IC測(ce)試(shi)(shi)是(shi)確(que)保(bao)產品良率和(he)成(cheng)本控制的重要環(huan)節，在IC生產過(guo)程(cheng)中(zhong)起著舉足輕重的作(zuo)用。IC測(ce)試(shi)(shi)是(shi)集(ji)成(cheng)電(dian)路生產過(guo)程(cheng)中(zhong)的重要環(huan)節，測(ce)試(shi)(shi)的主要目(mu)的是(shi)保(bao)證芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)在惡(e)劣(lie)環(huan)境下(xia)能完全實現設(she)計規(gui)格書所規(gui)定(ding)的功能及性能指標，每一道測(ce)試(shi)(shi)都會產生一系列的測(ce)試(shi)(shi)數據(ju)，由(you)于測(ce)試(shi)(shi)程(cheng)序通常是(shi)由(you)一系列測(ce)試(shi)(shi)項目(mu)組成(cheng)的，從各個方面(mian)對芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)進(jin)行(xing)充(chong)分檢測(ce)，不僅可(ke)以(yi)(yi)判斷芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)性能是(shi)否(fou)符合(he)標準(zhun)，是(shi)否(fou)可(ke)以(yi)(yi)進(jin)入市(shi)場，而且能夠從測(ce)試(shi)(shi)結(jie)果的詳細數據(ju)中(zhong)充(chong)分、定(ding)量(liang)地反映出每顆芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)從結(jie)構、功能到電(dian)氣特性的各種指標。因此，對集(ji)成(cheng)電(dian)路進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)(shi)可(ke)有效提高(gao)芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)的成(cheng)品率以(yi)(yi)及生產效率。芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)測(ce)試(shi)(shi)的重要性不言而喻。珠(zhu)海大(da)容(rong)量(liang)芯(xin)(xin)(xin)(xin)片(pian)測(ce)試(shi)(shi)口碑推薦

測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)相關(guan)的(de)(de)各種名詞(ci)：ATE-----------AutomaticTestEquipment,自動化測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)設備，是一個高性能計算機(ji)(ji)控制(zhi)的(de)(de)設備的(de)(de)J合(he)，可以實現自動化的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。Tester---------測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機(ji)(ji)，是由電子系統(tong)(tong)組成，這些系統(tong)(tong)產生(sheng)信(xin)號，建立適當的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)模式(shi)，正確地(di)按(an)順序(xu)設置，然后使用它們來驅動芯片本身，并抓(zhua)取芯片的(de)(de)輸出反饋(kui)，或者進行(xing)(xing)記錄，或者和測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機(ji)(ji)中(zhong)預期(qi)的(de)(de)反饋(kui)進行(xing)(xing)比較，從而判(pan)斷好品和壞品。TestProgram---測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)程序(xu)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)機(ji)(ji)通過(guo)執行(xing)(xing)一組稱(cheng)(cheng)為測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)程序(xu)的(de)(de)指令來控制(zhi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)硬(ying)件。DUT-----------DeviceUnderTest,等待測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)器件，我們統(tong)(tong)稱(cheng)(cheng)已(yi)經放在測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)系統(tong)(tong)中(zhong)，等待測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)器件為DUT。珠海本地(di)芯片測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)優普士(shi)電子（深圳）有(you)限公司專業芯片測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，FT測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi),OS測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。

