板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)是一種(zhong)高效、精確的(de)(de)(de)(de)(de)自(zi)動化檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)，可(ke)以(yi)幫(bang)助生(sheng)產(chan)企業快速(su)、準確地(di)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，提高產(chan)品質量和(he)(he)生(sheng)產(chan)效率。該設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)作(zuo)非(fei)常簡(jian)單(dan)，只需(xu)要將(jiang)板(ban)(ban)材(cai)(cai)放(fang)(fang)在設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)工作(zuo)臺上即可(ke)開始檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。首先，板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)采用了先進(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)光學技術和(he)(he)圖像(xiang)處理(li)技術，可(ke)以(yi)對板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)進(jin)行(xing)高精度的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)通過對板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面進(jin)行(xing)掃描(miao)，獲取高清晰(xi)度的(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)，并利用圖像(xiang)處理(li)技術對圖像(xiang)進(jin)行(xing)分析(xi)和(he)(he)處理(li)，從而識(shi)別(bie)出(chu)板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)。其次，板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)作(zuo)非(fei)常簡(jian)單(dan)，只需(xu)要將(jiang)板(ban)(ban)材(cai)(cai)放(fang)(fang)在設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)工作(zuo)臺上即可(ke)開始檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)會(hui)自(zi)動對板(ban)(ban)材(cai)(cai)進(jin)行(xing)掃描(miao)，并在短時(shi)間內完成檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)結果會(hui)以(yi)圖像(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)形式(shi)顯示出(chu)來(lai)，方便操(cao)(cao)作(zuo)人員進(jin)行(xing)查看(kan)和(he)(he)分析(xi)。此外，板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)還具(ju)有(you)高度的(de)(de)(de)(de)(de)靈活(huo)性和(he)(he)適應性，可(ke)以(yi)根據(ju)不同的(de)(de)(de)(de)(de)板(ban)(ban)材(cai)(cai)類(lei)型和(he)(he)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)類(lei)型進(jin)行(xing)調整和(he)(he)優化。設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)可(ke)以(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)各(ge)種(zhong)類(lei)型的(de)(de)(de)(de)(de)板(ban)(ban)材(cai)(cai)，包括木板(ban)(ban)、石板(ban)(ban)、金屬板(ban)(ban)等(deng)，并可(ke)以(yi)識(shi)別(bie)出(chu)各(ge)種(zhong)類(lei)型的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，如裂(lie)紋、孔洞、劃痕等(deng)。板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)基于人工智能技術，可(ke)以(yi)智能地(di)分析(xi)板(ban)(ban)材(cai)(cai)表(biao)(biao)面圖像(xiang)，找(zhao)出(chu)潛在的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)。浙(zhe)江產(chan)品缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)

而企業用工就需要考慮員工的(de)(de)錄用成(cheng)本(ben)(ben)、流(liu)動成(cheng)本(ben)(ben)等(deng)，所以(yi)(yi)綜合(he)(he)比較而言，機器視(shi)覺檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設(she)備在保證生(sheng)產(chan)效率的(de)(de)同時可為企業節(jie)約更多開支。把鋁(lv)(lv)箔和紙、塑料(liao)薄膜、紙板貼合(he)(he)在—起形成(cheng)的(de)(de)復合(he)(he)鋁(lv)(lv)箔，它的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)主(zhu)要是由軋輥(gun)(gun)引起的(de)(de)鋁(lv)(lv)箔缺(que)(que)陷(xian)，分為點、線(xian)(xian)、面(mian)三種。造成(cheng)這(zhe)種缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)主(zhu)要原(yuan)因(yin)為：軋輥(gun)(gun)不正(zheng)確的(de)(de)磨削；外來(lai)物損傷(shang)軋輥(gun)(gun)：來(lai)料(liao)缺(que)(que)陷(xian)印傷(shang)軋輥(gun)(gun)；軋輥(gun)(gun)疲勞；輥(gun)(gun)間撞擊(ji)、打(da)滑(hua)等(deng)。所有可以(yi)(yi)造成(cheng)軋輥(gun)(gun)表(biao)面(mian)損傷(shang)的(de)(de)因(yin)素，均可對鋁(lv)(lv)箔軋制(zhi)形成(cheng)危害。本(ben)(ben)產(chan)品實時在線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，自動統計缺(que)(que)陷(xian)種類、大小、位(wei)置、圖像等(deng)信(xin)(xin)息(xi)，嚴格掌(zhang)握(wo)產(chan)品生(sheng)產(chan)信(xin)(xin)息(xi)取代(dai)人工檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，提升檢(jian)(jian)(jian)(jian)測精度的(de)(de)同時降低(di)生(sheng)產(chan)成(cheng)本(ben)(ben)浙(zhe)江產(chan)品缺(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設(she)備缺(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設(she)備可放大被檢(jian)(jian)(jian)(jian)測物表(biao)面(mian)細微缺(que)(que)陷(xian)， 是檢(jian)(jian)(jian)(jian)測表(biao)面(mian)變形、裂紋等(deng)常(chang)用儀器。

