AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)與人工視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)相比具有一(yi)(yi)些(xie)優點(dian)。下面是(shi)一(yi)(yi)些(xie)常見的(de)(de)(de)(de)比較：優點(dian)：自動化和(he)高效率：AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)是(shi)自動化的(de)(de)(de)(de)過程，利(li)用計算機(ji)和(he)機(ji)器(qi)視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)技術對產(chan)品(pin)進(jin)行快速而準(zhun)確(que)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。相比之(zhi)下，人工視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)需要人工操作員(yuan)進(jin)行視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)查，速度較慢且容易受(shou)到(dao)主觀因(yin)(yin)(yin)素的(de)(de)(de)(de)影響。一(yi)(yi)致(zhi)(zhi)性和(he)準(zhun)確(que)性：AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)使(shi)用相同的(de)(de)(de)(de)算法和(he)參數，在相同的(de)(de)(de)(de)條件下對產(chan)品(pin)進(jin)行檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，可以(yi)(yi)實現一(yi)(yi)致(zhi)(zhi)性和(he)準(zhun)確(que)性。而人工視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)可能因(yin)(yin)(yin)為(wei)操作員(yuan)的(de)(de)(de)(de)主觀判斷、疲(pi)勞或其他因(yin)(yin)(yin)素而導致(zhi)(zhi)結果(guo)的(de)(de)(de)(de)變化。高速和(he)大(da)規模(mo)(mo)處(chu)理(li)：AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)可以(yi)(yi)在短(duan)時間內處(chu)理(li)大(da)量(liang)的(de)(de)(de)(de)產(chan)品(pin)，并實時提(ti)供(gong)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結果(guo)。這對于大(da)規模(mo)(mo)生(sheng)產(chan)環境非(fei)常重(zhong)要。而人工視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)可能無法滿足(zu)高速和(he)大(da)規模(mo)(mo)處(chu)理(li)的(de)(de)(de)(de)需求。缺陷檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)能力：AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)通常可以(yi)(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)微(wei)小的(de)(de)(de)(de)和(he)難以(yi)(yi)察覺(jue)(jue)(jue)(jue)的(de)(de)(de)(de)缺陷，因(yin)(yin)(yin)為(wei)它們利(li)用高分(fen)辨率的(de)(de)(de)(de)相機(ji)和(he)精(jing)確(que)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)像處(chu)理(li)算法。這對于一(yi)(yi)些(xie)細微(wei)缺陷的(de)(de)(de)(de)產(chan)品(pin)是(shi)非(fei)常重(zhong)要的(de)(de)(de)(de)。AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設備(bei)還可以(yi)(yi)聯合其他軟、硬件設備(bei)，形(xing)成(cheng)集成(cheng)化檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)。浙江視(shi)覺(jue)(jue)(jue)(jue)AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設備(bei)賣家

選(xuan)擇(ze)適合的(de)(de)AOI光(guang)學檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)需(xu)要(yao)考慮(lv)(lv)以(yi)下幾個(ge)方(fang)面(mian)：產(chan)品(pin)(pin)類型(xing)(xing)：不(bu)同(tong)類型(xing)(xing)的(de)(de)產(chan)品(pin)(pin)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)不(bu)同(tong)類型(xing)(xing)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)。例如(ru)，對(dui)于電路板和(he)SMT組件的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，通常可(ke)以(yi)選(xuan)擇(ze)表面(mian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)；而(er)對(dui)于焊點和(he)元件的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze)X射線或(huo)(huo)紅外檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)。檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)要(yao)求：根據(ju)產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)特定(ding)需(xu)求確定(ding)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)精度要(yao)求和(he)功能(neng)要(yao)求。例如(ru)，某些產(chan)品(pin)(pin)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)高分辨率的(de)(de)圖像以(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)微小的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)，而(er)其他產(chan)品(pin)(pin)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)高速的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)速度。缺(que)陷(xian)(xian)類型(xing)(xing)：考慮(lv)(lv)待測(ce)(ce)(ce)試產(chan)品(pin)(pin)可(ke)能(neng)存在的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)類型(xing)(xing)。不(bu)同(tong)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)對(dui)不(bu)同(tong)類型(xing)(xing)的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)有不(bu)同(tong)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)能(neng)力。某些系(xi)統(tong)可(ke)能(neng)更適合檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)表面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，而(er)其他系(xi)統(tong)可(ke)能(neng)更擅(shan)長檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)內部缺(que)陷(xian)(xian)或(huo)(huo)焊點質量(liang)。預算(suan)限制：考慮(lv)(lv)可(ke)用的(de)(de)預算(suan)來(lai)選(xuan)擇(ze)合適的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)。不(bu)同(tong)類型(xing)(xing)的(de)(de)AOI光(guang)學檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)價(jia)格不(bu)同(tong)，因此需(xu)要(yao)考慮(lv)(lv)經濟性(xing)和(he)性(xing)價(jia)比。可(ke)用資源(yuan)和(he)技術支持：確認您的(de)(de)團隊(dui)是否有足夠(gou)的(de)(de)技術能(neng)力和(he)資源(yuan)來(lai)支持所選(xuan)擇(ze)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)。這包(bao)括人員培(pei)訓、設(she)備(bei)維護和(he)技術支持。北京智能(neng)AOI光(guang)學檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)代(dai)理AOI光(guang)學檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)操(cao)作(zuo)簡(jian)單，方(fang)便操(cao)作(zuo)員進行設(she)備(bei)維護和(he)保養(yang)。

