賦耘(yun)代理奧林巴(ba)斯金(jin)相(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡，用于(yu)清(qing)(qing)潔(jie)度測(ce)試實驗(yan)，自動(dong)掃(sao)描平臺。VDA19外來(lai)污染物的(de)(de)(de)(de)測(ce)試ISO4406清(qing)(qing)潔(jie)度是指(zhi)(zhi)(zhi)產(chan)品規定部(bu)位(wei)的(de)(de)(de)(de)清(qing)(qing)潔(jie)程(cheng)度其定義(yi)是指(zhi)(zhi)(zhi)零(ling)件、總成(cheng)及(ji)整機“規定部(bu)位(wei)”的(de)(de)(de)(de)清(qing)(qing)潔(jie)程(cheng)度或被雜質(zhi)污染的(de)(de)(de)(de)程(cheng)度。用從規定部(bu)位(wei)以(yi)及(ji)規定方(fang)法采集到雜質(zhi)微(wei)(wei)(wei)粒的(de)(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)、大小和(he)數量(liang)來(lai)表示(shi)，“規定部(bu)位(wei)”是指(zhi)(zhi)(zhi)危及(ji)產(chan)品可靠性(xing)的(de)(de)(de)(de)特征部(bu)位(wei)。“雜質(zhi)”包(bao)括(kuo)產(chan)品設計(ji)、制造(zao)、運輸(shu)、使(shi)用和(he)維修過程(cheng)中，本身殘(can)留的(de)(de)(de)(de)、外界混(hun)入的(de)(de)(de)(de)和(he)系統生成(cheng)的(de)(de)(de)(de)全(quan)部(bu)雜質(zhi)。檢(jian)(jian)測(ce)目的(de)(de)(de)(de)：通(tong)過標準的(de)(de)(de)(de)方(fang)法來(lai)驗(yan)證(zheng)產(chan)品的(de)(de)(de)(de)清(qing)(qing)潔(jie)度是否符合相(xiang)關行(xing)業的(de)(de)(de)(de)限值(zhi)要求。檢(jian)(jian)測(ce)意義(yi)：對于(yu)精密(mi)零(ling)部(bu)件,產(chan)品表面殘(can)留的(de)(de)(de)(de)微(wei)(wei)(wei)小顆粒物超出規定的(de)(de)(de)(de)限值(zhi)會直接影響產(chan)品在裝配時的(de)(de)(de)(de)緊密(mi)度,并(bing)且使(shi)產(chan)品的(de)(de)(de)(de)磨損老(lao)化加速(su)。通(tong)過清(qing)(qing)潔(jie)度檢(jian)(jian)測(ce)并(bing)規定其限值(zhi)，可減輕(qing)顆粒磨損造(zao)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)損害，提高整機運行(xing)壽命(ming)和(he)可靠性(xing)，減少對整機的(de)(de)(de)(de)危害如：濾芯(xin)堵塞，回路流量(liang)減小，密(mi)封材(cai)料、隔膜的(de)(de)(de)(de)異常磨損，積存大量(liang)污垢造(zao)成(cheng)工(gong)作(zuo)不(bu)可靠，電磁(ci)轉換閥的(de)(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)不(bu)可靠或燒損等。賦耘(yun)檢(jian)(jian)測(ce)技術（上海）有限公司金(jin)相(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡說明書提供！浙江替(ti)代奧林巴(ba)斯金(jin)相(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡廠家直銷

金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)學(xue)已成為近百年(nian)來科學(xue)和(he)工(gong)(gong)業發展的(de)寶貴工(gong)(gong)具。使(shi)用光學(xue)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡在金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)學(xue)中建立的(de)微(wei)(wei)(wei)觀結(jie)構(gou)和(he)宏觀性能之間的(de)早關(guan)聯包括(kuo)：隨著晶(jing)粒尺寸的(de)減小(xiao)，屈服強度(du)和(he)硬度(du)普(pu)遍提高具有(you)細(xi)長晶(jing)粒和(he)/或推薦晶(jing)粒取向的(de)各向異(yi)性機械性能隨著夾雜(za)物(wu)含(han)(han)量(liang)的(de)增加，延展性總體下降夾雜(za)物(wu)含(han)(han)量(liang)和(he)分布對疲勞裂紋擴展速(su)率（金(jin)(jin)屬）和(he)斷裂韌性參數（陶瓷）的(de)直接影響失效(xiao)起(qi)始點與(yu)材(cai)料間斷或微(wei)(wei)(wei)觀結(jie)構(gou)特征（例如(ru)第二相(xiang)(xiang)顆粒）的(de)關(guan)聯通(tong)過(guo)檢查(cha)(cha)和(he)量(liang)化材(cai)料的(de)微(wei)(wei)(wei)觀結(jie)構(gou)，可以更好地了解其性能。因此，金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)學(xue)幾乎在組件的(de)整(zheng)個生命周期的(de)所有(you)階(jie)段都使(shi)用：從初的(de)材(cai)料開發到檢查(cha)(cha)，生產，制(zhi)造過(guo)程控制(zhi)，甚(shen)至在需(xu)要(yao)時進行故障(zhang)分析。金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)學(xue)原(yuan)理(li)有(you)助于確保產品的(de)可靠(kao)性。金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡在這個過(guo)程中起(qi)到不可或缺的(de)作用。山西正置金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡怎么選擇賦耘檢測技(ji)術（上海）有(you)限公司金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡可以用于低合金(jin)(jin)工(gong)(gong)具鋼(gang)的(de)金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)檢驗嗎？

