接(jie)和(he)(he)功能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)工(gong)作。在(zai)PCB制造和(he)(he)組(zu)裝(zhuang)過(guo)程中，這兩種測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)方(fang)法通常會結合使用(yong)，以(yi)確保產品的質量(liang)和(he)(he)性能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)達到(dao)要求。山(shan)東自動化AOI光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)(bei)性能(neng)(neng)(neng)(neng)(neng)

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