AOI光學檢測(ce)設(she)備可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)通(tong)過(guo)(guo)(guo)(guo)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)下(xia)方式進(jin)行(xing)(xing)數(shu)據分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)和處理(li)：缺(que)陷(xian)統計(ji)(ji)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)：通(tong)過(guo)(guo)(guo)(guo)對檢測(ce)結(jie)果中(zhong)的(de)缺(que)陷(xian)進(jin)行(xing)(xing)統計(ji)(ji)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)計(ji)(ji)算(suan)缺(que)陷(xian)的(de)數(shu)量(liang)、類(lei)型和位置分(fen)(fen)(fen)(fen)布等(deng)信息。這有助(zhu)于(yu)了解常(chang)見缺(que)陷(xian)模(mo)式，并(bing)(bing)針對性地采(cai)取(qu)措施(shi)改善(shan)(shan)生產(chan)(chan)(chan)(chan)過(guo)(guo)(guo)(guo)程。趨(qu)勢(shi)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)：通(tong)過(guo)(guo)(guo)(guo)比(bi)較(jiao)不同時(shi)間段的(de)檢測(ce)結(jie)果，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)研究缺(que)陷(xian)的(de)趨(qu)勢(shi)和變化。這有助(zhu)于(yu)識別(bie)生產(chan)(chan)(chan)(chan)過(guo)(guo)(guo)(guo)程中(zhong)的(de)潛在問(wen)題(ti)(ti)，并(bing)(bing)做出及時(shi)的(de)調(diao)整和改進(jin)。產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)質(zhi)量(liang)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)：將檢測(ce)結(jie)果與產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)規范和標(biao)準進(jin)行(xing)(xing)比(bi)較(jiao)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)評(ping)估產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)質(zhi)量(liang)水平。通(tong)過(guo)(guo)(guo)(guo)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)通(tong)過(guo)(guo)(guo)(guo)率、誤(wu)報(bao)率和缺(que)陷(xian)率等(deng)指標(biao)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)衡量(liang)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)性能，并(bing)(bing)確(que)(que)定生產(chan)(chan)(chan)(chan)線(xian)中(zhong)的(de)瓶頸和改善(shan)(shan)點。故(gu)障分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)：對檢測(ce)結(jie)果中(zhong)的(de)異(yi)常(chang)情況進(jin)行(xing)(xing)深入分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)識別(bie)設(she)備故(gu)障或異(yi)常(chang)操作(zuo)的(de)原因(yin)。這有助(zhu)于(yu)快(kuai)速診斷問(wen)題(ti)(ti)并(bing)(bing)采(cai)取(qu)修復措施(shi)，以(yi)(yi)(yi)(yi)(yi)確(que)(que)保設(she)備的(de)正常(chang)運行(xing)(xing)。