芯(xin)(xin)片(pian)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)：是(shi)(shi)(shi)(shi)預測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)產品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)使用(yong)壽命，為(wei)生產商評估或預測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)所生產的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產品耐用(yong)性的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)好壞;當下(xia)(xia)半導體技術的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)快速(su)發展和芯(xin)(xin)片(pian)復(fu)雜(za)度的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)逐年提高(gao),芯(xin)(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)已貫(guan)穿于整個(ge)設計(ji)研發與生產過程,并越來越具(ju)有挑戰性.老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)芯(xin)(xin)片(pian)在(zai)交付客戶使用(yong)之前用(yong)以剔除早(zao)期失效產品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)(yi)(yi)項重(zhong)要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi).為(wei)了避免反復(fu)焊(han)接,不同封裝類(lei)型(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)芯(xin)(xin)片(pian)在(zai)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)中由(you)特制(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)座(zuo)(zuo)固定(ding)(ding)在(zai)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)板上測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗證.以保證賣給用(yong)戶的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產品是(shi)(shi)(shi)(shi)可(ke)靠的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)或者是(shi)(shi)(shi)(shi)問題少的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de);老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)分為(wei)元器件(jian)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)和整機老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)，尤其(qi)是(shi)(shi)(shi)(shi)新產品。在(zai)考核新的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)元器件(jian)和整機的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)性能(neng)，老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)指(zhi)標更高(gao)。那么測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)只(zhi)是(shi)(shi)(shi)(shi)老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)座(zuo)(zuo)眾多功能(neng)中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)(yi)(yi)種(zhong),老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)座(zuo)(zuo)，除了可(ke)用(yong)做測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)外,還考慮其(qi)他參數。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)一(yi)(yi)(yi)般是(shi)(shi)(shi)(shi)指(zhi)常(chang)溫(wen)(wen)下(xia)(xia),但老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)，通(tong)常(chang)需要(yao)考慮高(gao)溫(wen)(wen)，低溫(wen)(wen),濕度,鹽度下(xia)(xia)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)和長時(shi)間測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)散(san)熱(re)效果。塑膠耐多大溫(wen)(wen)度不變形(xing)或燃燒!老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)座(zuo)(zuo)可(ke)進行惡劣(lie)環(huan)境測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)座(zuo)(zuo)子。老(lao)(lao)(lao)(lao)化(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)(hua)座(zuo)(zuo)決定(ding)(ding)某一(yi)(yi)(yi)個(ge)芯(xin)(xin)片(pian)被設計(ji)后，是(shi)(shi)(shi)(shi)否能(neng)面(mian)世;

芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)與上(shang)游(you)客(ke)戶(hu)緊(jin)密(mi)結(jie)合(he)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)案(an)開(kai)發(fa)(fa)和(he)工(gong)藝(yi)流程優(you)(you)(you)化(hua)能(neng)(neng)(neng)力來(lai)自(zi)于大量客(ke)戶(hu)帶(dai)來(lai)的(de)不同類(lei)型芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)經(jing)(jing)驗。芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)和(he)上(shang)游(you)設計、晶圓加工(gong)緊(jin)密(mi)結(jie)合(he)，需要同客(ke)戶(hu)進行(xing)長時(shi)間(jian)的(de)共同開(kai)發(fa)(fa)和(he)磨合(he)，結(jie)合(he)客(ke)戶(hu)反饋才能(neng)(neng)(neng)不斷優(you)(you)(you)化(hua)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)案(an)和(he)工(gong)藝(yi)流程，與此(ci)(ci)(ci)同時(shi)長時(shi)間(jian)合(he)作(zuo)也會形成(cheng)較(jiao)高(gao)的(de)壁壘。此(ci)(ci)(ci)外，大量客(ke)戶(hu)帶(dai)來(lai)的(de)不同芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)經(jing)(jing)驗是提(ti)(ti)升測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)案(an)開(kai)發(fa)(fa)能(neng)(neng)(neng)力和(he)優(you)(you)(you)化(hua)工(gong)藝(yi)流程的(de)基礎。芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)要求具(ju)(ju)備較(jiao)強(qiang)的(de)資(zi)本(ben)運作(zuo)能(neng)(neng)(neng)力。芯(xin)片(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)對資(zi)本(ben)投入的(de)要求高(gao)，目前國內發(fa)(fa)展(zhan)階段決定了規(gui)模是發(fa)(fa)展(zhan)的(de)前提(ti)(ti)，因(yin)此(ci)(ci)(ci)與技(ji)術和(he)市(shi)(shi)場(chang)實力相(xiang)匹配(pei)的(de)融資(zi)能(neng)(neng)(neng)力是企(qi)業(ye)發(fa)(fa)展(zhan)壯大的(de)支撐。可從(cong)技(ji)術經(jing)(jing)驗、市(shi)(shi)場(chang)化(hua)程度和(he)資(zi)本(ben)運作(zuo)能(neng)(neng)(neng)力三個(ge)方(fang)(fang)面對IC專業(ye)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)企(qi)業(ye)進行(xing)評價，我們認為具(ju)(ju)備市(shi)(shi)場(chang)開(kai)拓(tuo)能(neng)(neng)(neng)力、單獨測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)案(an)開(kai)發(fa)(fa)技(ji)術能(neng)(neng)(neng)力、資(zi)本(ben)運作(zuo)能(neng)(neng)(neng)力的(de)IC設計公司更具(ju)(ju)發(fa)(fa)展(zhan)潛力。提(ti)(ti)供(gong)FT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、 IC燒錄、laser marking、編帶(dai)、烘烤、視(shi)覺(jue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)WLCSP\BGA\LQFP等半導體芯(xin)片(pian)后段整合(he)一站式業(ye)務。

