探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)是(shi)(shi)半(ban)(ban)導(dao)體(ti)（包括集成(cheng)電(dian)路(lu)(lu)、分立器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)、光(guang)電(dian)器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)、傳感(gan)器(qi)）行業重要(yao)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)裝備之一，其(qi)普遍應用于復(fu)雜(za)、高(gao)速器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)精密電(dian)氣測(ce)(ce)(ce)量(liang)，旨在確(que)保質量(liang)及可(ke)靠性(xing)，并(bing)縮減研發時間和器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)制(zhi)造工(gong)藝(yi)的(de)(de)(de)成(cheng)本(ben)。探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)用于晶圓(yuan)加工(gong)之后(hou)(hou)、封裝工(gong)藝(yi)之前(qian)的(de)(de)(de)CP測(ce)(ce)(ce)試環節(jie)，負(fu)責(ze)晶圓(yuan)的(de)(de)(de)輸送與(yu)(yu)定(ding)位，使晶圓(yuan)上的(de)(de)(de)晶粒依次與(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)針(zhen)接觸并(bing)逐個測(ce)(ce)(ce)試。在半(ban)(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)與(yu)(yu)集成(cheng)電(dian)路(lu)(lu)制(zhi)造工(gong)藝(yi)中，從單晶硅棒的(de)(de)(de)制(zhi)取到器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)制(zhi)造的(de)(de)(de)完成(cheng)需經過復(fu)雜(za)的(de)(de)(de)工(gong)序(xu)，可(ke)分為前(qian)道(dao)工(gong)序(xu)與(yu)(yu)后(hou)(hou)道(dao)工(gong)序(xu)，探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)是(shi)(shi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)半(ban)(ban)導(dao)體(ti)芯片的(de)(de)(de)電(dian)參數、光(guang)參數的(de)(de)(de)關鍵設備。經過檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)將參數特性(xing)不符合(he)要(yao)求(qiu)的(de)(de)(de)芯片記錄(lu)下來，在進入后(hou)(hou)序(xu)工(gong)序(xu)前(qian)予以剔(ti)除，極(ji)大(da)降低器(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)制(zhi)造成(cheng)本(ben)。上海勤確(que)科技(ji)有限公司會為您提供專業培訓，科學管理與(yu)(yu)運營。甘肅(su)溫控探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)哪里(li)有

近來出現的(de)(de)(de)一種選擇是使用(yong)同軸射(she)頻電纜安裝探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)，它結合了探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)臺準確性和可重復性的(de)(de)(de)功能以(yi)及(ji)用(yong)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)可及(ji)性的(de)(de)(de)功能。這些(xie)(xie)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)邊(bian)緣(yuan)類似于(yu)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)臺探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)夾具——接(jie)(jie)地(di)(di)-信號-接(jie)(jie)地(di)(di)（GSG）或者(zhe)接(jie)(jie)地(di)(di)-信號（GS）——一端(duan)(duan)(duan)帶(dai)有pogo-pin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)，另(ling)一端(duan)(duan)(duan)帶(dai)有典型的(de)(de)(de)同軸連接(jie)(jie)器。這些(xie)(xie)新型探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)可以(yi)達到40GHz，回(hui)波(bo)損(sun)耗優于(yu)10dB。探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)針(zhen)(zhen)(zhen)距范(fan)圍在800微(wei)米(mi)到1500微(wei)米(mi)之(zhi)間，這些(xie)(xie)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)通常使用(yong)的(de)(de)(de)終端(duan)(duan)(duan)是3.5毫米(mi)母頭或2.92毫米(mi)母頭同軸連接(jie)(jie)器。與探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)臺一樣，可以(yi)在特定的(de)(de)(de)測(ce)試區域中設計一個影響(xiang)小的(de)(de)(de)焊盤端(duan)(duan)(duan)口，或者(zhe)可以(yi)將探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)放置(zhi)在靠近組件(jian)的(de)(de)(de)端(duan)(duan)(duan)子或微(wei)帶(dai)傳(chuan)輸(shu)線上。云南全自動探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)臺服務盡管隨著探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)壓力(li)的(de)(de)(de)增強，接(jie)(jie)觸電阻逐漸降(jiang)低，終它會達到兩金屬(shu)的(de)(de)(de)標稱接(jie)(jie)觸電阻值。

