集(ji)成光(guang)源(yuan)(yuan)在視覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)中提供極大的(de)(de)便利性(xing)和(he)易用性(xing)。集(ji)成光(guang)源(yuan)(yuan)消除了購(gou)買、安(an)裝和(he)供電額外光(guang)源(yuan)(yuan)的(de)(de)需(xu)要，從(cong)而簡化了系(xi)(xi)統(tong)(tong)。擁(yong)有集(ji)成光(guang)源(yuan)(yuan)使視覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)比其(qi)它(ta)需(xu)要較大型外部光(guang)源(yuan)(yuan)和(he)電源(yuan)(yuan)的(de)(de)系(xi)(xi)統(tong)(tong)更(geng)小(xiao)巧、更(geng)緊(jin)湊(cou)，從(cong)而使其(qi)更(geng)易于在生產線上(shang)難以(yi)到達的(de)(de)空(kong)間內安(an)裝和(he)使用。您所尋找的(de)(de)視覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)應該能夠控制(zhi)亮度(du)以(yi)及集(ji)成式和(he)外部光(guang)源(yuan)(yuan)的(de)(de)頻閃，無(wu)需(xu)額外設備。這消除了購(gou)買額外光(guang)源(yuan)(yuan)或電源(yuan)(yuan)的(de)(de)需(xu)要。

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機(ji)器視(shi)(shi)(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)主要(yao)是采(cai)D照(zhao)相機(ji)將被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)目標(biao)轉換(huan)成(cheng)(cheng)圖像信號(hao)，傳送給**的(de)(de)圖像處(chu)(chu)理(li)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)，根(gen)據像素分布和(he)亮度、顏色(se)等(deng)(deng)信息(xi)，轉變成(cheng)(cheng)數字化信號(hao)，圖像處(chu)(chu)理(li)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)對(dui)這(zhe)些信號(hao)進(jin)(jin)(jin)行(xing)各種運算來抽取(qu)目標(biao)的(de)(de)特征.如面積、數量(liang)、位(wei)置、長度，再根(gen)據預設的(de)(de)允許度和(he)其(qi)他條件(jian)輸出結果，包括尺寸(cun)、角度、個數、合格/不合格、有/無等(deng)(deng)等(deng)(deng)，實(shi)現(xian)自動識別功(gong)能。那機(ji)器視(shi)(shi)(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)的(de)(de)應用(yong)有哪些呢？下面為您講(jiang)解：（1）按照(zhao)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)功(gong)能可(ke)劃分：定位(wei)、缺點(dian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、計(ji)數/遺漏檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、尺寸(cun)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)。（2）按照(zhao)其(qi)安裝的(de)(de)載體可(ke)分為：在線檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)和(he)離(li)線檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)。（3）按照(zhao)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)技術(shu)(shu)(shu)劃分，通常有立體視(shi)(shi)(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)技術(shu)(shu)(shu)、斑點(dian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)技術(shu)(shu)(shu)、尺寸(cun)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)技術(shu)(shu)(shu)、OCR技術(shu)(shu)(shu)等(deng)(deng)等(deng)(deng)。機(ji)器視(shi)(shi)(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)對(dui)于消除(chu)瑕(xia)疵(ci)，模(mo)糊，碎屑或(huo)凹陷等(deng)(deng)產(chan)(chan)品缺點(dian)，以確保產(chan)(chan)品的(de)(de)功(gong)能和(he)性能至關重要(yao)。因此已經被用(yong)于各大(da)行(xing)業的(de)(de)產(chan)(chan)品缺點(dian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、尺寸(cun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)中。如利(li)用(yong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)能進(jin)(jin)(jin)行(xing)產(chan)(chan)品多種項目的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，用(yong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)電子部(bu)件(jian)的(de)(de)缺點(dian)或(huo)偏移的(de)(de)針腳，用(yong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)注(zhu)射器部(bu)件(jian)形狀或(huo)區(qu)分顏色(se)來進(jin)(jin)(jin)行(xing)檢(jian)(jian)(jian)查錯誤裝配等(deng)(deng)。同時。上海效(xiao)果好(hao)薄膜瑕(xia)疵(ci)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)薄膜瑕(xia)疵(ci)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)比人工(gong)進(jin)(jin)(jin)行(xing)瑕(xia)疵(ci)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)提高了生(sheng)產(chan)(chan)的(de)(de)效(xiao)率，節省了成(cheng)(cheng)本，更好(hao)地保證了薄膜的(de)(de)質量(liang)。

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