現(xian)如(ru)今(jin)還有一些工廠(chang)在手工燒(shao)錄或者測試IC芯片，而西爾特給大家帶來的(de)(de)(de)是(shi)IC自動(dong)燒(shao)錄機器，較大的(de)(de)(de)提高(gao)了工廠(chang)或者電子方案(an)公司(si)的(de)(de)(de)效率(lv)。1臺機器可替代2至(zhi)3個(ge)人，IC燒(shao)錄設備的(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)也從人工作(zuo)(zuo)業，到(dao)人工搭配半(ban)自動(dong)設備作(zuo)(zuo)業，到(dao)全(quan)自動(dong)設備作(zuo)(zuo)業的(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)歷(li)程(cheng)。目前，全(quan)自動(dong)設備已經(jing)能(neng)夠(gou)達到(dao)自動(dong)，智(zhi)能(neng)，高(gao)速，穩定的(de)(de)(de)程(cheng)度。而隨著(zhu)半(ban)導體材料、半(ban)導體器件制(zhi)(zhi)造技術(shu)及其設備制(zhi)(zhi)造技術(shu)的(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)，IC燒(shao)錄行業的(de)(de)(de)自動(dong)化設備發(fa)展(zhan)也出現(xian)了選擇(ze)方向，無非(fei)是(shi)從更智(zhi)能(neng)，更高(gao)速，更穩定的(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)方向進(jin)行突破。在芯片產品上市(shi)前，需要對(dui)產品進(jin)行測試，以確保其符合相關(guan)認證標準。陜西Flash芯片測試聯系方式(shi)

優普士電子，燒錄器(qi)及配件，電子元(yuan)器(qi)件行業**。珠(zhu)海大容量芯(xin)片測試口碑推薦

對于芯(xin)(xin)片(pian)(pian)，有(you)兩(liang)種類型的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，抽樣測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)和生(sheng)產(chan)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。抽樣測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，如(ru)設(she)(she)(she)計過程(cheng)(cheng)中的驗(yan)(yan)證(zheng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、芯(xin)(xin)片(pian)(pian)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、芯(xin)(xin)片(pian)(pian)特(te)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)等，都是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)抽樣測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。主要(yao)目的是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)證(zheng)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)否(fou)符(fu)合設(she)(she)(she)計目標(biao)。例(li)如(ru)，驗(yan)(yan)證(zheng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)從功能方面驗(yan)(yan)證(zheng)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)否(fou)符(fu)合設(she)(she)(she)計目標(biao)，可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)確認z端子芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的壽命以及(ji)它是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)否(fou)對環境具有(you)一(yi)定程(cheng)(cheng)度的魯棒性(xing)，特(te)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)證(zheng)設(she)(she)(she)計的冗余性(xing)。生(sheng)產(chan)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)需要(yao)100%的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，這是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)一(yi)個找(zhao)出缺陷并(bing)將壞產(chan)品與好產(chan)品區(qu)分(fen)開來的過程(cheng)(cheng)。在芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的價(jia)值鏈(lian)中，根(gen)據不同階段可(ke)分(fen)為晶圓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)和Z端測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)珠海大容(rong)量芯(xin)(xin)片(pian)(pian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)口碑推薦

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