高精度膜厚儀銷售價格
基(ji)于(yu)(yu)白光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)單(dan)(dan)峰(feng)值(zhi)(zhi)波長移(yi)(yi)動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)鍺(zang)膜厚度(du)(du)測(ce)量方(fang)案研究(jiu)：在(zai)對比研究(jiu)目(mu)前常用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)白光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)測(ce)量方(fang)案的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)礎上，我們發(fa)現當(dang)兩干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)束的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)程差非常小(xiao)導(dao)致其(qi)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)只有一個干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)峰(feng)時(shi)，常用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)于(yu)(yu)兩相(xiang)鄰(lin)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)峰(feng)間距(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)解(jie)調方(fang)案不再(zai)適用(yong)。為(wei)此(ci)，我們提出了(le)(le)適用(yong)于(yu)(yu)極小(xiao)光(guang)(guang)(guang)(guang)程差的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)于(yu)(yu)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)單(dan)(dan)峰(feng)值(zhi)(zhi)波長移(yi)(yi)動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)量方(fang)案。干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)峰(feng)值(zhi)(zhi)波長會(hui)隨著光(guang)(guang)(guang)(guang)程差的(de)(de)(de)(de)(de)(de)增大出現周期性(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅移(yi)(yi)和(he)藍移(yi)(yi)，當(dang)光(guang)(guang)(guang)(guang)程差在(zai)較(jiao)小(xiao)范圍內變化時(shi)，峰(feng)值(zhi)(zhi)波長的(de)(de)(de)(de)(de)(de)移(yi)(yi)動(dong)與光(guang)(guang)(guang)(guang)程差成正比。根據這(zhe)一原理，搭建了(le)(le)光(guang)(guang)(guang)(guang)纖白光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)溫(wen)(wen)度(du)(du)傳感系統(tong)對這(zhe)一測(ce)量解(jie)調方(fang)案進行(xing)驗證，得到了(le)(le)光(guang)(guang)(guang)(guang)纖端(duan)面半導(dao)體鍺(zang)薄膜的(de)(de)(de)(de)(de)(de)厚度(du)(du)。實驗結果顯示(shi)鍺(zang)膜的(de)(de)(de)(de)(de)(de)厚度(du)(du)為(wei)，與臺階(jie)(jie)儀測(ce)量結果存在(zai)，這(zhe)是因為(wei)薄膜表面本身并不光(guang)(guang)(guang)(guang)滑，臺階(jie)(jie)儀的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)量結果只能作為(wei)參考值(zhi)(zhi)。鍺(zang)膜厚度(du)(du)測(ce)量誤差主要來自光(guang)(guang)(guang)(guang)源的(de)(de)(de)(de)(de)(de)波長漂移(yi)(yi)和(he)溫(wen)(wen)度(du)(du)控制(zhi)(zhi)誤差。白光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)膜厚測(ce)量技術可以實現對薄膜的(de)(de)(de)(de)(de)(de)在(zai)線檢測(ce)和(he)控制(zhi)(zhi)。高精度(du)(du)膜厚儀銷售價格