其(qi)實，在我們(men)的身(shen)邊隨處都可以(yi)看到(dao)半(ban)(ban)導體的身(shen)影。例如(ru)你的電(dian)(dian)腦、電(dian)(dian)視(shi)，智能(neng)手(shou)機，亦或是汽車等(deng)。半(ban)(ban)導體像人(ren)類大腦一樣，擔當著記(ji)憶數(shu)據，計算數(shu)值的功能(neng)。探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)從操作(zuo)上(shang)來區分有手(shou)動(dong)，半(ban)(ban)自動(dong)，全自動(dong)從功能(neng)上(shang)來區分有高溫探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)，低溫探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)，RF探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)，LCD平板探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)，霍爾效應探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)，表面電(dian)(dian)阻(zu)率探(tan)(tan)(tan)(tan)針臺(tai)。一、探(tan)(tan)(tan)(tan)針的用(yong)途。電(dian)(dian)流或電(dian)(dian)壓信(xin)號通過(guo)探(tan)(tan)(tan)(tan)針的傳(chuan)輸來測試線路(lu)(lu)板的開(kai)路(lu)(lu)（Open）或短路(lu)(lu)（Short）I=U/R，如(ru)果(guo)是開(kai)路(lu)(lu)（Open）電(dian)(dian)阻(zu)＝∝：如(ru)果(guo)是短路(lu)(lu)（Short）電(dian)(dian)阻(zu)≌0。

為什么要(yao)射(she)(she)頻(pin)探(tan)測(ce)(ce)？由于(yu)器件小形(xing)化及高頻(pin)譜的(de)(de)(de)(de)應用，電路(lu)尺(chi)寸不(bu)(bu)斷(duan)縮小，類似(si)微帶線(xian)及PCB版本Pad的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)沒有物理接(jie)口，使(shi)得儀表本身(shen)無法與待測(ce)(ce)物進(jin)(jin)行(xing)(xing)直(zhi)接(jie)連接(jie)，如(ru)(ru)果人為的(de)(de)(de)(de)焊接(jie)射(she)(she)頻(pin)接(jie)口難免會引入不(bu)(bu)確定的(de)(de)(de)(de)誤(wu)差，所以(yi)射(she)(she)頻(pin)探(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)(de)使(shi)用完(wan)美(mei)的(de)(de)(de)(de)解決(jue)了這(zhe)個(ge)問(wen)題。射(she)(she)頻(pin)探(tan)頭(tou)和校(xiao)準基板允許工程(cheng)師進(jin)(jin)行(xing)(xing)精確、重復的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量與校(xiao)準。且任何受過(guo)(guo)一定訓練的(de)(de)(de)(de)工程(cheng)師都可以(yi)進(jin)(jin)行(xing)(xing)探(tan)針(zhen)(zhen)臺的(de)(de)(de)(de)架設與儀表的(de)(de)(de)(de)校(xiao)準，以(yi)分鐘(zhong)為單位進(jin)(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)量。同樣一個(ge)Pad測(ce)(ce)試(shi)(shi)點，如(ru)(ru)果通過(guo)(guo)探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)量與通過(guo)(guo)焊接(jie)SMA接(jie)口引出測(ce)(ce)量線(xian)的(de)(de)(de)(de)方法進(jin)(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)對比(bi)會發現(xian)，探(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)(de)精度(du)是高于(yu)焊接(jie)Cable的(de)(de)(de)(de)精度(du)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)信號的(de)(de)(de)(de)完(wan)整(zheng)性需要(yao)高質量的(de)(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)接(jie)觸(chu)，這(zhe)與接(jie)觸(chu)電阻(zu)（CRes）直(zhi)接(jie)相(xiang)關。