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賦耘檢(jian)測(ce)技術（上海(hai)）有限公(gong)司金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)透(tou)(tou)明的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)球(qiu)形(xing)夾(jia)雜物在偏振光(guang)下除可(ke)見其(qi)透(tou)(tou)明度及色(se)彩(cai)外，還可(ke)看到(dao)“黑十字”及“等(deng)(deng)色(se)環”現象(xiang)，如圖(tu)3-18c所示(shi)。如球(qiu)狀的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)SiO?硅(gui)(gui)酸(suan)(suan)鹽(yan)及復合(he)硅(gui)(gui)酸(suan)(suan)鹽(yan)2FeO·SiO，等(deng)(deng)，偏振光(guang)下都呈現黑十字。利用(yong)偏振光(guang)還可(ke)對(dui)(dui)各向(xiang)同性金(jin)(jin)屬中(zhong)奧氏體(ti)晶(jing)粒、馬氏體(ti)、貝氏體(ti)及鋁晶(jing)粒進(jin)行(xing)顯(xian)示(shi)，并可(ke)分析塑性變形(xing)金(jin)(jin)屬晶(jing)粒位向(xiang)及復相(xiang)(xiang)合(he)金(jin)(jin)組織(zhi)等(deng)(deng)。金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)所研究(jiu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)(dui)象(xiang)是(shi)不透(tou)(tou)明的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)試樣，必(bi)須依靠附加的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)源照(zhao)(zhao)射到(dao)試樣的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表面(mian)，才能識別顯(xian)微(wei)組織(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)貌。照(zhao)(zhao)明系統(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)任務是(shi)根據不同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)研究(jiu)目的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，對(dui)(dui)光(guang)束進(jin)行(xing)調(diao)改變采(cai)光(guang)方式，并完(wan)成(cheng)光(guang)線行(xing)程的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)轉(zhuan)換(huan)。因此，照(zhao)(zhao)明系統(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)主要部件(jian)有光(guang)源、垂(chui)直(zhi)照(zhao)(zhao)明光(guang)闌、濾等(deng)(deng)。3.機(ji)(ji)械(xie)系統(tong)機(ji)(ji)械(xie)系統(tong)包(bao)括(kuo)支(zhi)承顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)底座，放置樣品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)載物臺，安裝物鏡(jing)(jing)(jing)、垂(chui)直(zhi)照(zhao)(zhao)明器及目鏡(jing)(jing)(jing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)機(ji)(ji)械(xie)鏡(jing)(jing)(jing)筒、聚(ju)焦(jiao)用(yong)螺釘。機(ji)(ji)械(xie)鏡(jing)(jing)(jing)筒的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)長度已標準化(hua)，規定為(wei)160mm和170mm，我(wo)國多采(cai)用(yong)160mm。賦耘檢(jian)測(ce)技術（上海(hai)）有限公(gong)司金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)動態測(ce)量，無需(xu)將(jiang)圖(tu)片(pian)采(cai)集！

金相(xiang)(xiang)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)(jing)所研究(jiu)的(de)對象是不(bu)透(tou)明(ming)的(de)金相(xiang)(xiang)試樣(yang)，必須(xu)依(yi)靠附加的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)源照射到試樣(yang)的(de)表(biao)面，才能(neng)識別顯(xian)(xian)微(wei)(wei)(wei)組織(zhi)的(de)形(xing)貌。照明(ming)系(xi)統(tong)的(de)任務(wu)是根據不(bu)同的(de)研究(jiu)目(mu)的(de)，對光(guang)(guang)(guang)(guang)束(shu)進行調改(gai)變(bian)采光(guang)(guang)(guang)(guang)方式，并完成光(guang)(guang)(guang)(guang)線行程的(de)轉換。因此，照明(ming)系(xi)統(tong)的(de)主要部(bu)件有光(guang)(guang)(guang)(guang)源、垂(chui)直(zhi)照明(ming)光(guang)(guang)(guang)(guang)闌、濾 等。3.機(ji)械(xie)(xie)系(xi)統(tong)機(ji)械(xie)(xie)系(xi)統(tong)包括支承(cheng)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)(jing)的(de)底座，放置(zhi)樣(yang)品的(de)載物(wu)(wu)臺，安裝(zhuang)物(wu)(wu)鏡(jing)(jing)、垂(chui)直(zhi)照明(ming)器及目(mu)鏡(jing)(jing)的(de)機(ji)械(xie)(xie)鏡(jing)(jing)筒(tong)、聚焦用(yong)螺釘。機(ji)械(xie)(xie)鏡(jing)(jing)筒(tong)的(de)長度已標準化，規定為(wei)160mm和(he)170mm，我國(guo)多(duo)采用(yong)160mm。什么(me)品牌(pai)的(de)金相(xiang)(xiang)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)(jing)性比(bi)價高？吉林反射正置(zhi)金相(xiang)(xiang)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)(jing)廠家直(zhi)銷

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