開展白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)涉(she)理(li)(li)論分析(xi)，在(zai)此基礎詳細(xi)介紹了(le)白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)垂直(zhi)(zhi)掃描干(gan)涉(she)技(ji)術和(he)(he)白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜技(ji)術的(de)(de)(de)基本原(yuan)理(li)(li)，完成了(le)應用于(yu)(yu)靶丸(wan)(wan)殼(ke)(ke)(ke)層折射(she)(she)率和(he)(he)厚(hou)度(du)分布測(ce)量(liang)實驗(yan)裝(zhuang)置的(de)(de)(de)設(she)計及(ji)搭建。該(gai)實驗(yan)裝(zhuang)置主要由(you)白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜探(tan)測(ce)模塊(kuai)、靶丸(wan)(wan)吸附轉位模塊(kuai)、三維(wei)運動模塊(kuai)、氣浮隔震平(ping)臺(tai)等幾部(bu)分組(zu)成，可實現靶丸(wan)(wan)的(de)(de)(de)負壓吸附、靶丸(wan)(wan)位置的(de)(de)(de)精密調整以及(ji)靶丸(wan)(wan)360°范(fan)圍的(de)(de)(de)旋轉及(ji)特定角度(du)下靶丸(wan)(wan)殼(ke)(ke)(ke)層白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)。基于(yu)(yu)白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)垂直(zhi)(zhi)掃描干(gan)涉(she)和(he)(he)白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜的(de)(de)(de)基本原(yuan)理(li)(li),建立了(le)二(er)者(zhe)聯(lian)用的(de)(de)(de)靶丸(wan)(wan)殼(ke)(ke)(ke)層折射(she)(she)率測(ce)量(liang)方法，該(gai)方法利用白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜測(ce)量(liang)靶丸(wan)(wan)殼(ke)(ke)(ke)層光(guang)(guang)(guang)(guang)學厚(hou)度(du)，利用白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)垂直(zhi)(zhi)掃描干(gan)涉(she)技(ji)術測(ce)量(liang)光(guang)(guang)(guang)(guang)線(xian)通過靶丸(wan)(wan)殼(ke)(ke)(ke)層后的(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)程增量(liang)，二(er)者(zhe)聯(lian)立即可求(qiu)得靶丸(wan)(wan)折射(she)(she)率和(he)(he)厚(hou)度(du)數據。湖(hu)南(nan)防水(shui)膜厚(hou)儀白(bai)(bai)光(guang)(guang)(guang)(guang)干(gan)涉(she)膜厚(hou)測(ce)量(liang)技(ji)術可以實現對薄膜的(de)(de)(de)快速測(ce)量(liang)和(he)(he)分析(xi)。
確定靶丸折(zhe)射(she)(she)率(lv)及厚(hou)度(du)的(de)(de)(de)算法(fa)，由于(yu)干涉光(guang)譜信號(hao)與(yu)(yu)膜(mo)(mo)的(de)(de)(de)光(guang)參(can)量直(zhi)接相關(guan)(guan)，這里主要考慮光(guang)譜分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)方法(fa)根(gen)據測量膜(mo)(mo)的(de)(de)(de)反射(she)(she)或(huo)透(tou)射(she)(she)光(guang)譜進行分(fen)析(xi)計算，可(ke)獲得(de)(de)(de)膜(mo)(mo)的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)、折(zhe)射(she)(she)率(lv)等參(can)數。根(gen)據光(guang)譜信號(hao)分(fen)析(xi)計算膜(mo)(mo)折(zhe)射(she)(she)率(lv)及厚(hou)度(du)的(de)(de)(de)方法(fa)主要有(you)極值(zhi)法(fa)和(he)包絡法(fa)、全(quan)光(guang)譜擬(ni)(ni)合法(fa)。