針(zhen)尖(jian)有(you)(you)鋁粉(fen)(fen):測(ce)大(da)電流時(shi)(shi)，針(zhen)尖(jian)上(shang)(shang)要(yao)引起多(duo)AL粉(fen)(fen)，使(shi)(shi)(shi)電流測(ce)不(bu)穩，所(suo)(suo)以需(xu)要(yao)經常用灑(sa)精(jing)清(qing)洗(xi)探針(zhen)并(bing)用氮(dan)(dan)氣(qi)吹干(gan)，同(tong)時(shi)(shi)測(ce)試時(shi)(shi)邊測(ce)邊吹氮(dan)(dan)氣(qi)，以減(jian)少針(zhen)尖(jian)上(shang)(shang)的AL粉(fen)(fen)。針(zhen)尖(jian)有(you)(you)墨跡:測(ce)試時(shi)(shi)打(da)點(dian)(dian)器沒有(you)(you)調整好，尼(ni)龍(long)(long)絲碰到針(zhen)尖(jian)上(shang)(shang)，針(zhen)尖(jian)上(shang)(shang)沾上(shang)(shang)墨跡,然(ran)后(hou)(hou)(hou)針(zhen)尖(jian)與壓(ya)點(dian)(dian)接(jie)(jie)觸時(shi)(shi)，壓(ya)點(dian)(dian)窗口(kou)上(shang)(shang)墨跡沾污，使(shi)(shi)(shi)片子與AL層接(jie)(jie)觸不(bu)良，參數通不(bu)過，還有(you)(you)對后(hou)(hou)(hou)續封裝(zhuang)(zhuang)壓(ya)焊有(you)(you)影響(xiang)，使(shi)(shi)(shi)芯(xin)片與封裝(zhuang)(zhuang)后(hou)(hou)(hou)成品管腳焊接(jie)(jie)質量差，所(suo)(suo)以平時(shi)(shi)裝(zhuang)(zhuang)打(da)點(dian)(dian)器時(shi)(shi)，不(bu)要(yao)把(ba)打(da)點(dian)(dian)器裝(zhuang)(zhuang)得太前或(huo)太后(hou)(hou)(hou)和太高或(huo)太低，而應該(gai)使(shi)(shi)(shi)尼(ni)龍(long)(long)絲與硅片留有(you)(you)一定距離(li)，然(ran)后(hou)(hou)(hou)靠表面漲力使(shi)(shi)(shi)墨水打(da)到管芯(xin)中心，如已經沾上(shang)(shang)墨跡，要(yao)立即用酒精(jing)擦干(gan)凈，并(bing)用氮(dan)(dan)氣(qi)吹干(gan)。上(shang)(shang)海勤確科技有(you)(you)限公司與廣大(da)客戶攜手共創(chuang)碧水藍(lan)天。貴(gui)州自動探針(zhen)臺(tai)多(duo)少錢

半導體行業向來有(you)“一(yi)代設(she)備，一(yi)代工藝，一(yi)代產品(pin)”的說(shuo)法(fa)。甘肅溫控(kong)探針臺哪(na)里(li)有(you)

初TI退(tui)休工程(cheng)(cheng)師杰克·基比(JackSt.ClairKilby)發明顆(ke)單(dan)石集成電路，為現代半導(dao)體領域奠定基礎時(shi)，晶(jing)(jing)圓(yuan)直徑不過(guo)1.25英(ying)寸(cun)～2英(ying)寸(cun)之間，生產過(guo)程(cheng)(cheng)多以人工方式(shi)進行。隨著(zhu)6英(ying)寸(cun)、8英(ying)寸(cun)晶(jing)(jing)圓(yuan)的(de)誕生，Align/Load的(de)校準(zhun)工作和(he)一些進階(jie)檢測也(ye)開始自動化；直到12英(ying)寸(cun)晶(jing)(jing)圓(yuan)成形，可謂正式(shi)邁入(ru)“單(dan)鍵(jian)探(tan)測”(OneButtonProbing)的(de)全部自動化時(shi)代，就連傳輸也(ye)開始借助機器輔助；但(dan)此時(shi)的(de)測試(shi)大都是(shi)轉包給專業(ye)的(de)廠商做，且(qie)大部分是(shi)著(zhu)重在如(ru)何縮短工藝(yi)開發循(xun)環的(de)參(can)數測試(shi)上。甘(gan)肅溫控探(tan)針臺哪里有

本文來自四川精碳偉業環保科(ke)技有限責任公司：//wasul.cn/Article/15f27599709.html