表(biao)(biao)面(mian)外觀缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)技(ji)(ji)(ji)術難點：根據不同的(de)(de)分類(lei)(lei)標準(zhun)，產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)可(ke)以分為(wei)很多(duo)類(lei)(lei)別：例如(ru)，根據產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)外形，可(ke)以分為(wei)規(gui)則產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)不規(gui)則產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)。按(an)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)來分，可(ke)以分為(wei)金屬零(ling)件的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)塑(su)膠零(ling)件的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)。根據檢(jian)(jian)(jian)查要(yao)求，主要(yao)分為(wei)全部缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)部分缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)。杭州赤霄科技(ji)(ji)(ji)有限公司(si)作為(wei)一(yi)家出色的(de)(de)機器(qi)視覺(jue)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)服(fu)務(wu)供應商，具(ju)(ju)有完備的(de)(de)機器(qi)視覺(jue)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)解決方案(an)及十余(yu)年的(de)(de)機器(qi)視覺(jue)技(ji)(ji)(ji)術研發經驗，作為(wei)國內比(bi)較早從(cong)業機器(qi)視覺(jue)運(yun)用產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)研發團隊之一(yi)，具(ju)(ju)備中國先進技(ji)(ji)(ji)術性、好(hao)的(de)(de)合作伙伴、豐富(fu)多(duo)彩(cai)的(de)(de)案(an)例及品(pin)(pin)質好(hao)的(de)(de)服(fu)務(wu)四大優勢，虛數(shu)科技(ji)(ji)(ji)用好(hao)的(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，為(wei)用戶(hu)提供高質量服(fu)務(wu)！

表(biao)面缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是(shi)機器視覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)重要(yao)(yao)組(zu)成(cheng)部分，其檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)準確性將直接影響(xiang)產(chan)品(pin)的(de)(de)(de)質(zhi)量。由于(yu)手工檢(jian)(jian)(jian)(jian)查的(de)(de)(de)方法(fa)長期以(yi)(yi)來(lai)(lai)不能滿(man)足生產(chan)和現(xian)(xian)(xian)代技(ji)術制造的(de)(de)(de)需要(yao)(yao)，而機器視覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)使用可以(yi)(yi)很好(hao)地克服這(zhe)一(yi)問(wen)(wen)題，因此表(biao)面缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)(she)備的(de)(de)(de)應(ying)用越(yue)來(lai)(lai)越(yue)普遍。缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)，是(shi)各行業產(chan)品(pin)質(zhi)量管(guan)理體系中的(de)(de)(de)重要(yao)(yao)一(yi)環，也(ye)是(shi)產(chan)品(pin)在正式(shi)投入市(shi)場應(ying)用前的(de)(de)(de)一(yi)道屏(ping)障(zhang)。由于(yu)產(chan)品(pin)可能出現(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)品(pin)質(zhi)問(wen)(wen)題多(duo)種(zhong)多(duo)樣(yang)，沒有統一(yi)的(de)(de)(de)衡量標準，所以(yi)(yi)一(yi)直以(yi)(yi)來(lai)(lai)，產(chan)品(pin)質(zhi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)都(dou)是(shi)依靠人工來(lai)(lai)完成(cheng)。X-ray缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)(she)備采用無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)技(ji)術，不會對材料造成(cheng)損(sun)傷，實現(xian)(xian)(xian)非破壞性檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)。