極值(zhi)法(fa)測量膜(mo)(mo)厚(hou)度(du)主要是根(gen)據薄(bo)膜(mo)(mo)反射(she)(she)或(huo)透(tou)射(she)(she)光(guang)譜曲線上(shang)的(de)(de)(de)波(bo)峰的(de)(de)(de)位置(zhi)來計算，對于(yu)弱色(se)散(san)(san)(san)介質(zhi)(zhi)，折(zhe)射(she)(she)率(lv)為恒定值(zhi)，根(gen)據兩(liang)個(ge)或(huo)兩(liang)個(ge)以上(shang)的(de)(de)(de)極大值(zhi)點(dian)的(de)(de)(de)位置(zhi)，求得(de)(de)(de)膜(mo)(mo)的(de)(de)(de)光(guang)學(xue)厚(hou)度(du)，若已(yi)知膜(mo)(mo)折(zhe)射(she)(she)率(lv)即可(ke)求解膜(mo)(mo)的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)；對于(yu)強色(se)散(san)(san)(san)介質(zhi)(zhi)，首先利用(yong)極值(zhi)點(dian)求出(chu)膜(mo)(mo)厚(hou)度(du)的(de)(de)(de)初(chu)始值(zhi)。薄(bo)膜(mo)(mo)厚(hou)度(du)是一恒定不(bu)變值(zhi)，可(ke)根(gen)據極大值(zhi)點(dian)位置(zhi)的(de)(de)(de)光(guang)學(xue)厚(hou)度(du)關(guan)(guan)系(xi)(xi)式(shi)獲得(de)(de)(de)入(ru)射(she)(she)波(bo)長和(he)折(zhe)射(she)(she)率(lv)的(de)(de)(de)對應關(guan)(guan)系(xi)(xi)，再依據薄(bo)膜(mo)(mo)材質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)色(se)散(san)(san)(san)特性，引入(ru)合適的(de)(de)(de)色(se)散(san)(san)(san)模型(xing)，常用(yong)的(de)(de)(de)色(se)散(san)(san)(san)模型(xing)有(you)cauchy模型(xing)、Selimeier模型(xing)、Lorenz模型(xing)等，利用(yong)折(zhe)射(she)(she)率(lv)與(yu)(yu)入(ru)射(she)(she)波(bo)長的(de)(de)(de)關(guan)(guan)系(xi)(xi)式(shi)，通過二(er)乘(cheng)法(fa)擬(ni)(ni)合得(de)(de)(de)到(dao)色(se)散(san)(san)(san)模型(xing)的(de)(de)(de)系(xi)(xi)數，即可(ke)解得(de)(de)(de)任意(yi)入(ru)射(she)(she)波(bo)長下的(de)(de)(de)折(zhe)射(she)(she)率(lv)。
目前，應用(yong)的顯(xian)(xian)微干涉(she)(she)(she)方式(shi)主(zhu)要有(you)(you)Mirau顯(xian)(xian)微干涉(she)(she)(she)和(he)Michelson顯(xian)(xian)微干涉(she)(she)(she)兩張方式(shi)。如圖2-5(a)所示Mirau型顯(xian)(xian)微干涉(she)(she)(she)結(jie)構，在該(gai)結(jie)構中物(wu)(wu)鏡和(he)被測(ce)樣品之間有(you)(you)兩塊(kuai)平(ping)(ping)(ping)板(ban)，一(yi)(yi)個(ge)是涂覆(fu)(fu)有(you)(you)高反(fan)射(she)(she)膜的平(ping)(ping)(ping)板(ban)作(zuo)為(wei)(wei)參(can)考(kao)鏡，另一(yi)(yi)塊(kuai)涂覆(fu)(fu)半透半反(fan)射(she)(she)膜的平(ping)(ping)(ping)板(ban)作(zuo)為(wei)(wei)分光(guang)棱鏡，由于參(can)考(kao)鏡位于物(wu)(wu)鏡和(he)被測(ce)樣品之間，從(cong)而使物(wu)(wu)鏡外殼(ke)更加緊湊，工作(zuo)距離相對而言短一(yi)(yi)些，其倍率一(yi)(yi)般為(wei)(wei)10-50倍，Mirau顯(xian)(xian)微干涉(she)(she)(she)物(wu)(wu)鏡參(can)考(kao)端(duan)使用(yong)與測(ce)量(liang)端(duan)相同顯(xian)(xian)微物(wu)(wu)鏡，因此沒有(you)(you)額外的光(guang)程差。白(bai)光(guang)干涉(she)(she)(she)膜厚(hou)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)可以應用(yong)于半導體制(zhi)造中的薄(bo)膜厚(hou)度(du)控制(zhi)。