AOI光學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)系(xi)統出現過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)有(you)以下(xia)幾個原因：參(can)數(shu)設置(zhi)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確：AOI系(xi)統需要(yao)根據被檢(jian)測(ce)(ce)元(yuan)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)特性(xing)進行適當(dang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)參(can)數(shu)設置(zhi)，如曝(pu)光時(shi)間、對比度(du)(du)(du)(du)、靈敏度(du)(du)(du)(du)等(deng)。如果(guo)這(zhe)些(xie)參(can)數(shu)設置(zhi)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確，就(jiu)(jiu)會導(dao)致(zhi)(zhi)過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。光照(zhao)條(tiao)件(jian)問(wen)題(ti)：光照(zhao)條(tiao)件(jian)對于AOI系(xi)統的(de)(de)(de)(de)(de)(de)性(xing)能(neng)(neng)(neng)(neng)至關重要(yao)。如果(guo)光源的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)(du)(du)、角度(du)(du)(du)(du)或(huo)(huo)(huo)(huo)均勻(yun)性(xing)存(cun)在問(wen)題(ti)，就(jiu)(jiu)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。例如，光源不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)均勻(yun)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)一(yi)些(xie)細小(xiao)特征的(de)(de)(de)(de)(de)(de)過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)忽略。元(yuan)件(jian)表(biao)面反(fan)射性(xing)差(cha)異(yi)：不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)材料(liao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)表(biao)面反(fan)射性(xing)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)會導(dao)致(zhi)(zhi)光學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確性(xing)。一(yi)些(xie)材料(liao)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)具有(you)較(jiao)高的(de)(de)(de)(de)(de)(de)反(fan)射率(lv)，而其他材料(liao)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)具有(you)較(jiao)低的(de)(de)(de)(de)(de)(de)反(fan)射率(lv)。如果(guo)AOI系(xi)統未能(neng)(neng)(neng)(neng)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確補償這(zhe)些(xie)差(cha)異(yi)，就(jiu)(jiu)會出現過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。視覺算法問(wen)題(ti)：AOI系(xi)統使用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)視覺算法對于識別(bie)和(he)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)缺陷非常重要(yao)。不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)算法在處理不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)類型的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)或(huo)(huo)(huo)(huo)缺陷時(shi)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)表(biao)現不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)。如果(guo)算法設計不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)當(dang)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)適應特定的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)要(yao)求，就(jiu)(jiu)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)過(guo)度(du)(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足修(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。AOI光學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)技術中還可(ke)加入人(ren)工智(zhi)能(neng)(neng)(neng)(neng)，車間數(shu)據智(zhi)能(neng)(neng)(neng)(neng)化，提高電子產品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)效率(lv)和(he)品(pin)質(zhi)。

AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)在電子(zi)制(zhi)造(zao)領域中具(ju)有(you)許多優勢，包(bao)括：高(gao)(gao)速和(he)(he)高(gao)(gao)效：AOI設(she)(she)備(bei)使(shi)用(yong)光(guang)學(xue)技術進行自動檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，能夠(gou)快速掃(sao)描并檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)電子(zi)組件(jian)上(shang)的(de)(de)缺陷(xian)，可(ke)(ke)大(da)幅提(ti)高(gao)(gao)生產效率(lv)和(he)(he)產品質量(liang)。非接(jie)(jie)觸式(shi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)：AOI設(she)(she)備(bei)采(cai)用(yong)非接(jie)(jie)觸式(shi)光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術，不會對被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)體造(zao)成物(wu)理損害(hai)。與傳統的(de)(de)手工(gong)或機械檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方法相(xiang)比，非接(jie)(jie)觸式(shi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)可(ke)(ke)減少(shao)由(you)于接(jie)(jie)觸損傷組件(jian)的(de)(de)風險。高(gao)(gao)精度：AOI設(she)(she)備(bei)具(ju)備(bei)高(gao)(gao)分(fen)辨率(lv)和(he)(he)精確度，能夠(gou)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)微(wei)(wei)小的(de)(de)缺陷(xian)、焊(han)接(jie)(jie)問題、引腳(jiao)偏移、短路等細微(wei)(wei)異常(chang)。多功能性(xing)(xing)(xing)：AOI設(she)(she)備(bei)可(ke)(ke)應用(yong)于各種電子(zi)產品制(zhi)造(zao)過程(cheng)中，包(bao)括PCB板(ban)(ban)、芯片(pian)、電子(zi)組件(jian)等的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)。它可(ke)(ke)以(yi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)電路板(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)組件(jian)安裝情況、焊(han)接(jie)(jie)質量(liang)、引腳(jiao)正確性(xing)(xing)(xing)等。自動化和(he)(he)一(yi)致性(xing)(xing)(xing)：AOI設(she)(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)實現自動化檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，消除了(le)(le)人工(gong)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)主觀(guan)性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)人員差異性(xing)(xing)(xing)，從而提(ti)高(gao)(gao)了(le)(le)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)結果的(de)(de)一(yi)致性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)(xing)。缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分(fen)類：AOI設(she)(she)備(bei)能夠(gou)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分(fen)類各種類型的(de)(de)缺陷(xian)，如短路、開路、連錫等，有(you)助于及(ji)時(shi)發現和(he)(he)糾正制(zhi)造(zao)過程(cheng)中的(de)(de)問題，提(ti)高(gao)(gao)產品質量(liang)和(he)(he)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)(xing)。AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術應用(yong)非常(chang)普(pu)遍(bian)，包(bao)括電子(zi)、半(ban)導體、醫療等領域。南(nan)京一(yi)鍵編(bian)程(cheng)AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)插件(jian)

AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)設備采(cai)用(yong)雙光(guang)源、三(san)角(jiao)形等多種掃描方式實現更(geng)加準確(que)和(he)高效(xiao)的檢測(ce)(ce)。浙江視覺AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)設備賣(mai)家

AOI光(guang)(guang)學檢測(ce)設(she)(she)(she)備可(ke)(ke)以(yi)采取以(yi)下(xia)方(fang)法來應(ying)對(dui)微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片：高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率(lv)：微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片通(tong)常具(ju)(ju)有(you)非常小(xiao)的(de)(de)尺寸(cun)和(he)(he)高(gao)(gao)密度(du)(du)(du)的(de)(de)器(qi)件(jian)(jian)，因此，AOI設(she)(she)(she)備需要(yao)具(ju)(ju)備高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率(lv)的(de)(de)成(cheng)像(xiang)(xiang)能(neng)力(li)，才(cai)能(neng)準確(que)(que)地檢測(ce)和(he)(he)分(fen)(fen)析這(zhe)些細小(xiao)的(de)(de)結構。現代的(de)(de)AOI設(she)(she)(she)備通(tong)常具(ju)(ju)有(you)高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率(lv)的(de)(de)圖像(xiang)(xiang)傳感(gan)器(qi)和(he)(he)先進的(de)(de)光(guang)(guang)學系統，可(ke)(ke)以(yi)實(shi)現對(dui)微小(xiao)尺寸(cun)器(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)清晰成(cheng)像(xiang)(xiang)。多(duo)角度(du)(du)(du)檢測(ce)：一些微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片的(de)(de)特(te)征(zheng)可(ke)(ke)能(neng)只(zhi)能(neng)在(zai)特(te)定角度(du)(du)(du)下(xia)才(cai)能(neng)被正確(que)(que)檢測(ce)到。因此，AOI設(she)(she)(she)備可(ke)(ke)能(neng)具(ju)(ju)備多(duo)個(ge)角度(du)(du)(du)的(de)(de)觀察能(neng)力(li)，通(tong)過分(fen)(fen)析不(bu)(bu)同角度(du)(du)(du)的(de)(de)圖像(xiang)(xiang)來獲取更多(duo)方(fang)面的(de)(de)信息。這(zhe)樣(yang)可(ke)(ke)以(yi)提高(gao)(gao)對(dui)微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片的(de)(de)檢測(ce)準確(que)(que)性。自(zi)動聚焦(jiao)(jiao)(jiao)和(he)(he)自(zi)動對(dui)焦(jiao)(jiao)(jiao)：微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片通(tong)常具(ju)(ju)有(you)不(bu)(bu)同的(de)(de)高(gao)(gao)度(du)(du)(du)和(he)(he)復雜的(de)(de)三維結構。為了在(zai)整個(ge)表(biao)面范圍內進行準確(que)(que)的(de)(de)檢測(ce)，AOI設(she)(she)(she)備通(tong)常配備自(zi)動聚焦(jiao)(jiao)(jiao)和(he)(he)自(zi)動對(dui)焦(jiao)(jiao)(jiao)功能(neng)，以(yi)確(que)(que)保不(bu)(bu)同區域都(dou)能(neng)夠得到清晰的(de)(de)圖像(xiang)(xiang)。這(zhe)樣(yang)可(ke)(ke)以(yi)在(zai)不(bu)(bu)損失(shi)精度(du)(du)(du)的(de)(de)情(qing)況(kuang)下(xia)適應(ying)不(bu)(bu)同尺寸(cun)和(he)(he)高(gao)(gao)度(du)(du)(du)的(de)(de)微型化(hua)(hua)(hua)元(yuan)(yuan)(yuan)件(jian)(jian)和(he)(he)芯片。浙(zhe)江視覺(jue)AOI光(guang)(guang)學檢測(ce)設(she)(she)(she)備賣家

本文來自四川(chuan)精碳偉業環保科(ke)技有限(xian)責任公司：//wasul.cn/Article/87b699906.html