在(zai)玻(bo)璃(li)生(sheng)(sheng)產過程(cheng)中(zhong)，何(he)時(shi)使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)？1.原(yuan)材(cai)料(liao)(liao)準備(bei)(bei)階(jie)(jie)段(duan)(duan)：在(zai)玻(bo)璃(li)生(sheng)(sheng)產的(de)(de)(de)(de)原(yuan)材(cai)料(liao)(liao)準備(bei)(bei)階(jie)(jie)段(duan)(duan)，就(jiu)需(xu)要(yao)使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。這(zhe)(zhe)是(shi)因(yin)為(wei)，如(ru)(ru)果(guo)(guo)原(yuan)材(cai)料(liao)(liao)中(zhong)有嚴重的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)，如(ru)(ru)裂紋、氣泡等，那(nei)么(me)這(zhe)(zhe)些缺(que)(que)(que)陷(xian)很可能會(hui)在(zai)后(hou)續的(de)(de)(de)(de)生(sheng)(sheng)產過程(cheng)中(zhong)進(jin)(jin)(jin)一步擴大(da)，終會(hui)影響到產品的(de)(de)(de)(de)質量。因(yin)此，為(wei)了避免這(zhe)(zhe)種情況(kuang)的(de)(de)(de)(de)發生(sheng)(sheng)，必須(xu)在(zai)原(yuan)材(cai)料(liao)(liao)準備(bei)(bei)階(jie)(jie)段(duan)(duan)就(jiu)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)詳細(xi)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。2.熔(rong)(rong)化和(he)均(jun)化階(jie)(jie)段(duan)(duan)：在(zai)玻(bo)璃(li)熔(rong)(rong)化和(he)均(jun)化階(jie)(jie)段(duan)(duan)，也(ye)需(xu)要(yao)使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。這(zhe)(zhe)是(shi)因(yin)為(wei)，這(zhe)(zhe)個階(jie)(jie)段(duan)(duan)是(shi)玻(bo)璃(li)形(xing)成的(de)(de)(de)(de)關鍵階(jie)(jie)段(duan)(duan)，如(ru)(ru)果(guo)(guo)在(zai)這(zhe)(zhe)個階(jie)(jie)段(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結果(guo)(guo)不(bu)理想，那(nei)么(me)可能會(hui)導致(zhi)玻(bo)璃(li)的(de)(de)(de)(de)內部結構不(bu)均(jun)勻，影響到產品的(de)(de)(de)(de)性(xing)能。3.冷卻和(he)成型階(jie)(jie)段(duan)(duan)：在(zai)玻(bo)璃(li)冷卻和(he)成型階(jie)(jie)段(duan)(duan)，也(ye)需(xu)要(yao)使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。如(ru)(ru)果(guo)(guo)在(zai)這(zhe)(zhe)個階(jie)(jie)段(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結果(guo)(guo)不(bu)理想，那(nei)么(me)可能會(hui)導致(zhi)產品的(de)(de)(de)(de)外觀缺(que)(que)(que)陷(xian)，影響到產品的(de)(de)(de)(de)銷售。4.后(hou)期(qi)處理階(jie)(jie)段(duan)(duan)：在(zai)玻(bo)璃(li)后(hou)期(qi)處理階(jie)(jie)段(duan)(duan)，雖然不(bu)需(xu)要(yao)頻(pin)繁(fan)地使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，但是(shi)在(zai)某(mou)些情況(kuang)下，如(ru)(ru)需(xu)要(yao)對產品進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)嚴格的(de)(de)(de)(de)質量檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)查時(shi)，仍然需(xu)要(yao)使用(yong)缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)利用(yong)超(chao)聲波顯微高清(qing)技術，觀察表面(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)，檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)(que)陷(xian)類型和(he)尺(chi)寸(cun)。光刻膠缺(que)(que)(que)陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)生(sheng)(sheng)產商

板材表面缺陷檢測設備的(de)操作簡(jian)單，只需要將(jiang)板材放(fang)在設備的(de)工作臺上即(ji)可。浙江產品缺陷檢測設備

Optima晶(jing)圓(yuan)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)檢測(ce)設(she)備(bei)是一種先進的(de)技術(shu)工具(ju)(ju)，用(yong)(yong)于在半導體制造過程中(zhong)檢測(ce)晶(jing)圓(yuan)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)。它采用(yong)(yong)了獨特的(de)工作原(yuan)理(li)(li)(li)(li)，能夠快速、準確地檢測(ce)出晶(jing)圓(yuan)中(zhong)的(de)各(ge)種缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)。該設(she)備(bei)的(de)工作原(yuan)理(li)(li)(li)(li)基于光(guang)學(xue)技術(shu)，利用(yong)(yong)了光(guang)的(de)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)原(yuan)理(li)(li)(li)(li)。在檢測(ce)過程中(zhong)，晶(jing)圓(yuan)被面(mian)對(dui)光(guang)源的(de)特殊(shu)材料鍍層覆(fu)蓋，該鍍層具(ju)(ju)有(you)特殊(shu)的(de)折射(she)(she)和反射(she)(she)特性。當光(guang)源照射(she)(she)到晶(jing)圓(yuan)上時，晶(jing)圓(yuan)表(biao)面(mian)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)會對(dui)光(guang)的(de)傳(chuan)(chuan)播產生干涉、衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)等影響，這些影響被檢測(ce)裝(zhuang)置接(jie)(jie)收并(bing)進行分析。Optima晶(jing)圓(yuan)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)檢測(ce)設(she)備(bei)內(nei)部裝(zhuang)有(you)高精度(du)的(de)光(guang)學(xue)傳(chuan)(chuan)感器和圖(tu)像處理(li)(li)(li)(li)系(xi)統(tong)。光(guang)學(xue)傳(chuan)(chuan)感器負責接(jie)(jie)收經過晶(jing)圓(yuan)表(biao)面(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)的(de)光(guang)信(xin)號(hao)(hao)(hao)，然后將信(xin)號(hao)(hao)(hao)轉化(hua)為電信(xin)號(hao)(hao)(hao)。接(jie)(jie)下(xia)來，圖(tu)像處理(li)(li)(li)(li)系(xi)統(tong)對(dui)這些電信(xin)號(hao)(hao)(hao)進行數(shu)(shu)(shu)字化(hua)處理(li)(li)(li)(li)，以(yi)獲得晶(jing)圓(yuan)表(biao)面(mian)各(ge)個位(wei)置的(de)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)圖(tu)案。衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)圖(tu)案經過復雜的(de)算法處理(li)(li)(li)(li)和分析，與預先設(she)定的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)數(shu)(shu)(shu)據庫相比較。系(xi)統(tong)將缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)圖(tu)案與數(shu)(shu)(shu)據庫中(zhong)的(de)圖(tu)案進行匹配(pei)，從(cong)而可以(yi)確定晶(jing)圓(yuan)表(biao)面(mian)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)位(wei)置和類型。浙江產品缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)檢測(ce)設(she)備(bei)

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