干(gan)(gan)涉法(fa)作為面(mian)掃(sao)描方式可(ke)以(yi)一次性對(dui)(dui)薄(bo)膜(mo)(mo)局(ju)域內的(de)厚(hou)度(du)進行(xing)解算(suan)(suan)，適用于對(dui)(dui)面(mian)型整體形貌特(te)征要求較(jiao)高的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)對(dui)(dui)象。干(gan)(gan)涉法(fa)算(suan)(suan)法(fa)在于相位(wei)信息的(de)提取(qu)，借(jie)助多種復合算(suan)(suan)法(fa)通常(chang)可(ke)以(yi)達到納米級(ji)的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)準確度(du)。然(ran)而主動干(gan)(gan)涉法(fa)對(dui)(dui)條紋穩定(ding)性不佳，光(guang)學元件表面(mian)的(de)不清潔(jie)、光(guang)照度(du)不均(jun)勻(yun)、光(guang)源(yuan)不穩定(ding)、外界氣流(liu)震動干(gan)(gan)擾(rao)等(deng)因素均(jun)可(ke)能影(ying)響干(gan)(gan)涉圖的(de)完整性[39]，使干(gan)(gan)涉圖樣中包含噪(zao)聲和(he)部(bu)分(fen)區(qu)域的(de)陰(yin)影(ying)，給后期處理(li)帶來(lai)困難。除(chu)此之(zhi)外，干(gan)(gan)涉法(fa)系統(tong)精度(du)的(de)來(lai)源(yuan)——精密移動及(ji)定(ding)位(wei)部(bu)件也增(zeng)加(jia)了系統(tong)的(de)成本(ben)，高精度(du)的(de)干(gan)(gan)涉儀(yi)往(wang)往(wang)較(jiao)為昂貴(gui)。白(bai)光(guang)干(gan)(gan)涉膜(mo)(mo)厚(hou)測(ce)(ce)量(liang)(liang)技術(shu)可(ke)以(yi)對(dui)(dui)薄(bo)膜(mo)(mo)的(de)厚(hou)度(du)、反射率、折射率等(deng)光(guang)學參數進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)。有(you)哪些膜(mo)(mo)厚(hou)儀(yi)大(da)概價(jia)格多少
白光干涉(she)膜厚測量(liang)技術可以通過對干涉(she)曲線的(de)(de)分析實現對薄膜的(de)(de)厚度測量(liang)。高(gao)精度膜厚儀銷售(shou)價格
干(gan)(gan)涉(she)法(fa)與分(fen)光(guang)光(guang)度(du)法(fa)都是利用相(xiang)(xiang)干(gan)(gan)光(guang)形(xing)成等(deng)厚(hou)干(gan)(gan)涉(she)條(tiao)紋(wen)的(de)(de)原理來(lai)確定薄(bo)(bo)膜厚(hou)度(du)和折射率，然(ran)而與薄(bo)(bo)膜自發(fa)產生的(de)(de)等(deng)傾干(gan)(gan)涉(she)不同(tong)，干(gan)(gan)涉(she)法(fa)是通過設置參(can)考(kao)光(guang)路(lu)，形(xing)成與測(ce)量光(guang)路(lu)間(jian)的(de)(de)干(gan)(gan)涉(she)條(tiao)紋(wen)，因此(ci)其相(xiang)(xiang)位(wei)信息包含兩個部(bu)分(fen)，分(fen)別是由參(can)考(kao)平面(mian)和測(ce)量平面(mian)間(jian)掃(sao)描(miao)高度(du)引起(qi)的(de)(de)附加相(xiang)(xiang)位(wei)和由透明(ming)薄(bo)(bo)膜內部(bu)多次反射引起(qi)的(de)(de)膜厚(hou)相(xiang)(xiang)位(wei)。干(gan)(gan)涉(she)法(fa)測(ce)量光(guang)路(lu)使用面(mian)陣CCD接(jie)收參(can)考(kao)平面(mian)和測(ce)量平面(mian)間(jian)相(xiang)(xiang)干(gan)(gan)波面(mian)的(de)(de)干(gan)(gan)涉(she)光(guang)強(qiang)分(fen)布，不同(tong)于以上(shang)三種點測(ce)量方式，可一次性生成薄(bo)(bo)膜待測(ce)區域的(de)(de)表面(mian)形(xing)貌信息，但同(tong)時由于存(cun)在大量軸向掃(sao)描(miao)和數據解算，完(wan)成單次測(ce)量的(de)(de)時間(jian)相(xiang)(xiang)對(dui)較長。高精(jing)度(du)膜厚(hou)儀銷售價格
本文來自四川(chuan)精碳偉(wei)業(ye)環保科技有限責任(ren)公司：//wasul.cn/Article/90e0099909.html
潔凈間價格
目前，企業已獲得(de)ISO9001質(zhi)量管理體系(xi)合格認(ren)證，并通過廣東省建設(she)(she)廳認(ren)定的建筑裝(zhuang)修設(she)(she)計(ji)與施工(gong)資(zi)質(zhi)認(ren)證、機電安(an)裝(zhuang)承包資(zi)質(zhi)、環(huan)保工(gong)程施工(gong)承包資(zi)質(zhi)以及(ji)安(an)全生產許可(ke)證，具(ju)有各類流體凈化設(she)(she)備的自主(zhu)設(she)(she)計(ji)技術和制 。
一(yi)級配(pei)(pei)電(dian)：就是(shi)從(cong)變壓器引入三相電(dian)源，地(di)線(xian)，零線(xian)。建筑工地(di)施工用電(dian)配(pei)(pei)電(dian)柜，是(shi)專門針對工程(cheng)施工現場情況(kuang)比較特殊而設計(ji)，符合建設部門有(you)關施工用電(dian)規范標準；二級配(pei)(pei)電(dian)：從(cong)一(yi)級配(pei)(pei)電(dian)箱(xiang)電(dian)源線(xian)至用電(dian)點附近。一(yi)般負(fu)責一(yi) 。
膜(mo)結(jie)構(gou)是(shi)一種先進的(de)(de)建筑結(jie)構(gou)形(xing)式(shi)，利用強(qiang)度、輕(qing)質(zhi)(zhi)、透光性(xing)好的(de)(de)膜(mo)材料和支撐結(jie)構(gou)，創造出寬(kuan)敞、美觀、實用的(de)(de)建筑空(kong)間。膜(mo)結(jie)構(gou)車棚是(shi)膜(mo)結(jie)構(gou)應用的(de)(de)一種形(xing)式(shi)，具有(you)輕(qing)質(zhi)(zhi)強(qiang)、大跨(kua)度、透光性(xing)好、耐候性(xing)強(qiang)、自潔性(xing)、經(jing)濟性(xing)和 。
煅燒氧化鋁微粉、高溫煅燒氧化鋁粉體直徑比原始氫氧化鋁微粉粒徑大，每(mei)個顆粒周圍可接觸到(dao)的顆粒數目減(jian)少，故其粘附性(xing)，凝聚性(xing)與相互磨擦(ca)力大為減(jian)弱，可以降低(di)其原晶大小來(lai)控制流(liu)動性(xing)。從(cong)而改善(shan)與提高顆粒料的流(liu)動性(xing) 。
深(shen)度學(xue)習(xi)(xi)帶給企業(ye)優化運營流程，提高生(sheng)產(chan)效(xiao)率。在供應鏈管理、生(sheng)產(chan)調(diao)度和(he)設備維護等多個領域，深(shen)度學(xue)習(xi)(xi)都可(ke)(ke)以為(wei)企業(ye)提供強大(da)的(de)優化工具。例(li)如，通過對生(sheng)產(chan)數據(ju)的(de)分析，深(shen)度學(xue)習(xi)(xi)可(ke)(ke)以預(yu)測設備的(de)故(gu)障(zhang)和(he)維護需求(qiu)，從(cong)而減(jian) 。
廣東安(an)穩檢測(ce)(ce)技術(shu)有限公司成立于2022年08月，注(zhu)冊地位于廣東省(sheng)惠州市惠陽區秋長街道長發村南住宅小(xiao)區A1號1-3樓，注(zhu)冊資金500萬(wan)元人民幣。是一家專注(zhu)于房屋檢測(ce)(ce)民用房屋和工業廠房可(ke)靠性評估(gu)，結構監測(ce)(ce) 。
在建(jian)筑行(xing)業(ye)中(zhong)，防水(shui)涂(tu)料(liao)扮演著不可或缺的(de)(de)角色。它是(shi)一種特殊類型(xing)的(de)(de)涂(tu)料(liao)，主要用(yong)于(yu)保護建(jian)筑物免(mian)受水(shui)分的(de)(de)滲(shen)透和(he)(he)侵蝕(shi)。防水(shui)涂(tu)料(liao)在家庭、商業(ye)和(he)(he)工業(ye)建(jian)筑中(zhong)都有廣泛(fan)的(de)(de)應(ying)用(yong)，對于(yu)維護建(jian)筑物的(de)(de)完好狀態(tai)和(he)(he)持久性具有至關重要 。
確(que)保公專(zhuan)網融合巡(xun)更(geng)廣播(bo)系統的可靠性(xing)和(he)穩定性(xing)需(xu)要從(cong)多個方面進(jin)行考(kao)慮(lv)和(he)實施(shi)(shi)。以下是(shi)一些常見的措施(shi)(shi)和(he)建議：選(xuan)(xuan)用高質(zhi)量(liang)的設(she)備(bei)(bei)和(he)組(zu)件(jian)：選(xuan)(xuan)用高質(zhi)量(liang)的設(she)備(bei)(bei)和(he)組(zu)件(jian)是(shi)保證(zheng)系統可靠性(xing)和(he)穩定性(xing)的基礎。在選(xuan)(xuan)擇設(she)備(bei)(bei)和(he)組(zu)件(jian)時，應 。
空(kong)壓機熱回收技術空(kong)壓機在(zai)連續運行時，會出現(xian)壓縮(suo)機及機油的溫度升(sheng)高(gao)現(xian)象，在(zai)空(kong)壓機系統中，機油有著清潔、密封、防誘、潤滑、緩沖及冷卻的特(te)點，這也(ye)使得機油溫度在(zai)到達一定程(cheng)度后，主體的工作(zuo)溫度便會在(zai)風機的作(zuo)用 。
不管您是小白(bai)還是想轉行開店(dian)的人(ren)員都可以加入，無門檻要(yao)求，總部368度各個方面的扶持，選址布局、培訓(xun)、設備、總部賦(fu)能，讓你全程無憂，我們(men)還會給到加盟商開店(dian)支持，幫助選址、幫助門店(dian)裝修設計、進行培訓(xun)、到店(dian) 。
在橫豎(shu)管的排(pai)列上充(chong)份考慮到(dao)了各(ge)部(bu)位的受力情況，采(cai)用不同(tong)的間(jian)距排(pai)列以達到(dao)比較大承受力。散裝容(rong)器底(di)板采(cai)用熱鍍鋅深沖(chong)板ST12）壓制(zhi)(zhi)焊接成型，在形狀的設計(ji)上充(chong)分考慮到(dao)承重能力而壓制(zhi)(zhi)了多(duo)條加強筋。外框底(di)板之間(jian) 。